本实用新型专利技术涉及可控硅技术领域，公开了一种适用于可控硅导通性检测的连接装置，包括：接线底座、第一双极开关、第二双极开关及电源；接线底座的第一正极与第一待测可控硅的控制极连接，接线底座的第一负极与第一待测可控硅的控制极连接；接线底座的第二正极与第二待测可控硅的控制极连接，接线底座的第二负极与第二待测可控硅的控制极连接；接线底座的第一正极与第一双极开关的接线端连接，接线底座的第二正极与第一双极开关的接线端连接，接线底座的第一负极与第二双极开关的接线端连接，接线底座的第二负极与第二双极开关的接线端连接；第一双极开关的第三接线端和第二双极开关的第三接线端通过电源连接。本实用新型专利技术操作简单、人为误差小。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术涉及可控硅
，公开了一种适用于可控硅导通性检测的连接装置，包括：接线底座、第一双极开关、第二双极开关及电源；接线底座的第一正极与第一待测可控硅的控制极连接，接线底座的第一负极与第一待测可控硅的控制极连接；接线底座的第二正极与第二待测可控硅的控制极连接，接线底座的第二负极与第二待测可控硅的控制极连接；接线底座的第一正极与第一双极开关的接线端连接，接线底座的第二正极与第一双极开关的接线端连接，接线底座的第一负极与第二双极开关的接线端连接，接线底座的第二负极与第二双极开关的接线端连接；第一双极开关的第三接线端和第二双极开关的第三接线端通过电源连接。本技术操作简单、人为误差小。【专利说明】—种适用于可控硅导通性检测的连接装置
本技术涉及可控硅
，主要适用于可控硅导通性检测的连接装置。
技术介绍
目前，常用的检测可控硅导通性的方法的电路原理图如图1所示，将机械万用表拔在直流10mA档，用两节1.5V干电池串联提供电源，电阻起限流作用，防止电路导通时电流过大而烧坏万用表。连接好电路后，开关K’处于断开位置，此时表针应没有偏转，指示为零，表明可控硅没有导通；如果有指示，表明可控硅已被击穿或性能变差。然后合上K’，如果表针有明显的偏转，说明可控硅是好的，如果无偏转，可控硅可能是坏的，可再加一节干电池再试。可控硅导通后，再断开开关K’，如果指针指示在原来的位置不动，表明可控硅仍维持导通，性能良好；如果指针回到零位，说明可控硅恢复阻断，可控硅被损坏。而可控硅在直流回路中有3组，根据可控硅在可控整流中的导通顺序可知，在一组可控硅中的两个二极管永远不能同时导通，如果使用现有的方法判断可控硅的导通性，步骤非常繁琐、难以操作，且人为误差大。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是提供一种适用于可控硅导通性检测的连接装置，它具有操作简单、人为误差小的特点。 为解决上述技术问题，本技术提供了一种适用于可控硅导通性检测的连接装置，包括:接线底座、第一双极开关、第二双极开关及电源；所述接线底座的第一正极与第一待测可控硅的第一控制极连接，所述接线底座的第一负极与所述第一待测可控硅的第二控制极连接；所述接线底座的第二正极与第二待测可控硅的第一控制极连接，所述接线底座的第二负极与所述第二待测可控硅的第二控制极连接；所述接线底座的第一正极与所述第一双极开关的第一接线端连接，所述接线底座的第二正极与所述第一双极开关的第二接线端连接，所述接线底座的第一负极与所述第二双极开关的第一接线端连接，所述接线底座的第二负极与所述第二双极开关的第二接线端连接；所述第一双极开关的第三接线端和所述第二双极开关的第三接线端通过所述电源的正负极连接。 进一步地，还包括:第一指示灯；所述第一指示灯的第一接线端设置在所述接线底座的第一正极和所述第一双极开关的第一接线端的连接通路上；所述第一指示灯的第二接线端设置在所述接线底座的第一负极和所述第二双极开关的第一接线端的连接通路上。 进一步地，还包括:第二指示灯；所述第二指示灯的第一接线端设置在所述接线底座的第二正极和所述第一双极开关的第二接线端的连接通路上；所述第二指示灯的第二接线端设置在所述接线底座的第二负极和所述第二双极开关的第二接线端的连接通路上。 进一步地，还包括:第三双极开关和接线夹具；所述第三双极开关的第一接线端与所述电源连接，所述第三双极开关的第二接线端与所述接线夹具的第一接线端连接；所述接线夹具的第二接线端与所述电源连接。 本技术的有益效果在于: 本技术提供的适用于可控硅导通性检测的连接装置，在使用时，只需对第一双极开关和第二双极开关进行导通和闭合的操作，使两个待测可控硅不同时导通，再通过机械万用表对待测可控硅的导通性进行检测即可，操作简单，且人为误差小，提高了可控硅导通性检测的准确性。 【专利附图】【附图说明】 图1为通过现有方法对可控硅导通性进行检测的电路连接图； 图2为本技术实施例提供的适用于可控硅导通性检测的连接装置的电路连接图； 图3为可控硅的结构示意图。 其中，Jl-接线底座，Kl-第一双极开关，K2-第二双极开关，K3-第三双极开关，Dl-第一指示灯，D2-第二指示灯，J2-接线夹具。 【具体实施方式】 为进一步阐述本技术为达成预定技术目的所采取的技术手段及功效，以下结合附图及较佳实施例，对依据本技术提出的适用于可控硅导通性检测的连接装置的【具体实施方式】及工作原理进行详细说明。 参见图2，本技术实施例提供的适用于可控硅导通性检测的连接装置，包括:接线底座J1、第一双极开关K1、第二双极开关K2及电源；接线底座Jl的第一正极与第一待测可控硅的第一控制极连接，接线底座Jl的第一负极与第一待测可控硅的第二控制极连接；接线底座Jl的第二正极与第二待测可控硅的第一控制极连接，接线底座Jl的第二负极与第二待测可控硅的第二控制极连接；接线底座Jl的第一正极与第一双极开关Kl的第一接线端连接，接线底座Jl的第二正极与第一双极开关Kl的第二接线端连接，接线底座Jl的第一负极与第二双极开关K2的第一接线端连接，接线底座Jl的第二负极与第二双极开关K2的第二接线端连接；第一双极开关Kl的第三接线端和第二双极开关K2的第三接线端通过电源的正负极连接。其中，接线底座Jl为8针底座；电源为9V电源。 对本技术实施例的结构进行更具体的说明，本技术实施例还包括:第一指示灯Dl和第二指示灯D2 ;第一指示灯Dl的第一接线端设置在接线底座Jl的第一正极和第一双极开关Kl的第一接线端的连接通路上；第一指示灯Dl的第二接线端设置在接线底座Jl的第一负极和第二双极开关K2的第一接线端的连接通路上。第二指示灯D2的第一接线端设置在接线底座Jl的第二正极和第一双极开关Kl的第二接线端的连接通路上；第二指示灯D2的第二接线端设置在接线底座Jl的第二负极和第二双极开关K2的第二接线端的连接通路上。其中，第一指示灯Dl和第二指示灯D2为9V的发光二极管。 为了提高本技术实施例的适用性，本技术实施例还包括:第三双极开关K3和接线夹具J2 ;第三双极开关K3的第一接线端与电源连接，第三双极开关K3的第二接线端与接线夹具J2的第一接线端连接；接线夹具J2的第二接线端与电源连接。接线夹具J2与待测可控硅的控制极连接。其中，接线夹具J2为2针夹具。 参见图3，通过本技术实施例检测一组EUPEC TTS00NI6K0F可控硅的导通性，先将第一待测可控硅的第一控制极4K1和第二控制极5G1端子分别插入接线底座J1，各自分别与接线底座Jl的第一正极和第一负极连接。将第一双极开关Kl的第一接线端与第三接线端闭合，将第二双极开关K2的第一接线端与第三接线端闭合；再将万用表拨到二极管档，用黑表笔连可控硅上的3A端子(阳极)，用红表笔连接可控硅上的IAK端子(交流进线端)，这时万用表上的蜂鸣器会报警，说明这个可控硅反向导通了(如果不导通，说明这个可控硅出现故障，不能使用)。接着将第一双极开关Kl的第一接线端与第三接线端断开，万用表上的蜂鸣器立刻停止声音报警。然后再将第一双极开关Kl本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种适用于可控硅导通性检测的连接装置，其特征在于，包括：接线底座、第一双极开关、第二双极开关及电源；所述接线底座的第一正极与第一待测可控硅的第一控制极连接，所述接线底座的第一负极与所述第一待测可控硅的第二控制极连接；所述接线底座的第二正极与第二待测可控硅的第一控制极连接，所述接线底座的第二负极与所述第二待测可控硅的第二控制极连接；所述接线底座的第一正极与所述第一双极开关的第一接线端连接，所述接线底座的第二正极与所述第一双极开关的第二接线端连接，所述接线底座的第一负极与所述第二双极开关的第一接线端连接，所述接线底座的第二负极与所述第二双极开关的第二接线端连接；所述第一双极开关的第三接线端和所述第二双极开关的第三接线端通过所述电源的正负极连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：方国泽，周佑全，闵军，陈楚风，明卫东，徐春燕，宋斌，
申请(专利权)人：武汉钢铁集团公司，
类型：新型
国别省市：湖北;42
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