【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种专用治具。
技术介绍
在对半成品或者成品小型元件进行质量检测或者测量时，通常是将多个待测物品放置于检测或者测量平台上，例如放置于工具显微镜的检测平台、或者预定的某一平台上，然后逐一对其进行检测。然而，在某些情况下，需要将该待检测物品整齐并且有序并排摆放于待测平台上，以利于后面的检测或者测量方便。通常的做法是由工作人员来将其整齐摆放于待测平台上，具体的做法或者是采用人工的方法，由工作人员手动来摆放使其达到一定的对其效果，又或者是采用某些机械装置，例如机械手来自动抓取待测物品，并将其等间隔摆放于待测平台上。上述两种方式都存在一定的缺点，第一种方式，米用人工摆放，其存在一定误差，即由于工作人员的个体差异，无法达到每次都可以精确控制其摆放位置相同；而第二种方式虽然可以精确控制其摆放位置相同，但其成本较高，不适合推广。
技术实现思路
本技术目的是提供一种专用治具，使用该治具，可方便的同时将待测物整齐摆放。本技术的技术方案是一种专用治具，包括一治具本体，所述本体由底座构成，所述底座上一侧分别设有两个治具机构，所述底座上另一侧对称设有治具机构，所述治具机构之间设有定位块。进一步的技术方案,所述治具机构包括一治具座,所述治具座上铰接有治具头,与所述治具头还铰接有治具握柄。进一步的技术方案，所述治具头朝向所述定位块方向设置且设置于所述定位块上方，所述治具握柄反向所述治具头方向设置。进一步的技术方案，所述治具握柄外部套设有防滑套。本技术的优点是1.本技术通过在底座上两侧分别对称设置两个治具机构，治具机构之间设置定位块，两个待测物放置于定位块上，再由治具机构进行夹持...
【技术保护点】
一种专用治具，包括一治具本体，其特征在于：所述本体由底座(1)构成，所述底座(1)上一侧分别设有两个治具机构，所述底座上另一侧对称设有治具机构，所述治具机构之间设有定位块(2)。
【技术特征摘要】
1.一种专用治具，包括一治具本体，其特征在于所述本体由底座(I)构成，所述底座(I)上一侧分别设有两个治具机构，所述底座上另一侧对称设有治具机构，所述治具机构之间设有定位块(2)。2.根据权利要求1所述的一种专用治具，其特征在于所述治具机构包括一治具座(6)，所述治具座(6)上铰接有治具头(3)...
【专利技术属性】
技术研发人员：章毅，
申请(专利权)人：昆山长泰钢品有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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