微粉粒度检测系统技术方案

技术编号:9556044 阅读:145 留言:0更新日期:2014-01-09 20:58
本实用新型专利技术公开了一种微粉粒度检测系统,解决了为粒度分析计数仪的正常工作提供稳定电压,并且不会产生影响粒度分析计数仪测量结果的外部电磁干扰的技术问题。它包括电源、稳压器、粒度分析计数仪、计算机,其中电源与稳压器的输入端连接,稳压器的输出端分别与粒度分析计数仪和计算机连接,计算机与粒度分析计数仪的控制端口相连接,粒度分析计数仪接地。本实用新型专利技术微粉粒度检测系统能够为粒度分析计数仪的正常工作提供稳定电压,使粒度分析计数仪稳定、正常工作,避免因电压不稳定或外界电磁干扰造成粒度分析计数仪测量结果出现较大误差,保证微粉粒度检测结果的准确性。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种微粉粒度检测系统,解决了为粒度分析计数仪的正常工作提供稳定电压,并且不会产生影响粒度分析计数仪测量结果的外部电磁干扰的技术问题。它包括电源、稳压器、粒度分析计数仪、计算机,其中电源与稳压器的输入端连接,稳压器的输出端分别与粒度分析计数仪和计算机连接,计算机与粒度分析计数仪的控制端口相连接,粒度分析计数仪接地。本技术微粉粒度检测系统能够为粒度分析计数仪的正常工作提供稳定电压,使粒度分析计数仪稳定、正常工作,避免因电压不稳定或外界电磁干扰造成粒度分析计数仪测量结果出现较大误差,保证微粉粒度检测结果的准确性。【专利说明】微粉粒度检测系统
本技术涉及一种粒度检测系统,具体涉及一种微粉粒度检测系统。
技术介绍
目前对于微粉粒度的检测常会用到电阻法,采用电阻法颗粒计数器原理的粒度分析计数仪在检测微粉粒度过程中具有分辨率高、测量速度快的优点。但是,在实际使用中必须保证外接电源供应与粒度分析计数仪电力要求的电压和频率一致,如果供应的电源中含有高次谐波或者电压过高、过低不稳定时,就会造成粒度分析计数仪中脉冲不稳定现象,同时还会对搅拌电机的转速等造成影响,进而使检测结本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微粉粒度检测系统,包括电源、稳压器、粒度分析计数仪、计算机,其特征在于:所述电源与所述稳压器的输入端连接,所述稳压器的输出端分别与所述粒度分析计数仪和所述计算机连接;所述计算机与所述粒度分析计数仪的控制端口相连接;所述粒度分析计数仪接地。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:张海峰朱明杰党娟翟路鹏
申请(专利权)人:开封万盛新材料有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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