电子元器件检测探针制造技术

本发明专利技术涉及一种电子元器件检测探针，更详细地涉及为了检查检查对象用电子元器件是否不良而将检查用检查装置与检查对象用电子元器件联接起来的电子元器件检测探针。本发明专利技术的电子元器件检测探针包括：气缸本体，其呈圆筒形；活塞本体，其从上述气缸本体的内部向外部进行往复运动；弹簧，其以包覆上述气缸本体和活塞本体的外周的方式形成，上述活塞本体的一部分进入上述气缸本体的内部后，借助上述弹簧的弹性向外部突出；检测部，其以从上述气缸本体延伸的方式形成，与用于接受电流流动检查的电子元器件联接；以及联接部，其以从上述活塞本体延伸的方式形成，与用于检查上述电子元器件的检查装置联接。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种电子元器件检测探针，更详细地涉及，为了检查作为检查对象的电子元器件是否不良而将检查用检查装置与作为检查对象的电子元器件联接起来的电子元器件检测探针。
技术介绍
电子元器件是电子结构的基础。通常以与两个以上的引线或者金属垫相连接的状态封装。电子元器件(如放大器、接收机、振动子等)通过锡焊在印刷电路基板(PCB)来相互连接，以起到特殊的功能。电子元器件可由如电阻器、蓄电器、晶体管、二极管等单一元件封装或者由如运算放大器、排阻、逻辑电路等集成电路构成。并且，微晶片(Micro-chip)是电路基板的电子电路高密度集成而成的晶片。这种微晶片、摄像机模块等电子元器件在完成组装之前将必须经过借助检查装置检查的过程，以确认是否处在正常状态。作为这种检查方法，有通过将电子元器件安装在检查用插口装置来进行检查的方法，为了在这种插口装置内无电子元器件破损地进行检查，将安装使用检查用检测探针。多个检查用检测探针安装在检查用插口与电子元器件联接，电流从与检查对象用电子元器件的多个点联接的检测探针流向检查装置一侧，从而对检查对象用电子元器件进行检查。以往，在将检测探针中与检查对象用电子元器件联接的部分和其他构成部件相互固定结合时，由于与检查对象用电子元器件联接的部分与所连接的其他构成部件的相互结合的面形成平滑形态，使得与检查对象用电子元器件联接的部分与所连接的其他构成部件借助沿着上下方向进行的加压来结合，因而存在相互间的连接断开或者易分离致使检查用检测探针的使用不方便的问题。尤其，检测探针与检查对象用电子元器件相连接，来使电流传导到检查用检查装置，从而通过所传导的电流来确认检查对象用电子元器件是否存在不良，这时，如果在检测探针的构成部件中相互连接微弱或断开，就会存在因通电状态不良，而无法正常进行电子元器件检查的问题。 而且，为了检查检查对象用电子元器件，检测探针的导电率要好，为此，对大部分检测探针进行金属镀敷，但是对由多种构成部件结合而成的检测探针进行金属镀敷，就存在作业复杂的问题。
技术实现思路
技术问题本专利技术是为了解决如上所述的以往的技术问题而提出的。本专利技术的电子元器件检测探针，其一目的在于，提供一种当与联接在检查对象用电子元器件的部分相连接的其他构成部件沿着上下方向相互连接时，确保连接牢固的电子元器件检测探针。本专利技术的电子元器件检测探针，其再一目的在于，提供一种使在检查对象用电子元器件流动的电流流向用于检查该检查对象用电子元器件的检查装置的检测探针，无论结合多种构成部件，都能提高检测探针的导电率的电子元器件检测探针。本专利技术的电子元器件检测探针，其另一目的在于，提供一种为了提高使电流在检查对象用电子元器件和检查用检查装置之间互相流动的检测探针的导电率，而使对上述检测探针进行金属镀敷的作业容易的电子元器件检测探针。技术方案本专利技术的电子元器件检测探针包括气缸本体，其呈圆筒形；活塞本体，其从上述气缸本体的内部向外部进行往复运动；弹簧，其以包覆上述气缸本体和活塞本体的外周的方式形成，上述活塞本体的一部分进入上述气缸本体的内部后，借助上述弹簧的弹性向外部突出；检测部，其以从上述气缸本体延伸的方式形成，与要接受电流流动检查的电子元器件联接；以及联接部，其以从上述活塞本体延伸的方式形成，与用于检查上述电子元器件的检查装置联接。接着，上述检测部包括检测销，其与上述电子元器件紧贴；以及检测本体，其以包覆上述检测销的方式进行固定。而且，在上述检测销的外径包括收容槽，所述收容槽沿着上述检测销的外表面沿着水平方向形成槽；在上述检测本体的内径包括固定突起，所述固定突起沿着水平方向突出形成，并收容于上述收容槽。接着，上述固定突起由从水平的四个方向向上述收容槽的方向突出的四个固定突起构成。并且，上述弹簧包括第一双重线和第二双重线，所述第一双重线和第二双重线由上述弹簧的与上述气缸本体和活塞本体相连接的前端和末端部分重叠而成。接着，上述弹簧的外皮进行了金属镀敷处理。同时，上述气缸本体包括支撑台肩，该支撑台肩用于支撑上述弹簧。接着，上述活塞本体还包括防脱离台肩，该防脱离台肩用于防止上述弹簧从上述气缸本体和活塞本体脱离。另一方面，上述弹簧以包覆上述气缸本体和活塞本体的状态位于上述检测部和联接部之间，使上述检测部和联接部之间的电流连接顺畅。接着，上述检测部中，与上述电子元器件联接的部分为半球形状的凸起的部分。从结果上讲，上述联接部中，与上述检查装置联接的部分包括多个联接片，所述多个联接片具有四棱锥形态。有利的效果本专利技术的电子元器件检测探针中，与检查对象用电子元器件联接的部分与所连接的其他构成部件相互牢固地连接，能够明确地对检查对象用电子元器件进行检查，从而具有能够提高检查的可靠性的使用上的效果。本专利技术的电子元器件检测探针，即使使用由多种构成部件互相结合而成的检测探针，也能够提高检测探针的导电率，从而具有能够实施准确的检查对象用电子元器件检查的使用上的效果。本专利技术的电子元器件检测探针，为了提高检测探针的导电率而使得对上述检测探针进行金属镀敷的作业流畅，从而具有在提高金属镀敷作业效率的同时还能够提高检测探针的导电率的使用上的其他效果。附图说明图I是表示本专利技术的电子元器件检测探针的整体立体图。图2是表示本专利技术的电子元器件检测探针的剖面的剖视图。图3是表示本专利技术的电子元器件检测探针的实施例的剖视图。图4是表示本专利技术的电子元器件检测探针的使用状态的剖视图。具体实施例方式要后述的对于本专利技术的详细说明将参照例示性地图示出能够实施本专利技术的特定实施例的附图。为了使本领域技术人员能够充分实施本专利技术，将对这些实施例进行详细说明。虽然本专利技术的多种实施例互不相同，但应理解为不应该相互排斥。例如，针对一实施例，有关记载于此的特定形状、结构及特性，在不超出本专利技术的精神及范围的情况下，可通过其他实施例来实施。并且应理解为，在不超出本专利技术的精神及范围的情况下，所公开的各个实施例中的个别构成部件的位置或者配置可变更。因此，后述的详细说明并不是限定性的。只要适当说明，本专利技术的范围仅由权利要求书的主张、与此等同的所有范围和所附的权利要求限定。附图中相似的附图标记在多个侧面均指相同或相似的功能，为了方便说明，长度、面积及厚度等及其形态有可能放大。以下，为了使本专利技术所属
的普通技术人员能够容易地实施本专利技术，将参照附图对本专利技术的优选实施例进行详细说明。以下的详细说明中，将以如下的探针为主进行说明，该探针通过气缸本体100、活塞本体200、检测部300、联接部400来对电子元器件10进行检测，上述气缸本体100呈圆筒形；上述活塞本体200借助通过弹簧50的弹力从上述气缸本体100的内部向外部进行往复运动；上述检测部300以从上述气缸本体200延伸的方式形成，与要接受电流流动检查的电子元器件10联接；上述联接部400以从上述活塞本体延伸的方式形成，与用于检查上述电子元器件10的检查装置30联接。但是本专利技术并不限定于此，在整个检查电子元器件不良的
，可共同适用电子元器件检测探针(尤其，气缸本体100、活塞本体200以及弹簧50)的技术结构是显而易见的。电子元器件内可设置有由多个电路基板电子电路高密度集成而成的微晶片(Micro-chip)。为了确认在这种电子元器件内电流流动是本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑羽烈，
申请(专利权)人：NTS有限公司，
类型：
国别省市：