一种MicroSD卡测试座制造技术

技术编号:8669694 阅读:211 留言:0更新日期:2013-05-02 23:31
本实用新型专利技术涉及半导体芯片测试领域,具体来说通过对某些半导体设备的改造来提高设备的测试性能,减少产品复测。本实用新型专利技术提供了一种MicroSD卡测试座,包括探针(105),其特征在于:测试座(103)上设置有两排探针(105)。这样确保了在每次芯片测试中都有2根探针同时跟被测芯片的机器相连。这样的优势是不仅增加了测试座105在跟被测芯片102多一个测试接触通道,并且2根探针在一个测试节点上形成了一个等效并联电路。通过针对测试座的专项改造,提高了产品的初测成品率0.8%,复测成品率为0.01%,这样一来,取消了对MICROSD卡产品的复测,提高了7.5%的设备利用率。(*该技术在2022年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及半导体芯片测试领域,具体来说通过对某些半导体设备的改造来提高设备的测试性能,减少产品复测。
技术介绍
MicroSD卡是一种极细小的快闪存储器卡,其格式源自SanDisk创造,原本这种记忆卡称为T-Flash,及后改称为TransFlash ;而重新命名为MicroSD的原因是因为被SD协会(SDA)采立。另一些被SDA采立的记忆卡包括miniSD和SD卡。其主要应用于移动电话,但因它的体积微小和储存容量的不断提升,现在已经使用于GP设备、便携式音乐播放器、数码相机(如奥林巴斯)和一些快闪存储器盘中。它的体积为15mm X Ilmm xlmm ,差不多相等于手指甲的大小,是现时最细小的记忆卡。它也能通过SD转接卡来接驳于SD卡插槽中使用。现时 MicroSD 卡提供 128MB、256MB、512MB、1G、2G、4G、8G、16G 和 32G 的容量。MicroSD卡在封装完毕后要进行2种测试分别检测内部的FLASH芯片和控制芯片。从测试设备的可靠性和可重复使用性来看芯片分选设备和测试机都能保证芯片测试结果的一致性,能影响设备测试性能的最大变量就是测试座和芯片本身。除去本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种MicroSD卡测试座,包括探针(105),其特征在于:测试座(103)上设置有两排探针(105)。

【技术特征摘要】
1.一种MicroSD卡测试座,包括探针(105),其...

【专利技术属性】
技术研发人员:李烨王刚
申请(专利权)人:镇江艾科半导体有限公司
类型:实用新型
国别省市:

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