微处理器及其所适用的测试方法技术

技术编号:8744515 阅读:160 留言:0更新日期:2013-05-29 22:00
一种微处理器及其所适用的测试方法。该微处理器包括:多个第一保险丝,根据一预定值被选择性地熔断,其中该预定值用以供该微处理器的电路以控制该微处理器的运作;以及多个第二保险丝,根据错误侦测信息被选择性地熔断,其中上述错误侦测信息用以侦测上述第一保险丝中的一错误,该错误指示该微处理器的一熔断保险丝回传一非熔断二进制值,其中该微处理器响应一第一使用者程序指令,而根据来自上述第二保险丝的错误侦测信息决定是否存在上述第一保险丝中的上述错误。该微处理器响应上述第一使用者程序指令,更产生一错误状态值以指示是否存在上述第一保险丝中的上述错误,该微处理器响应一第二使用者程序指令,而回传上述错误状态值。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种微处理器,包括:多个第一保险丝,根据一预定值被选择性地熔断,其中上述预定值用以供上述微处理器的电路以控制上述微处理器的运作;以及多个第二保险丝,根据错误侦测信息被选择性地熔断,其中上述错误侦测信息用以侦测上述第一保险丝中的一错误,该错误指示上述微处理器的一熔断保险丝回传一非熔断二进制值,其中上述微处理器响应一第一使用者程序指令,而根据来自上述第二保险丝的错误侦测信息决定是否存在上述第一保险丝中的上述错误,其中上述微处理器响应上述第一使用者程序指令,而更产生一错误状态值以指示是否存在上述第一保险丝中的上述错误,其中上述微处理器响应一第二使用者程序指令,而回传上述错误状态值。

【技术特征摘要】
...

【专利技术属性】
技术研发人员:G葛兰亨利泰瑞派克斯
申请(专利权)人:威盛电子股份有限公司
类型:发明
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1