元素分析装置以及方法制造方法及图纸

本发明专利技术实现了不使用气体就能够形成等离子体，能够小型轻量化的能够通过电气加热法进行原子吸光分析的元素分析装置。样品通过送液部（101）从流路（102）被送到原子化部（103），在电极（118）间施加电压。当在电极（118）上施加了电压时，电流和电场集中在原子化部（103），产生气泡，在该气泡中产生等离子体（110），通过等离子体（110）将样品中的元素原子化。通过光纤（105）等接受从光源（109）照射到原子化部（103）并透过的来自光源的光（111），并通过分光器（106）进行分光。通过检测器（107）检测该分光后的光量，并通过计算机（108）分析。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及进行原子吸光分析的元素分析装置及方法。
技术介绍
在元素分析中广泛使用感应结合式等离子体发光分析装置(ICP发光分析装置)或原子吸光光度计等。感应结合式等离子体发光分析装置通过分光器的选择或检测器的选择，能够通过一次测定分析多个元素。另一方面，原子吸光光度计一般能够通过一次测定而测定单元素。在原子吸光光度计的情况下，有构架(frame)法和电气加热炉法。前者将样品导入到构架中，进行原子化， 后者向电气加热炉中分别注入采样，对炉施加电压来加热进行原子化。是在该原子化的状态下照射来自光源的光而测定吸光度的元素分析方法。作为电气加热法的例子，使用在专利文献I中记载的高频感应加热来加热采样，进行原子化使产生等离子体。现有技术文献专利文献专利文献I :日本特开平1-161651号公报
技术实现思路
专利技术要解决的课题但是，专利文献I中记载的技术使用高频波电力产生等离子体，因此需要用于形成等离子体的氩气等气体。因此，现有技术中的基于电气加热法的原子吸光光度计需要气体供给单元以及对气体供给单元的气体泄漏的对策，元素分析装置大型化，重量也重，导致使用不便。本专利技术的目的在于实现一种不本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2010.04.12 JP 2010-0913711.ー种原子吸光元素分析装置，其特征在于，包括 使测定样品原子化的原子化部(103)； 配置在上述原子化部(103)上的两个电极(118)； 向上述两个电极(118)施加电压，使位于上述原子化部(103)内的测定样品中产生等离子体的电源部(104)； 向上述原子化部(103)照射光的光源(109);以及 检测通过了在位于上述原子化部(103)的测定样品中产生的等离子体的来自上述光源(109)的光，分析测定样品的原子吸光的原子吸光分析部(105 108)。2.根据权利要求I所述的原子吸光元素分析装置，其特征在干， 上述原子吸光分析部(105 108)具备 分光器(106)，其对通过了在上述测定样品中产生的等离子体的来自上述光源(109)的光进行分光；以及 检测器(107 )，其检测通过该分光器(106 )分光后的光。3.根据权利要求2所述的原子吸光元素分析装置，其特征在干， 还具备与上述原子化部(103)连接的流路(102);以及经由该流路(102)向上述原子化部(103 )输送测定样品的送液部(101)。4.根据权利要求3所述的原子吸光元素分析装置，其特征在干， 上述原子吸光分析部(105 108)具有对通过上述检...

【专利技术属性】
技术研发人员：栗田浩二，白崎俊浩，越裕之，
申请(专利权)人：株式会社日立高新技术，
类型：
国别省市：