含氧化锡纳米粉中杂质元素分析方法技术

本发明专利技术介绍了含氧化锡纳米粉中杂质元素的分析方法，采用电感耦合等离子体原子发射光谱法，通过对含氧化锡纳米粉溶样用试剂种类、用量和方法的选择，解决含氧化锡纳米粉的不易分解的问题；通过酸度条件和仪器参数选择消除实验干扰，解决锡、锑的易水解、干扰元素多不易测定、测试背景值高等方面的难题；通过方法检出限均在0.003%之下、相对标准偏差在10%以内、方法相关系数在0.998以上、回收率在85%~130%之间，分析速度速，数据准确，误差满足常规要求，可确保含氧化锡纳米粉的质量和性能的稳定。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种材料分析测试技术，特别是一种。
技术介绍
随着科技的快速发展，纳米材料因具有特殊的、优异的性能而得到广泛的应用。含氧化锡纳米粉有含氧化锡纳米粉、含氧化铟和氧化锡纳米粉(即ITO粉)、含氧化锡和氧化锑纳米粉、含氧化铟、氧化锡和氧化锑纳米粉等。这些含氧化锡的纳米粉性能优异，应用广泛。譬如，ITO有优良的导电性和可见光透明性，作为当今信息产业重要的电子材料产品，其主 要应用于液晶显示、太阳能电池、固体电色(EC)器件、电磁屏蔽、雷达屏蔽保护和节能建筑等领域。但杂质元素(尤其是Fe和Si)的存在对ITO等纳米粉的性能影响极大，杂质元素含量的高低决定着含氧化锡纳米粉的品质，ITO粉等含氧化锡纳米粉品质的优劣直接影响到它的应用领域。因此须对含氧化锡纳米粉中杂质元素进行测定。含氧化锡纳米粉中杂质元素含量很低，对这些含氧化锡纳米粉中杂质元素的分析不宜采用X-荧光方法、滴定法等，只宜采用分光光度法、AAS法或ICP-AES法。而采用这些方法首先要解决的问题是将试样制备成溶液。而由于含氧化锡纳米粉材料成份和工艺的特殊性使得含氧化锡纳米粉材料很难溶解，溶解的部分又由于锡极易水解而致使溶本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种含氧化锡纳米粉中杂质元素分析方法，选择电感耦合等离子体原子发射光谱法，使用电感耦合等离子体发射光谱仪进行测试，其特征是具体过程为：步骤1、样品处理方法：准确称取0.1000g～1.000g样品，采用1g～5g氢氧化钠和0.5g～5g过氧化钠混合熔剂，在580℃?650℃保温20?min～40min，取出冷却至室温；然后置于烧杯中加温水浸取，将坩埚及坩埚盖冲干净拿出；在烧杯中加入20mL～40mL盐酸，加热溶解；待冷却后，定容至聚四氟乙烯容量瓶中；随试样做空白溶液；步骤2、工作参数的选择包括：电感耦合等离子体发射光谱仪最佳工作参数范围：高频功率：1.2?KW??1.5KW；冷却气流量：15?...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：杜米芳，高灵清，杜丽丽，
申请(专利权)人：中国船舶重工集团公司第七二五研究所，
类型：发明
国别省市：