参数动态校准电路及能动态校准参数的器件制造技术

本发明专利技术提供一种参数动态校准电路及能动态校准参数的器件。其中，参数动态校准电路至少包括：用于获取初始的第一采样参数以及多个初始的第二采样参数的参数提供电路、用于基于所述第一采样参数来采样所接入的信号以获得第一采样结果的第一采样电路、用于基于每一个第二采样参数来对第一采样电路所采样的信号进行采样以获得多个第二采样结果的第二采样电路、用于基于所述第一采样结果及多个第二采样结果来调整所述第一采样参数及多个第二采样参数的校准电路；基于所述参数动态校准电路所形成的器件为能动态校准参数的器件，由此可有效解决因输入信号的眼图发生偏移而导致对输入信号采样不准确的问题，可大大提高器件的可靠性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种基于参数进行信号采样领域，特别是涉及一种参数动态校准电路及能动态校准参数的器件。
技术介绍
现有诸多与其他器件通信的器件常常需要基于自身的参数来对输入的信号进行采样，以便确定所输入的信号的含义，进而根据该输入的信号执行相应的操作。例如，如图1所示，其为内存条的结构示意图。其中，设置在内存条中的控制缓冲器、数据缓冲器等，各自基于自身的电压参数及时间参数来采样来自内存控制器的命令或数据等，并将采样后命令或数据予以缓存。由于现有内存条大多工作时电压低(VDD <= 1.2V)且速度快(1600 3200Mbps)，尤其是数据缓冲器，其输入信号眼图非常小，并且眼图常随着温度及电压的变化而变化，由此使得数据缓冲器对接入自身的输入信号采样变得非常困难。为此，现有内存条在启动过程中会进行一次校准操作，以校准数据缓冲器、控制缓冲器等的电压参数及时间参数。例如，如图2所示，其为数据缓冲器的输入信号的眼图，基于该输入信号，经过校准后数据缓冲器的电压参数为电压u0，校准后的时间参数为时间t0。然而，由于工作温度或者工作电压的变化，输入信号的眼图也会相应变化，例如，或者如图3a所示向右偏移、或者如图3b所示向左偏移、或者如图3c所示向上偏移、或者如图3d所示向下偏移等，由此可能导致已校准的电压参数及时间参数不再合适，但由于数据缓冲器在进行过一次参数校准后，就进入正常工作状态，因此，即便输入信号眼图已发生大幅度偏移，数据缓冲器也不再重新进行参数校准，因此大大降低了内存系统的可靠性。
技术实现思路
鉴于以上所述现有技术的缺点，本专利技术的目的在于提供一种参数动态校准电路，以解决因输入信号的眼图发生偏移而导致对输入信号采样不准确的问题。为实现上述目的及其他相关目的，本专利技术提供一种参数动态校准电路，用于基于参数来对信号进行采样的器件，所述参数动态校准电路至少包括:参数提供电路，用于获取初始的第一采样参数以及多个初始的第二采样参数，并输出第一采样参数及多个第二采样参数；第一采样电路，与所述参数提供电路相连接，用于基于所述参数提供电路所提供的第一采样参数来采样所接入的信号以获得第一采样结果；第二采样电路，与所述参数提供电路相连接，用于基于参数提供电路所提供的每一个第二采样参数来对所述第一采样电路所采样的信号进行采样以获得多个第二采样结果；以及校准电路，与所述第一采样电路及第二采样电路相连接，用于基于所述第一采样结果及多个第二采样结果来调整所述参数提供电路所提供的第一采样参数及多个第二采样参数。此外，本专利技术还提供一种能动态校准参数的器件，其至少包括前述参数动态校准电路。如上所述，本专利技术的参数动态校准电路及能动态校准参数的器件具有以下有益效果:能有效解决因输入信号的眼图发生偏移而导致对输入信号采样不准确的问题，进而提高器件的可靠性。附图说明图1显示为现有内存条示意图。图2显示为数据缓冲器的输入信号的眼图。图3a_3d显示为数据缓冲器的输入信号的眼图的漂移示意图。图4显示为本专利技术的参数动态校准电路示意图。图5显示为本专利技术的参数动态校准电路所确定的第一采样参数及第二采样参数示意图。图6显示为本专利技术的参数动态校准电路包含的第一采样电路的优选示意图。图7a_7d显示为本专利技术的参数动态校准电路调整后第一采样参数及第二采样参数示意图。图8显示为本专利技术的参数动态校准电路包含的校准电路的优选示意图。图9显示为本专利技术的参数动态校准电路包含的信号控制电路的优选示意图。元件标号说明I 参数动态校准电路11 参数提供电路12 第一采样电路13 第二采样电路14 校准电路具体实施例方式以下通过特定的具体实例说明本专利技术的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本专利技术的其他优点与功效。本专利技术还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本专利技术的精神下进行各种修饰或改变。请参阅图4至图9。需要说明的是，本实施例中所提供的图示仅以示意方式说明本专利技术的基本构想，遂图式中仅显示与本专利技术中有关的组件而非按照实际实施时的组件数目、形状及尺寸绘制，其实际实施时各组件的型态、数量及比例可为一种随意的改变，且其组件布局型态也可能更为复杂。图4为本专利技术的参数动态校准电路示意图。其中，所述参数动态校准电路I应用于基于参数来对信号进行采样的器件。优选地，所述器件包括但不限于内存缓冲器等。例如，所述器件为设置在内存条中的数据缓冲器、控制缓冲器或集数据缓冲、控制指令缓冲、地址缓冲于一体的全缓冲器等。所述参数动态校准电路I包括:参数提供电路11、第一采样电路12、第二采样电路13以及校准电路14。所述参数提供电路11用于获取初始的第一采样参数以及多个初始的第二采样参数，并输出第一采样参数及多个第二采样参数。优选地，所述参数提供电路11由其他器件传输至的信息中获取初始的第一采样参数以及多个初始的第二采样参数。其中，所述第二采样参数的数量基于第一采样参数的种类来确定，例如，第一采样参数包括时间参数与电压参数，则优选地，所述第二采样参数包括2个电压参数与2个时间参数,共4个参数。例如，若采用所述参数动态校准电路I的器件为设置在内存条中的数据缓冲器，则数据缓冲器在正常工作前，内存控制器先对数据缓冲器的第一采样参数，即时间参数与电压参数进行校准。在校准过程中，内存控制器基于根据自身传输给数据缓冲器的测试数据以及数据缓冲器基于不同的电压参数与时间参数所读取的所述测试数据，来确定该数据缓冲器的电压参数的范围及时间参数的范围，并从该电压参数的范围及时间参数的范围中选择一最优电压参数及最优时间参数作为初始的电压参数与初始的时间参数。如图5所示，内存控制器确定数据缓冲器的电压参数范围为(电压ul，电压u2)，时间参数范围为(时间tl，时间t2)，并确定最优的时间参数为t0，最优的电压参数为电压u0，则内存控制器将电压参数范围(电压ul，电压u2)、时间参数范围(时间tl，时间t2)、电压参数为电压u0与时间参数为tO传输给所述参数提供电路11,由此,所述参数提供电路11获取的初始的第一采样参数包括电压u0与时间t0，初始的第二采样参数包括:电压ul、电压u2、时间tl及时间t2。优选地，所述参数提供电路11可采用用于读取输入数据的读数据电路及存储单元来实现等。需要说明的是，本领域技术人员应该理解，上述电压参数范围与时间参数范围的含义为:数据缓冲器基于该电压参数范围与时间参数范围内的电压参数与时间参数能准确对输入信号进行采样，而基于该电压参数范围与时间参数范围外的电压参数与时间参数不能准确对输入信号进行采样。例如，基于图5所示的灰色区域中的电压参数与时间参数能准确对输入信号进行采样。此外，还需要说明的是，本领域技术人员应该理解，上述所述仅仅只是列示，而非对本专利技术的限制，事实上，任何获取初始的第一采样参数以及多个初始的第二采样参数的获取电路，均包含在本专利技术的范围内。所述第一采样电路12与所述参数提供电路11相连接，用于基于所述参数提供电路11所提供的第一采样参数来采样所接入的信号以获得第一采样结果。若采用所述参数动态校准电路I的器件为设置在内存条中的数据缓冲器，优选地，所述第一采样电路12可采用图6所示的采样电路。所述采本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种参数动态校准电路，用于基于参数来对信号进行采样的器件，其特征在于，所述参数动态校准电路至少包括：参数提供电路，用于获取初始的第一采样参数以及多个初始的第二采样参数，并输出第一采样参数及多个第二采样参数；第一采样电路，与所述参数提供电路相连接，用于基于所述参数提供电路所提供的第一采样参数来采样所接入的信号以获得第一采样结果；第二采样电路，与所述参数提供电路相连接，用于基于参数提供电路所提供的每一个第二采样参数来对所述第一采样电路所采样的信号进行采样以获得多个第二采样结果；校准电路，与所述第一采样电路及第二采样电路相连接，用于基于所述第一采样结果及多个第二采样结果来调整所述参数提供电路所提供的第一采样参数及多个第二采样参数。

【技术特征摘要】
1.一种参数动态校准电路，用于基于参数来对信号进行采样的器件，其特征在于，所述参数动态校准电路至少包括: 参数提供电路，用于获取初始的第一采样参数以及多个初始的第二采样参数，并输出第一采样参数及多个第二采样参数； 第一采样电路，与所述参数提供电路相连接，用于基于所述参数提供电路所提供的第一采样参数来采样所接入的信号以获得第一采样结果； 第二采样电路，与所述参数提供电路相连接，用于基于参数提供电路所提供的每一个第二采样参数来对所述第一采样电路所采样的信号进行采样以获得多个第二采样结果； 校准电路，与所述第一采样电路及第二采样电路相连接，用于基于所述第一采样结果及多个第二采样结果来调整所述参数提供电路所提供的第一采样参数及多个第二采样参数。2.根据权利要求1所述的参数动态校准电路，其特征在于:当所述第一采样电路包括多个采样电路以采样多路信号时，所述参数动态校准电路还包括: 信号...

【专利技术属性】
技术研发人员：李春一，马青江，
申请(专利权)人：澜起科技上海有限公司，
类型：发明
国别省市：