一种摄像机中PI位置校正方法及系统技术方案

本发明专利技术提供一种摄像机中PI位置校正方法及系统，仅需选择两个特征点即可完成PI位置偏移值的确定，快速简便并且具有鲁棒性，运算量小，且该方法可以实现全自动化的PI校正，减少了人工干预和干扰，极大的提高了速度和效率。并且所述获取PI位置偏差值的步骤中，所述第一位置为所述跟踪曲线中纵坐标取值最大的区间的中心位置。所述获取PI位置偏差值的步骤中，所述第二位置为所述跟踪曲线中横坐标取值最大的位置。纵坐标取值最大和横坐标取值最大是在跟踪曲线上具有最明显特征的点，选择这两个点作为特征点方法更为简便，更容易定位准确，具有更高的效率和准确度。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种摄像机中PI位置校正方法，其特征在于，包括如下步骤：设定跟踪曲线，选择物距为D时对应的跟踪曲线作为基础，所述跟踪曲线的横坐标表示变焦镜片组（102）的位置值，纵坐标表示聚焦镜片组（103）的位置值；配置校正环境，在与所述摄像机距离为D的位置处垂直于摄像机光轴设置清晰度卡；获取PI位置偏差值：移动所述变焦镜片组（102）至第一位置，所述第一位置在所述跟踪曲线中的纵坐标为第一特征点的理论值Y11；移动所述聚焦镜片组（103）至使图像清晰度最高的位置处，该位置在所述跟踪曲线中的纵坐标为第一特征点的实际值Y12；所述第一特征点的理论值Y11与所述第一特征点的实际值Y12的偏差为聚焦镜片组（103）的PI位置偏差值△Y；移动所述聚焦镜片组（103）至第二位置后将其固定，所述第二位置在所述跟踪曲线中的横坐标为第二特征点的理论值X21；移动所述变焦镜片组（102）至使图像清晰度最高的位置处，该位置在所述跟踪曲线中的横坐标为第二特征点的实际值X22；所述第二特征点的理论值X21与所述第二特征点的实际值X22的偏差为变焦镜片组（102）的PI位置偏差值△X。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：汤峰峰，曹李军，陈卫东，
申请(专利权)人：苏州科达科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：