一种固相分子荧光检测用支架制造技术

本实用新型专利技术涉及到一种固相分子荧光检测用支架，其特征在于包括镂空的框架，所述框架的底部设有底板，该底板上设有用于容置并限位固相萃取模板下端的凹槽；并且，所述凹槽的长度为1厘米；所述框架的顶部设有用于容置并限位固相萃取模板上部两端角的限位槽。与现有技术相比，本实用新型专利技术提供了一种能够使用固相萃取膜进行荧光检测的固相分子荧光检测用支架，避免了现有技术中的所必须的萃取过程，工作效率高，且不需要使用额外的溶剂，同时也降低了试验成本。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

—种固相分子荧光检测用支架
本技术涉及一种固相分子荧光检测用支架。
技术介绍
目前测定分子荧光通常是采用长X宽X高为lXlX4cm的石英比色皿，这需要把待测组分萃取到有机溶液中，再进行检测，萃取过程会用到大量化学试剂，不仅费时费力，而且成本高。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是针对现有技术的现状提供一种能够使用固相萃取膜进行荧光检测的固相分子荧光检测用支架。本技术解决上述技术问题所采用的技术方案为:该固相分子荧光检测用支架，其特征在于包括镂空的框架，所述框架的底部设有底板，该底板上设有用于容置并限位固相萃取模板下端的凹槽；并且，所述凹槽的长度为I厘米；所述框架的顶部设有用于容置并限位固相萃取模板上部两端角的限位槽。较好的，所述框架可以为由十二根支撑杆连接而成的镂空的立方体结构，所述底板为与所述框架的底面相适配的矩形结构，所述凹槽沿所述底板的对角线设置。为了方便所述框架的上端面在与所述凹槽相对应的两个对角位置分别设有第一限位块和第二限位块，所述的限位槽分别设置在第一限位块和第二限位块上。较好的，所述的底板和所述限位块为不锈钢板。与现有技术相比，本技术提供了一种能够使用固相萃取膜进行荧光检测的固相分子荧光检测用支架，避免了现有技术中的所必须的萃取过程，工作效率高，且不需要使用额外的溶剂，同时也降低了试验成本。附图说明图1为本技术实施例装配结构的立体示意图；图2为本技术实施例分解结构的立体示意图。具体实施方式以下结合附图实施例对本技术作进一步详细描述。如图1和图2所示，该固相分子荧光检测用支架包括:框架1，为由十二根支撑杆11连接而成的镂空的立方体结构，这十二根支撑杆分别位于该立方体结构的十二个侧边上。底板2，采用不锈钢板制备，为与框架I的底面相适配的矩形结构，设置在框架I的底面上。底板2的对角线上设有凹槽21，凹槽21位于对角线的中部，并且，凹槽21的长度为I厘米。第一限位块3和第二限位块4，采用不锈钢制备，分别设置在框架上端面的两个对角上，第一限位块3和第二限位块4相对的两个侧面上均对应设有第一限位槽31和第二限位槽41，并且第一限位槽31、第二限位槽41和凹槽21均位于框架I的同一个对角面上。使用时，先将固相萃取膜贴在石英载板(图中未示出)上，然后将两者一起从框架的上端向下插入，使两者的底部容置在凹槽21内，同时顶部的两个角部分别容置在第一限位槽31和第二限位槽41内，即可将固相萃取膜固定好进行荧光检测了。该固相分子荧光检测用支架结构简单，容易制造，且使用方便。有了该支架看直接使用固相萃取膜进行荧光检测，避免了现有技术中的所必须的萃取过程，工作效率高，且不需要使用额外的溶剂，同时也降低了试验成本。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种固相分子荧光检测用支架，其特征在于包括镂空的框架，所述框架的底部设有底板，该底板上设有用于容置并限位固相萃取模板下端的凹槽；并且，所述凹槽的长度为1厘米；所述框架的顶部设有用于容置并限位固相萃取模板上部两端角的限位槽。

【技术特征摘要】
1.一种固相分子荧光检测用支架，其特征在于包括镂空的框架，所述框架的底部设有底板，该底板上设有用于容置并限位固相萃取模板下端的凹槽；并且，所述凹槽的长度为I厘米；所述框架的顶部设有用于容置并限位固相萃取模板上部两端角的限位槽。2.根据权利要求1所述的固相分子荧光检测用支架，其特征在于所述框架为由十二根支撑杆连接而成的镂空的立方体结构，所述底板...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨红丽，林琳，刘辉，林慧敏，丁迎燕，
申请(专利权)人：浙江海洋学院，
类型：实用新型
国别省市：