红外摄像装置的死点校正方法、系统及校正系统制造方法及图纸

技术编号:12976207 阅读:102 留言:0更新日期:2016-03-03 23:59
本发明专利技术提供一种红外摄像装置的死点校正方法、系统及校正系统。其中,所述方法包括:获取预设时长内,所述黑体提供的对应多个温度测试点的温度采样值、以及所述红外摄像装置提供的对应同一温度测试点的至少一帧图像数据;基于各温度测试点的温度采样值、和/或对应各温度测试点的各帧图像数据的噪声,确定是否重新获取相应温度测试点的温度采样值及各帧图像数据;当确定为否时,基于所述红外摄像装置中各像素点的温度测试点-像素点的响应均匀性,来确定各像素点是否为死点;采用插值的方式,利用确定为死点周围的像素点的像素值对相应的死点进行校正。本发明专利技术能够有效提高了死点校正的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及红外摄像装置的校正领域,尤其涉及一种红外摄像装置的死点校正方法、系统及校正系统
技术介绍
相比可见光,红外由于具有较强的穿透及热效应,于近年来被广泛应用于夜视、视频监控以及工业检测等多个领域。常被用于红外相机中的感光元件为红外焦平面器件。由于该器件及读出电路结构的限制导致获得的原始图像存在死点、并且会有响应不均匀的问题。为了要获得均匀、清晰的红外图像以及准确的被观测物体温度信息,红外焦平面器件必须要进行死点校正。现有红外相机或测温设备的死点校正主要采用人工方式,即人工进行参数的配置以及状态的判断。因此,其存在耗时长、开销大、测试覆盖率低且容易漏测、误测并无法及时识别异常数据并补测等较多问题。造成大规模、多批次的测试成为一件耗时、耗力的工作。因此,需要对现有技术进行改进。
技术实现思路
本专利技术提供一种红外摄像装置的死点校正方法、系统及校正系统,用于解决现有技术中校正过程效率低、准确性差的问题。基于上述目的,本专利技术提供一种红外摄像装置的死点校正方法,用于包含黑体、红外摄像装置和校正装置所构成的系统,所述方法包括:获取预设时长内,所述黑体提供的对应多个温度测试点的温度采样值、以及所述红外摄像装置提供的对应同一温度测试点的至少一帧图像数据;基于各温度测试点的温度采样值、和/或对应各温度测试点的各帧图像数据的噪声,确定是否重新获取相应温度测试点的温度采样值及各帧图像数据;当确定为否时,基于所述红外摄像装置中各像素点的温度测试点-像素点的响应均匀性,来确定各像素点是否为死点;采用插值的方式,利用确定为死点周围的像素点的像素值对相应的死点进行校正。优选地,所述基于各温度测试点的温度采样值,确定是否重新获取相应温度测试点的温度采样值及多帧图像数据的方式包括:统计同一温度测试点的多个温度采样值的温度波动情况,当所统计的温度波动情况在预设的温度容限内,则确定无需重新获取相应温度测试点的温度采样值及多帧图像数据。优选地,所述基于对应各温度测试点的各帧图像数据的噪声,确定是否重新获取相应温度测试点的温度采样值及多帧图像数据的方式包括:计算对应同一温度测试点的每帧图像数据的噪声,并判断所得到的噪声的平方是否小于预设的噪声门限的平方与预设的红外摄像装置的系统噪声的平方之和;若是,则将满足噪声条件的各噪声所对应的图像数据予以保留;若否,则确定重新获取相应温度测试点的温度采样值及多帧图像数据。优选地,所述基于红外摄像装置中各像素点的温度测试点-像素点的响应均匀性,来确定各像素点是否为死点的方式包括:基于不同温度测试点的同一像素点的像素点信息,计算温度测试点-像素点的响应曲线的斜率;对各像素点所对应的斜率进行统计,并基于统计结果确定斜率范围之外的斜率所对应的像素点为死点。基于上述目的,本专利技术还提供一种红外摄像装置的死点校正系统,用于包含黑体、红外摄像装置和校正装置所构成的系统,所述死点校正系统包括:通信模块,用于获取预设时长内,所述黑体提供的对应多个温度测试点的温度采样值、以及所述红外摄像装置提供的对应同一温度测试点的至少一帧图像数据;判断模块,用于基于各温度测试点的温度采样值、和/或对应各温度测试点的各帧图像数据的噪声,确定是否重新获取相应温度测试点的温度采样值及各帧图像数据;当确定为否时,执行死点确定模块;所述死点确定模块,用于基于所述红外摄像装置中各像素点的温度测试点-像素点的响应均匀性,来确定各像素点是否为死点;校正模块,用于采用插值的方式,利用确定为死点周围的像素点的像素值对相应的死点进行校正。优选地,所述判断模块包括:温度判断子模块,用于统计同一温度测试点的多个温度采样值的温度波动情况,当所统计的温度波动情况在预设的温度容限内,则确定无需重新获取相应温度测试点的温度采样值及多帧图像数据。优选地,所述判断模块包括:噪声判断子模块,用于计算对应同一温度测试点的每帧图像数据的噪声,并判断所得到的噪声的平方是否小于预设的噪声门限的平方与预设的红外摄像装置的系统噪声的平方之和;若是,则将满足噪声条件的各噪声所对应的图像数据予以保留;若否,则确定重新获取相应温度测试点的温度采样值及多帧图像数据。优选地,所述死点确定模块用于基于不同温度测试点的同一像素点的像素点信息,计算温度测试点-像素点的响应曲线的斜率;对各像素点所对应的斜率进行统计,并基于统计结果确定斜率范围之外的斜率所对应的像素点为死点。基于上述目的,本专利技术还提供一种校正系统,包括:温度可调的黑体;与所述黑体间相距一空间间隔的红外摄像装置;其中,所述空间间隔满足所述红外摄像装置摄取到的全部图像数据为所述黑体中温度源的部分;与所述黑体和红外摄像装置均连接、且包含如上任一所述的死点校正系统的校正装置。优选地,所述校正装置中还包含:控制模块,用于向所述黑体发送包含温度测试点的指令,并获取所述黑体所提供的响应时长;与所述控制模块相连的定时模块,用于按照所述控制模块所提供的响应时长进行定时,并在定时结束时,向所述死点校正系统中的通信模块输出获取指令。优选地,还包括:容纳所述黑体和红外摄像装置的恒温容器。优选地,所述黑体通过RS232接口与所述校正装置相连。优选地,所述红外摄像装置通过USB接口与所述校正装置相连。如上所述,本专利技术的红外摄像装置的死点校正方法、系统及校正系统,具有以下有益效果:通过对各温度测试点的温度采样值、和/或对应各温度测试点的各帧图像数据的噪声的分析,确定用于标定死点的各图像数据,能够有效提高了死点校正的准确性;同时,利用温度测试点-像素点的线性响应关系,快速识别并校正红外摄像装置中的死点,有效提高了校正效率;另外,通过检测黑体温度是否稳定、和/或检测图像数据的噪声是否稳定,来确定所获取的图像数据能否用于标定死点,能够确保黑体和红外摄像装置都处于对应同一温度测定点的稳定状态,有效防止了黑体温度不稳定、和红外摄像装置的焦距不准所导致的校正偏差过大的情况。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案,下面将对本专利技术实施例描述中所需要使用的附图作简单的介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据本专利技术实施例的内容和这些附图获得其他的附图。图1是本专利技术的红外摄像装置的死点校正方法的一个实施例的方法流程图。图2是本专利技术的校正系统的一个实施例的结构方框图。图3本文档来自技高网...
红外摄像装置的死点校正方法、系统及校正系统

【技术保护点】
一种红外摄像装置的死点校正方法,用于包含黑体、红外摄像装置和校正装置所构成的系统,其特征在于,包括:获取预设时长内,所述黑体提供的对应多个温度测试点的温度采样值、以及所述红外摄像装置提供的对应同一温度测试点的至少一帧图像数据;基于各温度测试点的温度采样值、和/或对应各温度测试点的各帧图像数据的噪声,确定是否重新获取相应温度测试点的温度采样值及各帧图像数据;当确定为否时,基于所述红外摄像装置中各像素点的温度测试点‑像素点的响应均匀性,来确定各像素点是否为死点;采用插值的方式,利用确定为死点周围的像素点的像素值对相应的死点进行校正。

【技术特征摘要】
1.一种红外摄像装置的死点校正方法,用于包含黑体、红外摄像装置和校正
装置所构成的系统,其特征在于,包括:
获取预设时长内,所述黑体提供的对应多个温度测试点的温度采样值、以
及所述红外摄像装置提供的对应同一温度测试点的至少一帧图像数据;
基于各温度测试点的温度采样值、和/或对应各温度测试点的各帧图像数据
的噪声,确定是否重新获取相应温度测试点的温度采样值及各帧图像数据;
当确定为否时,基于所述红外摄像装置中各像素点的温度测试点-像素点的
响应均匀性,来确定各像素点是否为死点;
采用插值的方式,利用确定为死点周围的像素点的像素值对相应的死点进
行校正。
2.根据权利要求1所述的红外摄像装置的死点校正方法,其特征在于,所述
基于各温度测试点的温度采样值,确定是否重新获取相应温度测试点的温度采
样值及多帧图像数据的方式包括:
统计同一温度测试点的多个温度采样值的温度波动情况,当所统计的温度
波动情况在预设的温度容限内,则确定无需重新获取相应温度测试点的温度采
样值及多帧图像数据。
3.根据权利要求1所述的红外摄像装置的死点校正方法,其特征在于,所述
基于对应各温度测试点的各帧图像数据的噪声,确定是否重新获取相应温度测
试点的温度采样值及多帧图像数据的方式包括:
计算对应同一温度测试点的每帧图像数据的噪声,并判断所得到的噪声的
平方是否小于预设的噪声门限的平方与预设的红外摄像装置的系统噪声的平方
之和;
若是,则将满足噪声条件的各噪声所对应的图像数据予以保留;
若否,则确定重新获取相应温度测试点的温度采样值及多帧图像数据。
4.根据权利要求1所述的红外摄像装置的死点校正方法,其特征在于,所述
基于红外摄像装置中各像素点的温度测试点-像素点的响应均匀性,来确定各像
素点是否为死点的方式包括:
基于不同温度测试点的同一像素点的像素点信息,计算温度测试点-像素点
的响应曲线的斜率;
对各像素点所对应的斜率进行统计,并基于统计结果确定斜率范围之外的
斜率所对应的像素点为死点。
5.一种红外摄像装置的死点校正系统,用于包含黑体、红外摄像装置和校正
装置所构成的系统,其特征在于,所述死点校正系统包括:
通信模块,用于获取预设时长内,所述黑体提供的对应多个温度测试点的
温度采样值、以及所述红外摄像装置提供的对应同一温度测试点...

【专利技术属性】
技术研发人员:江浩张晨迪
申请(专利权)人:上海兴芯微电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:上海;31

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1