一种水质检测用光强控制检测器制造技术

本发明专利技术公开了一种水质检测用光强控制检测器，其特征在于，包括MCU、电流控制器、第一温度采集器、温度控制器、第一光强检测器、发光器件、第一温度传感器以及半导体制冷器；所述第一温度传感器和第一光强检测器用于检测发光器件的温度以及初始光强；所述第一温度传感器通过第一温度采集器与MCU相连；所述MCU通过电流控制器控制发光器件的发光强度；所述MCU通过温度控制器控制半导体制冷器，所述半导体制冷器与发光器件相连。本发明专利技术能够降低环境温度、工作条件及其自身老化程度对光强的影响，增强光源光强的稳定性；能够准确检测光强，提高光强检测的准确性，从而准确检测待测物质的浓度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种水质检测用光强控制检测器。
技术介绍
物质分子在不同的条件下，吸收或发射光谱的波长、强度、偏振态等情况，和该物质的结构特征有着固有的关系。不同物质的分子结构不同，对应于不同的吸收和发射光谱；同一种物质浓度不同时，在同一吸收峰位置的吸收强度不同。因此，通过检测水中某一物质对特定波长光的吸收强度，可以确定水中该物质的浓度。目前，水质检测仪一般包括光源、样品池、光电检测器三个部分，光源发出的光经水样吸收后由光电检测器接收，根据水样吸收前后的光强度变化来进行水质检测。目前，光源一般采用卤素灯、二极管或激光器。由于卤素灯、二极管或激光器发光的光强受环境温度、工作条件及其自身老化程度的影响很大，导致起始光强很不稳定。此外，目前的光电检测器部分一般使用光电池，由于光电池的光电转换效率随温度变化很大，导致光强检测不准，从而最终降低水质检测仪的灵敏度。
技术实现思路
本专利技术目的是:提供一种光强控制器和检测器，能够降低环境温度、工作条件及其自身老化程度对光强的影响，增强光源光强的稳定性；能够准确检测光强，提高光强检测的准确性，从而准确检测待测物质的浓度。本专利技术的技术方案是:一种水质检测用光强控制检测器，其特征在于，包括MCU、电流控制器、第一温度采集器、温度控制器、第一光强检测器、发光器件、第一温度传感器以及半导体制冷器；所述第一温度传感器和第一光强检测器用于检测发光器件的温度以及初始光强；所述第一温度传感器通过第一温度采集器与MCU相连；所述MCU通过电流控制器控制发光器件的发光强度；所述MCU通过温度控制器控制半导体制冷器，所述半导体制冷器与发光器件相连。进一步的，包括第二光强检测器，所述第二光强检测器位于与所述发光器件相对应的接收端，所述第二光强检测器与MCU相连。进一步的，包括第二温度传感器和第二温度采集器，所述第二温度传感器与第二光强检测器相连，所述第二温度传感器通过第二温度采集器与MCU相连。—种水质检测仪，其特征在于，包括权利要求1或2或3所述的水质检测用光强控制检测器。工作原理:第一温度传感器检测发光器件即光源的温度信号，然后经温度采集器转换成电信号，输出给MCU，MCU将当前发光器件的温度与设置温度进行比较，然后通过温度控制器来控制半导体制冷器，使之做出升温或降温的动作。待发光器件当前温度等于设置温度时，MCU通过第一光强检测器检测发光器件的当前光强，并将其转换成电信号输送给MCU，MCU将发光器件当前的光强跟初始光强比较，然后通过电流控制器来调节发光器件输出电流的大小，从而将当前光强调整到初始光强，进而有效控制温度的波动，提高光强稳定性。第二温度传感器用于检测第二光强检测器的温度，并经过温度采集器输出给MCU，MCU以此温度为依据对第二光强检测器检测到的信号进行校准，这样就能对光强进行准确转换、运算，从而提高光强检测的准确度。本专利技术的优点是: 1.降低了温度的波动，减小了温度对光强的影响； 2.避免了因长时间工作导致发光器件光衰或发光强度不稳定的影响； 3.有效校准了温度对光强检测器的影响。附图说明下面结合附图及实施例对本专利技术作进一步描述: 图1为本专利技术的原理图。图2为本专利技术的结构示意图。其中:1MCU ；2电流控制器；3温度采集器I ;4温度控制器；5温度采集器2 ;6光强检测器I ;7发光器件；8温度传感器I ;9半导体制冷器；10光强检测器2 ;11温度传感器2。具体实施例方式实施例:如图1、图2所示的光强控制器和检测器，包括MCU、电流控制器、温度采集器1、温度控制器、温度采集器2、光强检测器1、发光器件、温度传感器1、半导体制冷器、光强检测器2和温度传感器2。如附图1所示，光强检测器1、温度采集器1、光强检测器2、温度采集器2与MCU的输入端连接，电流控制器、温度控制器与MCU的输出端连接，电流控制器的输出端连接发光器件，温度采集器I的输入端连接温度传感器1，温度控制器的输出端连接半导体制冷器，温度采集器2的输入端连接温度传感器2。温度传感器I检测发光器件的温度，并通过温度采集器I连接到MCU，由MCU根据设定值和检测值进行运算，调节温度控制器的输出，然后通过半导体制冷器控制发光器件的温度；光强检测器I检测发光器件的当前光强，并连接到MCU，由MCU根据设定值和检测值进行运算，调节电流控制器的输出，进而来控制发光器件的发光强度；温度传感器2检测光强检测器2的温度，经温度采集器输出给MCU，MCU根据设定值和检测值进行运算，对光强检测器2检测的信号进行校准，从而提高光强检测的准确度。以上所述，仅为专利技术的具体实施方式。本专利技术的保护范围并不局限于此，任何熟悉本
的技术人员在本专利技术揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本专利技术的保护范围之内。因此，本专利技术的保护范围应该以权利要求所界定的保护范围为准。权利要求1.一种水质检测用光强控制检测器，其特征在于，包括MCU、电流控制器、第一温度采集器、温度控制器、第一光强检测器、发光器件、第一温度传感器以及半导体制冷器；所述第一温度传感器和第一光强检测器用于检测发光器件的温度以及初始光强；所述第一温度传感器通过第一温度采集器与MCU相连；所述MCU通过电流控制器控制发光器件的发光强度；所述MCU通过温度控制器控制半导体制冷器，所述半导体制冷器与发光器件相连。2.根据权利要求1所述的水质检测用光强控制检测器，其特征在于，包括第二光强检测器，所述第二光强检测器位于与所述发光器件相对应的接收端，所述第二光强检测器与MCU相连。3.根据权利要求2所述的水质检测用光强控制检测器，其特征在于，包括第二温度传感器和第二温度采集器，所述第二温度传感器与第二光强检测器相连，所述第二温度传感器通过第二温度采集器与MCU相连。4.一种水质检测仪，其特征在于，包括权利要求1或2或3所述的水质检测用光强控制检测器。全文摘要本专利技术公开了一种水质检测用光强控制检测器，其特征在于，包括MCU、电流控制器、第一温度采集器、温度控制器、第一光强检测器、发光器件、第一温度传感器以及半导体制冷器；所述第一温度传感器和第一光强检测器用于检测发光器件的温度以及初始光强；所述第一温度传感器通过第一温度采集器与MCU相连；所述MCU通过电流控制器控制发光器件的发光强度；所述MCU通过温度控制器控制半导体制冷器，所述半导体制冷器与发光器件相连。本专利技术能够降低环境温度、工作条件及其自身老化程度对光强的影响，增强光源光强的稳定性；能够准确检测光强，提高光强检测的准确性，从而准确检测待测物质的浓度。文档编号G01N21/01GK103105357SQ20121043863公开日2013年5月15日 申请日期2012年11月6日 优先权日2012年11月6日专利技术者谢明明, 李伟, 李红丽 申请人:苏州聚阳环保科技有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种水质检测用光强控制检测器，其特征在于，包括MCU、电流控制器、第一温度采集器、温度控制器、第一光强检测器、发光器件、第一温度传感器以及半导体制冷器；所述第一温度传感器和第一光强检测器用于检测发光器件的温度以及初始光强；所述第一温度传感器通过第一温度采集器与MCU相连；所述MCU通过电流控制器控制发光器件的发光强度；所述MCU通过温度控制器控制半导体制冷器，所述半导体制冷器与发光器件相连。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：谢明明，李伟，李红丽，
申请(专利权)人：苏州聚阳环保科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32