一种方便检验LED内部晶片治具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种方便检验LED内部晶片治具，包括，治具本体，其特征在于，所述治具本体包括一用于固定LED的定位方孔和一固定口，该固定口的一端与数码显微镜的镜头对接，其另一端的内部设置有所述定位方孔且该定位方孔与固定口以可转动的方式连接。本实用新型专利技术的优点：结构简单、连接牢固、且易于定位，可以快速地完成LED内部晶片的检测，有效减少工作时间，减少判断失误，大大提高工作效率和检测的准确性。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及检验LED内部晶片的治具。
技术介绍
食人鱼LED的引脚通过波峰焊后固定于PCB板上，但是由于波峰焊的过程温度很高，可能会引起LED内部晶片变质，产生“彩虹”。所以对LED内部晶片检验是非常有必要的，在实际操作中使用手持移动式数码显微镜来检测，但是由于LED的尺寸很小，定位起来比较困难，这样难以测得精确的图像，可能会对LED内部晶片质量判断失误。最终导致操作不便，定位不稳不准，聚光效果不佳，图像不清，判断不够精准，工作效率慢等问题。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种检验LED内部晶片的治具，可以解决实际检验中，操作不便，定位不稳不准，聚光效果不佳，图像不清，判断不够精准，工作效率慢等问题。本技术是这样实现的一种方便检测LED内部晶片的治具结构，包括，治具本体(1)，其特征在于，所述治具本体(I)包括一用于固定LED (11)的定位方孔(12)和一固定口(13)，该固定口(13)的一端与数码显微镜的镜头对接，其另一端的内部设置有所述定位方孔(12)且该定位方孔(12)与固定口( 13)以可转动的方式连接。可转动的连接方式有多种，较为优选地，在所述定位方孔(12)的两侧形成有凸耳(121),凸耳上设有穿孔，固定口( 13)的侧面于该穿孔的对应处设有螺纹孔(131 )，通过螺栓依次穿过穿孔和螺纹孔(131 )，使定位方孔(12)与固定口( 13)连接。本技术可以便捷地安装于手持移动式数码显微镜上，有效地解决了用手定位难，图像不清的问题，方便工作人员操作，可降低工人的劳动强度、大大提高工作效率。附图说明图1为本技术结构示意图。图中序号1、治具本体11、LED12、定位方孔13、固定口121、凸耳131、螺纹孔。具体实施方式以下结合附图1对本技术的整体结构进行说明。请参见图1，图中所示的是一种方便检测LED内部晶片的治具结构，包括，治具本体1，治具本体I包括一用于固定LEDll的定位方孔12和一固定口 13，该固定口 13的一端与手持移动式数码显微镜的镜头对接，其另一端的内部设置有所述定位方孔12，在所述定位方孔12的两侧形成有凸耳121，凸耳上设有穿孔，固定口 13的侧面于该穿孔的对应处设有螺纹孔131，通过螺栓依次穿过穿孔和螺纹孔131，使定位方孔12与固定口 13可转动地连接。具体地使用方法如下首先，将固定口牢靠地安装在手持移动式数码显微镜上，避免松动，造成检测不便。第二，将定位方孔罩在所要检测的LED上，微调两侧螺栓，螺栓带动定位方孔转动，待找到方便观察图像的角度后将螺栓拧紧，避免松动后要重新定角度。定位方孔按照要检测的食人鱼型LED的造型设计，不仅有利于定位，同时利于聚光，能使手持移动式数码显微镜相对清楚地呈现图像。第三，结合调节手持移动式数码显微镜的焦距，将图像调至清晰，即可观察LED内部晶片，检验内部晶片的质量。然后，可以不用再调节治具和手持移动式数码显微镜，继续重复检验下一颗LED，提高检验的效率。本技术可有效防的解决了用手操作定位难、效率慢的问题。使工作人员在检验LED内部晶片质量时的效率大大提高，并能很准确的观察图像，作出相应的判断，降低了判断失误率，为检验工作带来了很多方便。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种方便检验LED内部晶片治具，包括，治具本体（1），其特征在于，所述治具本体（1）包括一用于固定LED（11）的定位方孔（12）和一固定口（13），该固定口（13）的一端与数码显微镜的镜头对接，其另一端的内部设置有所述定位方孔（12）且该定位方孔（12）与固定口（13）以可转动的方式连接。

【技术特征摘要】
1.一种方便检验LED内部晶片治具，包括，治具本体(1)，其特征在于，所述治具本体 (I)包括一用于固定LED (11)的定位方孔(12)和一固定口(13)，该固定口(13)的一端与数码显微镜的镜头对接，其另一端的内部设置有所述定位方孔(12)且该定位方孔(12)与固定口(13)以可...

【专利技术属性】
技术研发人员：张百温，
申请(专利权)人：丽清汽车科技上海有限公司，
类型：实用新型
国别省市：