产品尺寸检测治具制造技术

技术编号:8896415 阅读:205 留言:0更新日期:2013-07-09 00:33
本实用新型专利技术公开了一种产品尺寸检测治具,包括一能够水平置于待检测产品所有待检测点上方的零平面,该零平面上对应待检测产品的各检测点分别设有一检测用通孔,对应该每一检测用通孔内活动插设一PIN针,所述每一PIN针的高度为该PIN针对应的检测点的标准高度到所述零平面上表面之间的距离。该产品尺寸检测治具,能够一次检测多处产品尺寸,效率大大提升。(*该技术在2023年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种产品尺寸检测治具
技术介绍
目前,数控中心加工的铝合金产品,客户需要管控很多处重点尺寸,品检员单个检测尺寸需要花费很多的时间,效率较低。
技术实现思路
为了克服上述缺陷,本技术提供了一种产品尺寸检测治具,能够一次检测多处产品尺寸,效率大大提升。本技术为了解决其技术问题所采用的技术方案是:一种产品尺寸检测治具,包括一能够水平置于待检测产品所有待检测点上方的零平面,该零平面上对应待检测产品的各检测点分别设有一检测用通孔,对应该每一检测用通孔内活动插设一 PIN针,所述每一 PIN针的高度为该PIN针对应的检测点的标准高度到所述零平面上表面之间的距离。本技术的有益效果是:通过在产品上设置一零平面,并在该零平面上对应各检测点分别设一检测用通孔,对应每一通孔内活动设置一 PIN针,每一 PIN针的高度为该PIN针对应的检测点的标准高度到零平面上表面之间的距离。这样,品检员再使用简易的高度规以零平面归零,平面内扫动所有的PIN针,品检员根据高度规读数盘的表针即可以知道各检测点尺寸状况,非常方便,不需要对检测点一个一个的检测,大大提升了检测效率。附图说明图1为本技术结构示意图;图2为本技术使用状态结构示意图。结合附图,作以下说明:1-零平面2-检测用通孔3-PIN 针具体实施方式结合附图,对本技术作详细说明,但本技术的保护范围不限于下述实施例。如图1所示,一种产品尺寸检测治具,包括一能够水平置于待检测产品所有待检测点上方的零平面1,该零平面上对应待检测产品的各检测点分别设有一检测用通孔2,对应该每一检测用通孔内活动插设一 PIN针3,所述每一PIN针的高度为该PIN针对应的检测点的标准高度到所述零平面上表面之间的距离。使用时,如图2所示,先将零平面置于待检测产品上方的设定平面内,然后把每一 PIN针分别插入其对应的检测用通孔内,品检员再使用简易的高度规以零平面归零,平面内扫动所有的PIN针,品检员根据高度规读数盘的表针即可以知道各检测点尺寸状况,非常方便,不需要对检测点一个一个的检测,大大提升了检测效率。权利要求1.一种产品尺寸检测治具,其特征在于:包括一能够水平置于待检测产品所有待检测点上方的零平面(1),该零平面上对应待检测产品的各检测点分别设有一检测用通孔(2),对应该每一检测用通孔内活动插设一 PIN针(3),所述每一 PIN针的高度为该PIN针对应的检测点的标准高度到所述零平面上表面之间的距离。专利摘要本技术公开了一种产品尺寸检测治具,包括一能够水平置于待检测产品所有待检测点上方的零平面,该零平面上对应待检测产品的各检测点分别设有一检测用通孔,对应该每一检测用通孔内活动插设一PIN针,所述每一PIN针的高度为该PIN针对应的检测点的标准高度到所述零平面上表面之间的距离。该产品尺寸检测治具,能够一次检测多处产品尺寸,效率大大提升。文档编号G01B21/00GK203037235SQ201320003728公开日2013年7月3日 申请日期2013年1月5日 优先权日2013年1月5日专利技术者韦盛城 申请人:昆山上达精密配件有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种产品尺寸检测治具,其特征在于:包括一能够水平置于待检测产品所有待检测点上方的零平面(1),该零平面上对应待检测产品的各检测点分别设有一检测用通孔(2),对应该每一检测用通孔内活动插设一PIN针(3),所述每一PIN针的高度为该PIN针对应的检测点的标准高度到所述零平面上表面之间的距离。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:韦盛城
申请(专利权)人:昆山上达精密配件有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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