内嵌栅接地NMOS触发的可控硅瞬态电压抑制器制造技术

技术编号:9479217 阅读:171 留言:0更新日期:2013-12-19 06:55
本实用新型专利技术公开了一种内嵌栅接地NMOS触发的可控硅瞬态电压抑制器,包括P型衬底,所述P型衬底上沿横向设置有N阱,在所述N阱和P型衬底上未设N阱的区域中,沿横向依次设有第一N+注入区、第一P+注入区、第三N+注入区、多晶硅栅、第二N+注入区和第二P+注入区;所述第一N+注入区和第一P+注入区设置在N阱上,所述第三N+注入区的两端分别跨设在N阱和P型衬底未设N阱的区域上,所述多晶硅栅、第二N+注入区和第二P+注入区设置在P型衬底上未设N阱的区域;所述多晶硅栅、第二N+注入区和第三N+注入区在P型衬底上构成NMOS结构;所述第一N+注入区、第一P+注入区和第三N+注入区均接入电学阳极,所述多晶硅栅、第二N+注入区和第二P+注入区均接入电学阴极。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种内嵌栅接地NMOS触发的可控硅瞬态电压抑制器,包括P型衬底,所述P型衬底上沿横向设置有N阱,其特征在于:在所述N阱和P型衬底上未设N阱的区域中,沿横向依次设有第一N+注入区、第一P+注入区、第三N+注入区、多晶硅栅、第二N+注入区和第二P+注入区;其中,所述第一N+注入区和第一P+注入区设置在N阱上,所述第三N+注入区的两端分别跨设在N阱和P型衬底未设N阱的区域上,所述多晶硅栅、第二N+注入区和第二P+注入区设置在P型衬底上未设N阱的区域;所述多晶硅栅、第二N+注入区和第三N+注入区在P型衬底上构成NMOS结构;所述第一N+注入区、第一P+注入区和第三N+注入区均接入电学阳极,所述多晶硅栅...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:董树荣钟雷曾杰郭维
申请(专利权)人:江苏艾伦摩尔微电子科技有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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