一种微米级或亚微米级纤维样品的扫描方法技术

本发明专利技术公开了一种微米级或亚微米级纤维样品的扫描方法，采用将微米级或亚微米级纤维样品逐步转移的制样方法，在可视范围内选择单层、多根相互平行且紧密排列的微米级或亚微米级纤维的位置进针，并进行测量。此种方法具有操作简单，高效实用的优点，能够得到图像清晰的微米级或亚微米级纤维的表面形貌。

【技术实现步骤摘要】
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:本专利技术涉及一种基于扫描探针显微镜的扫描检测技术，特别是一种应用扫描探针显微镜对微米级或亚微米级纤维样品表面进行表面形貌检测的方法。
技术介绍
:原子力显微镜(Atomic Force Microscope, AFM)是扫描探针显微镜的一种工作模式，AFM的基本原理是使用对微弱力非常敏感的弹性悬臂上的针尖对样品表面作光栅式扫描，当探针非常靠近样品时，其顶端的原子与样品表面原子间的作用力会使悬臂梁偏离原来的位置，此时入射到悬臂梁上的激光也会随之发生偏转并投射到一个四象限的探测器上，随后根据扫描样品时探针的偏离量重建三维图像，就能获得样品表面的形貌。纤维的结构控制技术已经从最初的直径为数十微米及十数微米级的纤维向数微米级以及亚微米(几百纳米)级纤维结构发展。制造细而强度高的复合纤维是人们一直追求的技术，并且人们开始在这些微米级亚微米级的纤维上修饰一些其他的材料以增强它的某一功能。对于微米级或亚微米级纤维样品的表征方法有多种，相对于其他仪器，原子力显微镜显著的优点就是能够在大气环境下对样品进行检测，并且可以得到样品的三维形貌，进而分析样品表面信息，例如高度分布、粗糙度等。对于被本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种微米级或亚微米级纤维样品的扫描方法，其特征在于具体步骤如下：(1)准备设备：采用的设备是多功能扫描探针显微镜，它是由扫描控制器、扫描管、激光器、显微镜光学系统、光电探测器、计算机显示系统、样品台和探针装置组成，所说的探针装置由探针和探针架组成，所说的探针为适用于轻敲模式的探针，它由探针的悬臂梁和探针的针尖组成，所说的样品台吸附在扫描管上；(2)将双面胶粘在一个样品台表面；(3)剪一束微米级或亚微米级纤维样品，将微米级或亚微米级纤维样品轻轻的吸附到双面胶上，并铺满双面胶；(4)将双面胶贴在另一个同等大小的样品台表面，将粘有双面胶的样品台对准粘有微米级或亚微米级纤维样品的样品台，轻轻按压，使一...

【技术特征摘要】
1.一种微米级或亚微米级纤维样品的扫描方法，其特征在于具体步骤如下: (1)准备设备:采用的设备是多功能扫描探针显微镜，它是由扫描控制器、扫描管、激光器、显微镜光学系统、光电探测器、计算机显示系统、样品台和探针装置组成，所说的探针装置由探针和探针架组成，所说的探针为适用于轻敲模式的探针，它由探针的悬臂梁和探针的针尖组成，所说的样品台吸附在扫描管上； (2)将双面胶粘在一个样品台表面； (3)剪一束微米级或亚微米级纤维样品，将微米级或亚微米级纤维样品轻轻的吸附到双面胶上,并铺满双面胶； (4)将双面胶贴在另一个同等大小的样品台表面，将粘有双面胶的样品台对准粘有微米级或亚微米级纤维样品的样品台，轻轻按压，使一部分微米级或亚微米级纤维样品转移到另外一个粘有双面胶的样品台上； (5)如果转移的微米级或亚微米级纤维样品的层数太多，可以多次重复步骤(2) (4)，直到在双面胶表面存留一薄层的微米级或亚微米级纤维样品； (5)将探针固定在探针架上，然后将探针架固定在样品台的上方； (6)调整激光器产生的激光光路，使得激光打到探针的悬臂梁上，并反射到光电探测器上； (7)调节显微镜光学系统聚焦到微米级或亚微米级纤维样品的表面； (8)在多功能扫描探针显微镜自带的在线控制软件中选择轻敲模式，调整探针的悬臂梁的固有频率为90 700KHz。(9)缓慢升高扫描管，使探针缓慢逼近微米...

【专利技术属性】
技术研发人员：高瑞玲，范红涛，翟勇，
申请(专利权)人：国家纳米技术与工程研究院，
类型：发明
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