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一种微处理器及其所适用的测试方法。该微处理器包括：多个第一保险丝，根据一预定值被选择性地熔断，其中该预定值用以供该微处理器的电路以控制该微处理器的运作；以及多个第二保险丝，根据错误侦测信息被选择性地熔断，其中上述错误侦测信息用以侦测上述第一...
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