用于影响和/或检测磁性颗粒的设备和方法技术

本发明专利技术涉及一种用于工作在磁性颗粒成像模式中以影响和/或检测视场（28）中的磁性颗粒，并工作在磁共振成像模式中的设备（100）和对应的方法，所述设备包括：包括选择场信号生成器单元（110）和选择场线圈（116）的选择装置；包括驱动场信号生成器单元（130）和驱动场线圈（136a，136b，136c）的驱动装置，用于利用磁性驱动场改变视场（28）中两个子区（52，54）的空间位置，使得磁性物质的磁化发生局部改变；以及聚焦装置，其包括聚焦场信号生成器单元（120）和聚焦场线圈单元（126），用于利用磁性聚焦场改变所述视场（28）的空间位置，其中所述聚焦场线圈单元（126）包括至少六个聚焦场线圈（32a-32d，34a-34d；33a-33f），所述至少六个聚焦场线圈被布置成在不同方向上生成磁性聚焦场分量，其中第一组至少三个聚焦场线圈（32a，32c，34a，34c；33a-33c）布置于所述视场（28）的第一侧，第二组至少三个聚焦场线圈（32b，32d，34b，34d；33d-33f）布置于所述视场（28）与所述第一侧相对的第二侧。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：B·格莱希，J·E·拉米尔，
申请(专利权)人：皇家飞利浦电子股份有限公司，
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