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本实用新型涉及半导体芯片测试领域,具体来说通过对某些半导体设备的改造来提高设备的测试性能,减少产品复测。本实用新型提供了一种MicroSD卡测试座，包括探针（105），其特征在于：测试座（103）上设置有两排探针（105）。这样确保了在每次...
该专利属于镇江艾科半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过镇江艾科半导体有限公司授权不得商用。

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