测试系统、测试方法以及使用该测试系统的测试设备技术方案

一种控制测试设备测试电路板的测试系统。该测试设备包括设置在电路板上方的至少一对探针及设有多个测试仪表的测试仪表组。该测试系统包括激发与测试对象及测试项目对应的测试指令的指令激发模块、关联匹配电路板的电路原理图与电路布线图以确定待测电路接点相对于探针的位置关系的电路关联模块、将与测试项目对应的测试仪表与探针连接的仪表选择模块、将探针的间距调节至与待测电路接点的间距一致的探针调节模块、将待测电路接点与探针对准的位置调节模块及提供测试环境并控制探针与待测电路接点接触进行测试测试控制模块。本发明专利技术还提供一种测试方法及使用该测试系统的测试设备。

【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】一种控制测试设备测试电路板的测试系统。该测试设备包括设置在电路板上方的至少一对探针及设有多个测试仪表的测试仪表组。该测试系统包括激发与测试对象及测试项目对应的测试指令的指令激发模块、关联匹配电路板的电路原理图与电路布线图以确定待测电路接点相对于探针的位置关系的电路关联模块、将与测试项目对应的测试仪表与探针连接的仪表选择模块、将探针的间距调节至与待测电路接点的间距一致的探针调节模块、将待测电路接点与探针对准的位置调节模块及提供测试环境并控制探针与待测电路接点接触进行测试测试控制模块。本专利技术还提供一种测试方法及使用该测试系统的测试设备。【专利说明】测试系统、测试方法以及使用该测试系统的测试设备
本专利技术涉及一种测试系统、测试方法及使用该测试系统的测试设备。
技术介绍
现有的电路板测试方法在对电路板的特定电学参数进行测试时通常需要测试者先根据电路原理图在对应的电路布线图上找出该电学参数的测试点，再选择合适的测量仪表对该测试点进行测试。然而，当需要对布线复杂的电路板进行测试时为了找到测试点往往需要在电路原理图与电路布线图上反复查找核对，从而会浪费大量的时间和精力。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种可方便快捷地进行电路测试的测试系统、测试方法及使用该测试系统的测试设备。一种测试系统，应用于测试设备中以控制测试设备对电路板进行测试。所述测试设备包括设置在电路板上方的至少一对探针及设有多个测试仪表的测试仪表组，该测试系统包括: 指令激发模块，用于根据设定的测试对象及测试项目激发对应的测试指令； 电路关联模块，用于将电路板的电路原理图与电路布线图进行关联匹配，以根据测试对象对应的测试指令确定电路板上待测电路接点相对于探针的位置关系； 仪表选择模块，用于根据测试项目对应的测试指令将与测试项目对应的测试仪表与所述探针连接； 探针调节模块，用于将探针的间距调节至与待测电路接点的间距一致； 位置调节模块，用于根据待测电路接点相对于探针的位置关系来调节电路板位置以使得待测电路接点与探针对准；及 测试控制模块，用于根据测试项目对应的测试指令向电路板提供测试环境，并控制探针与待测电路接点接触进行测试。一种测试方法，应用于测试设备中以控制测试设备对电路板进行测试。所述测试设备包括设置在电路板上方的至少一对探针及设有多个测试仪表的测试仪表组，所述测试方法包括如下步骤: 根据设定的测试对象及测试项目激发对应的测试指令。将电路板的电路原理图与电路布线图进行关联匹配，并根据与测试对象相关的测试指令确定电路板上待测电路接点相对于探针的位置关系。根据与测试项目相关的测试指令将与测试项目对应的测试仪表与探针相连接。将探针的间距调节至与待测电路接点的间距保持一致。根据待测电路接点相对于探针的位置关系来调节所述电路板的位置，使得所述待测电路接点与对应的探针对准。根据与测试项目对应的测试指令向电路板提供测试环境，并控制探针与待测电路接点接触进行测试。一种测试设备用于对电路板进行测试，其包括: 测试装置，其包括至少一对间距可调节的探针及设有多个测试仪表的测试仪表组； 上载板，用于安装所述测试装置； 下载板，其设置在所述上载板的下方，用于承载所述电路板； 升降机构，用于调节所述上载板与下载板之间的相对位置 存储器，用于存储电路板的电路原理图及电路布线图； 处理器；及 测试系统，所述测试系统为固化在处理器上的韧体，所述测试系统包括: 指令激发模块，用于根据设定的测试对象及测试项目激发对应的测试指令； 电路关联模块，用于将电路板的电路原理图与电路布线图进行关联匹配，以根据测试对象对应的测试指令确定电路板上待测电路接点相对于探针的位置关系； 仪表选择模块，用于根据测试项目对应的测试指令将与测试项目对应的测试仪表与所述探针连接； 探针调节模块，用于将探针的间距调节至与待测电路接点的间距一致； 位置调节模块，用于根据待测电路接点相对于探针的位置关系来调节电路板位置以使得待测电路接点与探针对准；及 测试控制模块，用于根据测试项目对应的测试指令向电路板提供测试环境，并控制探针与待测电路接点接触进行测试。相较于现有技术，本专利技术提供的测试系统及方法利用计算机自动匹配待测电路板的电路原理图与电路布线图以将电路板上的待测电路接点与测试探针对准，并根据需要测量的电学量选择对应的测试仪表与测试探针连接，从而节省了人工反复查阅电路原理图与电路布线图来确认待测电路接点所浪费的时间，提高了电路板测试的效率。【专利附图】【附图说明】图1是本专利技术测试系统运行环境的硬件架构图。图2是本专利技术测试方法较佳实施方式的流程图。主要元件符号说明【权利要求】1.一种测试系统，应用于测试设备中以控制测试设备对电路板进行测试，所述测试设备包括设置在电路板上方的至少一对探针及设有多个测试仪表的测试仪表组，该测试系统包括: 指令激发模块，用于根据设定的测试对象及测试项目激发对应的测试指令； 电路关联模块，用于将电路板的电路原理图与电路布线图进行关联匹配，以根据测试对象对应的测试指令确定电路板上待测电路接点相对于探针的位置关系； 仪表选择模块，用于根据测试项目对应的测试指令将与测试项目对应的测试仪表与所述探针连接； 探针调节模块，用于将探针的间距调节至与待测电路接点的间距一致； 位置调节模块，用于根据待测电路接点相对于探针的位置关系来调节电路板位置以使得待测电路接点与探针对准；及 测试控制模块，用于根据测试项目对应的测试指令向电路板提供测试环境，并控制探针与待测电路接点接触进行测试。2.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述待测电路接点相对于探针的位置关系根据一参考坐标系来确定，所述参考坐标以其中一探针在电路板上的投影点为原点，以该探针的投影点指向另一探针在电路板上投影点的方向为水平正方向来建立。3.如权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述测试环境包括进行所述测试项目时电路板所需要的电压及电流。4.一种测试方法，应用于测试设备中以控制测试设备对电路板进行测试，所述测试设备包括设置在电路板上方的至少一对探针及设有多个测试仪表的测试仪表组，所述测试方法包括如下步骤: 根据设定的测试对象及测试项目激发对应的测试指令； 将电路板的电路原理图与电路布线图进行关联匹配，并根据与测试对象相关的测试指令确定电路板上待测电路接点相对于探针的位置关系； 根据与测试项目相关的测试指令将与测试项目对应的测试仪表与探针相连接； 将探针的间距调节至与待测电路接点的间距保持一致； 根据待测电路接点相对于探针的位置关系来调节所述电路板的位置，使得所述待测电路接点与对应的探针对准； 根据与测试项目对应的测试指令向电路板提供测试环境，并控制探针与待测电路接点接触进行测试。5.如权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述待测电路接点相对于探针的位置关系根据一参考坐标系来确定，所述参考坐标以其中一探针在电路板上的投影点为原点，以该探针的投影点指向另一探针在电路板上投影点的方向为水平正方向来建立。6.如权利要求4所述的测试方法，其特征在于，所述测试环境包括进行所述测试项目时电路板所需要的电压及电流。7.—种测试设备，用于对电路板进行测试，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试系统，应用于测试设备中以控制测试设备对电路板进行测试，所述测试设备包括设置在电路板上方的至少一对探针及设有多个测试仪表的测试仪表组，该测试系统包括：指令激发模块，用于根据设定的测试对象及测试项目激发对应的测试指令；电路关联模块，用于将电路板的电路原理图与电路布线图进行关联匹配，以根据测试对象对应的测试指令确定电路板上待测电路接点相对于探针的位置关系；仪表选择模块，用于根据测试项目对应的测试指令将与测试项目对应的测试仪表与所述探针连接；探针调节模块，用于将探针的间距调节至与待测电路接点的间距一致；位置调节模块，用于根据待测电路接点相对于探针的位置关系来调节电路板位置以使得待测电路接点与探针对准；及测试控制模块，用于根据测试项目对应的测试指令向电路板提供测试环境，并控制探针与待测电路接点接触进行测试。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：余启隆，
申请(专利权)人：富泰华工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：