绝缘栅双极型晶体管制造技术

技术编号:9347672 阅读:189 留言:0更新日期:2013-11-13 23:39
本公开提供了一种绝缘栅双极型晶体管,包括:发射极;半导体主体,包括:第一基区,具有第一导电类型,源区,具有不同于第一导电类型的第二导电类型,与发射极电接触,并与第一基区形成第一pn-结;至少一个沟槽,其中至少一个沟槽被填充有栅电极,至少一个沟槽具有:第一沟槽部,具有第一宽度;第二沟槽部,具有第二宽度;第二宽度不同于第一宽度;凹槽,形成在半导体主体的表面上且至少部分形成在源区处,发射极的一部分填充凹槽,使得发射极与源区和第一基区接触。通过利用发射极的一部分来填充第一基区中形成的凹槽,根据本公开的绝缘栅双极型晶体管中的寄生晶闸管结构被破坏,从而有效地避免了闩锁效应的发生。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种绝缘栅双极型晶体管(20,30),其特征在于,包括:发射极(29,39);以及半导体主体,其中所述半导体主体包括:第一基区(24,34),具有第一导电类型,源区(25),具有不同于所述第一导电类型的第二导电类型,与所述发射极(29,39)电接触,并与所述第一基区(24,34)形成第一pn?结;至少一个沟槽,其中所述至少一个沟槽被填充有栅电极(26),其中,所述至少一个沟槽具有:第一沟槽部(261),具有第一宽度;以及第二沟槽部(262),具有第二宽度;所述第二宽度不同于所述第一宽度;以及凹槽(G1,G2),形成在所述半导体主体的表面上并且至少部分形成在所述源区(25)处,其中,所述发射极(29,39)的一部分填充所述凹槽(G1,G2),使得所述发射极与所述源区(25)和所述第一基区(24,34)接触。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:弗兰克·普菲尔什汉斯约阿希姆·舒尔茨霍尔格·豪斯肯
申请(专利权)人:英飞凌科技股份有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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