一种在缓冲层上生长氮化镓外延层的方法技术

技术编号:9272280 阅读:157 留言:0更新日期:2013-10-24 21:26
本发明专利技术公开了一种在缓冲层上生长氮化镓外延层的方法,属于半导体技术领域。该方法包括:提供一衬底;在衬底上生长复合缓冲层,该复合缓冲层为多周期结构,每一周期包括AlxGa1-xN层和在该AlxGa1-xN层上生长的InyGa1-yN层,其中0

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种在缓冲层上生长氮化镓外延层的方法,其特征在于,所述方法包括:提供一衬底;在所述衬底上生长复合缓冲层,所述复合缓冲层为多周期结构,每一周期包括AlxGa1?xN层和在所述AlxGa1?xN层上生长的InyGa1?yN层,其中0

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:林明金魏世祯胡加辉
申请(专利权)人:华灿光电股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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