【技术实现步骤摘要】
本专利技术属电子材料领域,具体涉及一种。
技术介绍
半导体陶瓷电容器,一般分三大类,即阻挡层型、表面层型和晶粒边界层型。表面层型具有比容大,工艺性好,且较简单,便于量产化等优点,广泛用于通讯、计算机等多种电子产品中。对用于表面层型半导体陶瓷电容器的瓷料而言,应同时满足以下三个条件:(1)瓷料材料本身的ε Γ应尽可能大;(2)瓷料材料的结构应致密,晶粒应细小均匀;(3)瓷料材料应易还原再氧化。已有技术普遍采用高纯原料和传统工艺生产瓷料,普遍存在ε r不高和工艺的不稳定。而且表现出掺杂效果不稳定,形成Ba位置电中性缺位固溶体数量不足。最为突出的是必须采用高纯原料,使成本居高不下。
技术实现思路
本专利技术解决的技术问题:提供一种,采用工业级或电子一级TiO2代替价高的高纯TiO2,采用合成掺杂一步法的新工艺替代传统工艺,实现了瓷料生产成本的大幅度降低,而且瓷料性能完全满足要求。此外,采用多种掺杂稀土元素替代价高的氧化钕稀土元素,使生产成本更进一步降低,而且瓷料性能也有显著的提高。本专利技术的技术解决方案:第一步:掺杂BaTi O3烧块的合成;首先按BaCO3 65-78 ...
【技术保护点】
一种低成本表面层型半导体陶瓷电容器瓷料的制造方法,其特征是:第一步:掺杂BaTi?O3烧块的合成;首先按BaCO3?65?78?Wt%,工业级或电子一级TiO2?20?30?Wt%,La系稀土2?5?Wt%配比原料;然后将配好的原料混合球磨3?4小时,砂磨细化4?5小时后煅烧合成掺杂BaTi?O3烧块,合成温度及保温时间为1240±5℃/2H,再将高温合成的掺杂BaTi?O3烧块粉碎过筛,最后对粉碎过筛后的烧块进行检测;第二步:Tc移动剂烧块的合成;首先按Nd2O3?55?61?Wt%,ZrO2?27?33?Wt%?,SnO2?8?14?Wt%,?MnCO3?1?3?Wt% ...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:陈玉林,
申请(专利权)人:宝鸡秦龙电子科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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