【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种产品尺寸检测治具。
技术介绍
目前，数控中心加工的铝合金产品，客户需要管控很多处重点尺寸，品检员单个检测尺寸需要花费很多的时间，效率较低。
技术实现思路
为了克服上述缺陷，本专利技术提供了一种产品尺寸检测治具，能够一次检测多处产品尺寸，效率大大提升。本专利技术为了解决其技术问题所采用的技术方案是:一种产品尺寸检测治具，包括一能够水平置于待检测产品所有待检测点上方的零平面，该零平面上对应待检测产品的各检测点分别设有一检测用通孔，对应该每一检测用通孔内活动插设一 PIN针，所述每一 PIN针的高度为该PIN针对应的检测点的标准高度到所述零平面上表面之间的距离。本专利技术的有益效果是:通过在产品上设置一零平面，并在该零平面上对应各检测点分别设一检测用通孔，对应每一通孔内活动设置一 PIN针，每一 PIN针的高度为该PIN针对应的检测点的标准高度到零平面上表面之间的距离。这样，品检员再使用简易的高度规以零平面归零，平面内扫动所有的PIN针，品检员根据高度规读数盘的表针即可以知道各检测点尺寸状况，非常方便，不需要对检测点一个一个的检测，大大提升了检测效率。附图说明图1为本专利技术结构示意图；图2为本专利技术使用状态结构示意图。结合附图，作以下说明:1-零平面2-检测用通孔3-PIN 针具体实施例方式结合附图，对本专利技术作详细说明，但本专利技术的保护范围不限于下述实施例。如图1所示，一种产品尺寸检测治具，包括一能够水平置于待检测产品所有待检测点上方的零平面1，该零平面上对应待检测产品的各检测点分别设有一检测用通孔2，对应该每一检测用通孔内活动插设一 ...
【技术保护点】
一种产品尺寸检测治具，其特征在于：包括一能够水平置于待检测产品所有待检测点上方的零平面（1），该零平面上对应待检测产品的各检测点分别设有一检测用通孔（2），对应该每一检测用通孔内活动插设一PIN针（3），所述每一PIN针的高度为该PIN针对应的检测点的标准高度到所述零平面上表面之间的距离。
【技术特征摘要】
1.一种产品尺寸检测治具，其特征在于:包括一能够水平置于待检测产品所有待检测点上方的零平面(1)，该零平面上对应待检测产品的各检测点分别设有一检测用通...
【专利技术属性】
技术研发人员：韦盛城，
申请(专利权)人：昆山上达精密配件有限公司，
类型：发明
国别省市：
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