监视厚度均匀性制造技术

技术编号:15544484 阅读:42 留言:0更新日期:2017-06-05 15:25
监视厚度均匀性。本文描述了用于监视厚度均匀性的设备、方法和系统。一种系统包括发射器,其被配置成在材料正在移动时发射信号通过材料的一部分,衰减器,其被配置成吸收发射信号的第一部分,反射器,其被配置成反射发射信号的第二部分,接收器,其被配置成接收反射信号,以及计算设备,其被配置成基于信号的发射和反射信号的接收之间的时间延迟来确定该部分材料的厚度。

Monitor thickness uniformity

Monitor thickness uniformity. An apparatus, method, and system for monitoring thickness uniformity are described. A system includes a transmitter configured in the material is moved through a signal transmitting part, material attenuator is configured to absorb the emission signal of the first part of the reflector, which is configured into second parts, the reflection signal receiver, which is configured to receive the reflected signal, and computing device it is configured to determine the thickness of the material between the received emission and reflection signal of the time delay based on.

【技术实现步骤摘要】
监视厚度均匀性优先权信息本申请要求2016年9月29日提交的美国非临时申请15/279,862,2015年10月2日提交的美国临时专利申请62/236,227,2015年10月2日提交的美国临时专利申请62/236,237,和2015年10月2日提交的美国临时专利申请62/236,218的优先权,其全部说明书通过引用被结合到本文中。
本公开涉及用于监视厚度均匀性的设备、方法和系统。
技术介绍
在各种上下文(context)中,材料的均匀厚度可能是期望的。这样的上下文可包括例如材料(诸如绝缘物、塑料片、屋顶纸板、非织造过滤材料、基于橡胶的产品(例如,具有嵌入磁性材料的橡胶))的制造和/或连续线生产,和/或除了别的以外,轮胎和/或带(例如,传送带、传动带等)的厚度测量。例如,除了别的以外,传送带被用于工业(例如采矿、发电和农业)中。由于使用和/或事故,传送带可被磨损或撕裂损坏。过度磨损和带撕裂两者能够导致非计划停工。因为许多使用传送带的工业位于远程装置(setting)中,并且因为它们的机械的大尺寸,维修传送带可能花费数小时或数天。另外,获取新的传送带的前置时间(leadtime)可能是过多的(例如,六个月)。由于因为被损坏的带的中断生产而引起的工业损失可能是巨大的。附图说明图1示出了根据本公开的一个或多个实施例的用于监视传送带厚度的系统的截面图。图2示出了根据本公开的一个或多个实施例的用于监视传送带厚度的系统的截面图。图3示出了根据本公开的一个或多个实施例的图1中所示系统的一部分的不同截面图。图4示出了根据本公开的一个或多个实施例的图1中所示系统的一部分的自上而下视图。图5示出了根据本公开的一个或多个实施例的用于监视传送带厚度的系统的透视图。图6示出了根据本公开的一个或多个实施例的用于监视传送带厚度的系统的截面图。图7示出了根据本公开的一个或多个实施例的用于监视传送带厚度的计算设备。具体实施方式本文描述了用于监视传送带厚度的设备、方法和系统。本公开的实施例能够检测传送带上的过度磨损并估计带的剩余寿命(例如,直到故障的时间)。因此,能够在故障之前安排带的维护和/或更换,使得生产过程被最低限度地中断。传送带的典型损坏可包括带中心附近的抛物线形状的磨损、带裙附近的槽形状的磨损、带接合损坏、(多个)带层的分层,和/或带中的(多个)孔。本公开的实施例能够检测这些类型的损坏中的一些,并向维护人员提供提前的通知。本文的实施例能够被安装在现有的传送带系统中而不改变系统的操作。除了传送带以外,本文的实施例能够被应用在其它上下文中,例如,诸如在可能期望监视材料厚度情况下的制造。这样的上下文可以包括例如绝缘物、塑料片、屋顶纸板、非织造过滤材料、基于橡胶的产品(例如具有嵌入磁性材料的橡胶)的连续线生产,和/或轮胎和/或其它带(例如,传动带)的厚度测量。因此,应注意的是虽然本文使用了传送带的示例,但是这样的使用并非旨在是限制性的。在下面的详细说明中,参考形成本文一部分的附图。附图作为例证来示出可以如何实施本公开的一个或多个实施例。这些实施例被足够详细地描述以使得本领域普通技术人员能够实施本公开的一个或多个实施例。应理解的是,可以利用其它实施例并且在不偏离本公开的范围的情况下可以进行过程变化。如将认识到的,可以增加、交换、组合和/或消除本文各种实施例中示出的元件,从而提供本公开的多个另外的实施例。图中提供的元件的比例和相对标度旨在说明本公开的实施例,并且不应以限定的意义来理解。本文的图遵循编号惯例,其中首先的一个或多个数字对应附图编号,并且剩余的数字标识图中的元件或部件。不同的图之间的类似元件或部件可以通过使用相似的数字来标识。图1示出了根据本公开的一个或多个实施例的用于监视传送带厚度的系统100的截面图。如图1中所示,系统100包括发射器(例如,发射天线)102、反射器108、衰减器110,和接收器(例如,接收天线)112。如示出的,发射器102、衰减器110和接收器112可以位于传送带(下文为“带”)106的第一侧,并且反射器108可以位于带106的第二相反侧。发射器102可以例如是发射天线,并且能够被配置成发射脉冲或连续波雷达信号。发射器102不限于特定类型的发射器。在一些实施例中,发射器102可为10GHz发射器,但是本公开的实施例不被如此限制。例如,在一些实施例中,能够使用在2.4至77GHz之间的频率。更高的频率可导致改进的空间和/或厚度分辨率,但是可被较厚材料的衰减限制。发射器102可以相对于带106和/或反射器108被定位在45度角处,但是本公开的实施例不被如此限制。反射器108可以包括反射表面(例如,金属表面和/或细金属网),但是本文的实施例并不将反射器限制到特定类型的反射器。例如,反射器108能够使由发射器102发射的雷达信号聚焦和/或反射。例如,衰减器110可以是被配置成衰减(例如,吸收)雷达信号的设备,并且可以包括泡沫材料,但是本公开的实施例不被如此限制。接收器112可以为接收天线,例如,被配置成接收雷达信号。接收器112并不被限制到特定类型的接收器。如图1中所示,发射器102可以发射雷达信号(下文为“信号”)104。信号能够被指向带106并指向反射器108(例如,通过带106)。在到达反射器108之前,信号104的一部分可以被反射。如示出的,信号104的第一部分104-1能够反射离开带104的表面(例如,顶表面)。信号104的第二部分104-2能够反射离开带106的另一(例如,底)表面。衰减器110可被定位成衰减(例如,阻挡)反射信号104-1和/或104-2,使得它们不被接收器112接收。此外,衰减器110能够衰减发射器102和接收器112之间的直接干扰(例如,非反射干扰)。信号104可以通过带106并反射离开反射器108。此后,信号(被示为反射信号104-3)可以回传通过带106,并且然后被接收器112接收。因此,信号104两次穿过带106:一次在反射之前且一次在反射之后。每次信号104穿过带106,其速度被降低。速度的降低可以与带106的介电常数(例如,电容率)的平方根成比例。另外,信号104可以与带106的厚度的指数函数成比例地被衰减。因此,可以根据与没有穿过带获得的参考信号的时间延迟相比的发射和接收信号104之间的时间延迟来确定带106的厚度。虽然图1中未示出,以便不使本公开的实施例含糊难懂,但是反射器108的一部分能够延伸超过带106的外边缘。可以通过发射信号104到反射器108的延伸超过带106的边缘的部分上并由接收器112接收参考信号来获得参考信号。以类似的方式,可以根据与没有通过带106的参考信号相比的接收的信号的衰减来确定带106的厚度。因为要求在相同距离上但是在没有带的情况下行进的参考RF束以进行校正,所以可以使用被定位成超过传送带106的边缘的另一接收器来执行那个测量(例如,使得传送带106不在其它接收器和发射器102之间)。超过带的边缘,其它天线可能不具有在RF束路径中出现的带106并可以被用于介电常数的校正。应注意的是,带106的样本部分(例如,零料、废料、测试样本等)可以被置于其它天线和发射器102之间,但是在图1中未示出以便不使本公开的实施例含糊难懂。例如本文档来自技高网...
监视厚度均匀性

【技术保护点】
一种用于监视厚度均匀性的系统(100,213,300,400,520,622),包括:发射器(102,202,302,402,502,602),配置成在材料(106,206,306,406,506,606)正在移动时发射信号(104,204,304,404)通过材料(106,206,306,406,506,606)的一部分;衰减器(110,210),其被配置成吸收发射信号(104,204,304,404)的第一部分(104‑1,104‑2,204‑1);反射器(108,208,308,408),其被配置成反射发射信号(104,204,304,404)的第二部分(104‑3,204‑2);接收器(112,212,412,512,612),其被配置成接收反射信号(104‑3,204‑2);和计算设备(724),其被配置成基于信号(104,204,304,404)的发射和反射信号(104‑3,204‑2)的接收之间的时间延迟来确定该部分材料(106,206,306,406,506,606)的厚度。

【技术特征摘要】
2015.10.02 US 62/236227;2015.10.02 US 62/236237;201.一种用于监视厚度均匀性的系统(100,213,300,400,520,622),包括:发射器(102,202,302,402,502,602),配置成在材料(106,206,306,406,506,606)正在移动时发射信号(104,204,304,404)通过材料(106,206,306,406,506,606)的一部分;衰减器(110,210),其被配置成吸收发射信号(104,204,304,404)的第一部分(104-1,104-2,204-1);反射器(108,208,308,408),其被配置成反射发射信号(104,204,304,404)的第二部分(104-3,204-2);接收器(112,212,412,512,612),其被配置成接收反射信号(104-3,204-2);和计算设备(724),其被配置成基于信号(104,204,304,404)的发射和反射信号(104-3,204-2)的接收之间的时间延迟来确定该部分材料(106,206,306,406,506,606)的厚度。2.根据权利要求1的系统(100,213,300,400,520,622),其中材料(106,206,306,406,506,606)是传送带(106,206,306,406,506,606)。3.根据权利要求1的系统(100,213,300,400,520,622),其中发射器(102,202,302,402,502,602)和反射器(108,208,308,408)位于该部分材料(106,206,306,406,506,606)的相反侧。4.根据权利要求1的系统(100,213,300,400,520,622),其中发射器(102,202,302,402,502,602)和反射器(108,208,308,408)位于该部分材料(106,206,306,406,506,606)的相同侧。5.根据权利要求1的系统(100,213,300,400,520,622),其中发射信号(104,204,304,404)的第...

【专利技术属性】
技术研发人员:A·佩查尔斯基F·努塞贝
申请(专利权)人:霍尼韦尔国际公司
类型:发明
国别省市:美国,US

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