一种不均匀导电材料表面覆盖层厚度的涡流测厚方法技术

本发明专利技术公开了一种不均匀导电材料表面覆盖层厚度的涡流测厚方法，基于扫频涡流检测技术，采用一定范围的连续频率激励有覆盖层的被检不均匀导电材料的一个检测点和无覆盖层的基底标准试块，找到该检测点的最佳测量频率，从而有效的避免了基体电导率的不均匀性对表面覆盖层厚度的测量的影响，有效提高覆盖层厚度测量的精度。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种不均匀导电材料表面覆盖层厚度的涡流测厚方法，其特征在于：包括以下检测步骤，a.?涡流扫频检测传感器连接涡流扫频检测仪，设置涡流扫频检测仪采用频率随时间变化的一定频率范围的连续激励电流激励涡流扫频检测传感器；b.?将涡流扫频检测传感器置于空气中，建立涡流扫频信号平衡点；c.?将涡流扫频检测传感器放置在无覆盖层的基底标准试块上，涡流扫频检测传感器在无覆盖层的基底标准试块上激励产生扫频涡流场，涡流扫频检测仪中显示的无覆盖层的基底标准试块的涡流扫频信号，保存该涡流扫频信号；d.?将涡流扫频检测传感器放置在有覆盖层的被检不均匀导电材料表面上的一个检测点上，涡流扫频检测仪中显示该检测点的涡流扫频信号，涡流扫频检测仪将该检测点的涡流扫频信号中的每一个频率点对应的信号幅值与步骤c中保存的基底标准试块涡流扫频信号中的相同频率点对应的信号幅值进行比较，寻找使得两者信号幅值差异最大时的频率点，该频率点即为该检测点的最佳检测频率；e.?设置涡流扫频检测仪采用步骤d中得到的最佳检测频率的激励电流激励涡流扫频检测传感器，使用多片已知的不同厚度的标准厚度试片依次放在基底标准试块上，测量并保存每个标准厚度试片的涡流信号的幅值，制作幅值?厚度标定曲线；f.?将涡流扫频检测传感器放置在步骤d中的有覆盖层的被检不均匀导电材料表面上的检测点上，测量该检测点的涡流检测信号幅值，涡流扫频检测仪将测量出的幅值与步骤e中制作的幅值?厚度标定曲线进行比较计算，得到该检测点的被检不均匀导电材料表面上的覆盖层的厚度值。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：林俊明，
申请(专利权)人：爱德森厦门电子有限公司，
类型：发明
国别省市：