电介质陶瓷、层叠陶瓷电容器及其制造方法技术

本发明专利技术提供一种即使将电介质层进一步薄层化，也具有优异的高温负荷试验寿命特性的层叠陶瓷电容器。作为构成电介质陶瓷电容器(1)的电介质层(2)的电介质陶瓷，使用如下的物质：所述物质含有用通式(Ba1-x-yCaxRey)(Ti1-zMz)O3(其中，Re是从La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu以及Y中选择的至少一种以上的元素，M是从Mg、Mn、Al、Cr以及Zn中选择的至少一种以上的元素)表示并且满足0≤x≤0.2、0.002≤y≤0.1、0.001≤z≤0.05的范围的化合物作为主成分。该电介质陶瓷的结晶粒子的平均粒径为20nm以上且150nm以下。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种电介质陶瓷及其制造方法。另外还涉及使用该电介质陶瓷构成的层叠陶瓷电容器及其制造方法。
技术介绍
随着近年来电子技术的发展，要求层叠陶瓷电容器小型化且大容量。为了满足这种要求，层叠陶瓷电容器的电介质层的薄层化在进展。但是，若将电介质层薄层化，则对每一层施加的电场强度就会相应地变高。因此，对于用于电介质层的电介质陶瓷而言，要求在施加电压时的可靠性，尤其要求提高高温负荷试验的寿命特性。例如，在专利文献I中，记载了有以下特征的电介质陶瓷。S卩，以钛酸钡作为主成分，具有含稀土元素、镁及锰的钙钛矿型的晶体结构作为副成分，并以组成式(Bai_yREy)(Ti1JgaoMnb) O3 (RE:稀土元素)表示，各个范围以 0.06 ^ y ^ 0.09,0.03 彡 ao 彡 0.045。0.012≤b≤0.018表示。现有技术文献专利文献专利文献1:特开2007-145649号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的课题然而，在专利文献I中没有记载关于将电介质层薄层化的情况。因此，在专利文献I中记载的电介质陶瓷，没有明确在将电介质层的厚度薄层化到Iym左右时，其在施加电压时的可靠性是否本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.09.17 JP 2010-2092811.一种电介质陶瓷，其含有用通式(Bai_x_yCaxRey) (Ti1^zMz) O3表示并且满足O ^ X ^ 0.2,0.002 ^ y ^ 0.1,0.001 ^ z ^ 0.05的范围的化合物作为主成分，所述电介质陶瓷的结晶粒子的平均粒径为20nm以上且150nm以下， 其中，Re 是从 La、Ce、Pr、Nd、Sm、Eu、Gd、Tb、Dy、Ho、Er、Tm、Yb、Lu 以及 Y 中选择的至少一种以上的元素，M是从Mg、Mn、Al、Cr以及Zn中选择的至少一种以上的元素。2.根据权利要求1所述的电介质陶瓷，其中，所述平均粒径为20nm以上且不足lOOnm。3.—种电介质陶瓷电容器,其具备层叠体和多个外部电极， 所述层叠体具有被层叠的多个电介质层、和沿着所述电介质层间的界面形成的多个内部电极； 所述外部电极形成于所述层叠体的外表面，并与所述内部电...

【专利技术属性】
技术研发人员：福田惠，矢尾刚之，
申请(专利权)人：株式会社村田制作所，
类型：
国别省市：