具有除尘防污染装置的静态法比表面及孔径分析仪制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种防抽飞污染的静态法比表面及孔径分析仪，属于检测仪器领域。该分析仪包括：样品管和真空获得系统，还包括：缓冲瓶、进气管和出气管；其中，缓冲瓶的直径大于所述进气管和出气管的直径；缓冲瓶经所述进气管与所述样品管连接；缓冲瓶经所述出气管与所述真空获得系统连接。该分析仪可防止样品被抽飞后污染仪器的内部结构如管路、阀门和真空泵，相对于阻隔式除尘防污染装置如滤膜、滤网，管路通径和流导受影响小，气体流动所受阻力小，进而使抽真空脱气时间缩短、效果提高。（*该技术在2023年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及静态法比表面及孔径分析仪，特别是涉及一种具有除尘防污染装置的静态法比表面及孔径分析仪。
技术介绍
目前，静态法比表面及孔径分析仪在进行分析测试之前，需要对装入样品管的样品进行抽真空脱气处理，除去样品表面吸附的水、二氧化碳等气体杂质。当脱气位抽真空时，样品管中的气体在被抽走过程中或粉体样品上吸附的气体在释放过程中，将粉体样品带起来，随气流一同从样品管流向真空获得系统，形成抽飞现象。一些样品如低松装密度的纳米材料和含水比较多的材料很可能被抽飞，这些被抽飞的粉尘如果进入真空获得系统的管路和阀门，会堵塞管路、造成阀门闭合不严，影响仪器的气密性和测试精度；被抽飞的粉体如果进入真空泵，会污染真空泵用油和阀门，很难清理。因此，必须进行除尘防污染处理。目前的脱气位除尘防污染装置都是阻隔式的，即通过滤网、滤膜等进行阻隔，这些装置虽然对抽飞的样品能起到阻隔的作用，但是会使气体的流导变小。下面以具体实例说明:假设I个半径是r=10mm的滤片，2/3面积是阻隔部分，有1/3面积是滤孔，假设滤孔大小均勻一致，滤孔的半径是A = 1(^111,那么共有滤孔数#1/3 31 (10*X IO3) 2/本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种具有除尘防污染装置的静态法比表面及孔径分析仪，包括样品管和真空获得系统；其特征在于，还包括：缓冲瓶、进气管和出气管；其中，所述缓冲瓶的直径大于所述进气管和出气管的直径；所述缓冲瓶经所述进气管与所述样品管连接；所述缓冲瓶经所述出气管与所述真空获得系统连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：柳剑峰，
申请(专利权)人：贝士德仪器科技北京有限公司，
类型：实用新型
国别省市：