【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种探针检测装置，尤其涉及一种具有扳手避位槽的探针检测装置。技术背景电子探针(Electron Microprobe),全名为电子探针X射线显微分析仪,又名微区 X射线谱分析仪。可对试样进行微小区域成分分析。除H、He、L1、Be等几个较轻元素外，都 可进行定性和定量分析。电子探针的大批量是利用经过加速和聚焦的极窄的电子束为探针，激发试样中某 一微小区域，使其发出特征X射线，测定该X射线的波长和强度，即可对该微区的元素作定 性或定量分析。将扫描电子显微镜和电子探针结合，在显微镜下把观察到的显微组织和元 素成分联系起来，解决材料显微不均匀性的问题，成为研究亚微观结构的有力工具。电子探针有三种基本工作方式点分析用于选定点的全谱定性分析或定量分析， 以及对其中所含元素进行定量分析；线分析用于显示元素沿选定直线方向上的浓度变化； 面分析用于观察元素在选定微区内浓度分布。电子探针又称微区X射线光谱分析仪、X射线显微分析仪。其原理是利用聚焦的 高能电子束轰击固体表面，使被轰击的元素激发出特征X射线，按其波长及强度对固体表 面微区进行定性及定量化学分析。电子...
【技术保护点】
一种探针检测装置，包括：绝缘座、固定在绝缘座内的探针、设置在绝缘座上的扳手及开设在绝缘座前端的元件插口，检测时，向下按压扳手自由端，被检测元件插入元件插口内，松开扳手自由端，此时被检测元件与探针前端电性接触，通过探针后端所连接的设备可以检测被检测元件的相应指标，其特征在于：所述绝缘座上设有扳手避位槽。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：严定文，
申请(专利权)人：昆山诺瑞信机械设备有限公司，
类型：发明
国别省市：
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