一种功率陶瓷外壳和功率芯片封装结构制造技术

技术编号:9508304 阅读:190 留言:0更新日期:2013-12-26 22:54
本实用新型专利技术公开了一种功率陶瓷外壳和功率芯片封装结构,所述功率陶瓷外壳包括外壳键合区、位于所述外壳键合区表面的焊接层、位于所述焊接层表面的铜铝复合过渡片,其中所述铜铝复合过渡片包括铜层和铝层,且所述铜层位于所述焊接层和所述铝层之间。在利用本实用新型专利技术提供的功率陶瓷外壳对功率半导体芯片进行封装时构成的功率芯片封装结构中,连接功率陶瓷外壳与功率半导体芯片的铝丝会与铜铝复合过渡片的铝层接触,形成可靠的铝铝键合系统,改进了功率半导体芯片的封装质量,提高了封装完成的功率陶瓷器件的长期工作的可靠性。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种功率陶瓷外壳,其特征在于,包括外壳键合区、位于所述外壳键合区表面的焊接层、位于所述焊接层表面的铜铝复合过渡片,其中所述铜铝复合过渡片包括铜层和铝层,且所述铜层位于所述焊接层和所述铝层之间。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:许艳军李秀灵
申请(专利权)人:北京新雷能科技股份有限公司深圳市雷能混合集成电路有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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