本发明专利技术公开了一种火花直读光谱仪的小试样辅助装置，包括装置本体（3-1），其上设有腔体（3-4），并具有安装面（A）；其特征在于；该小试样的辅助装置还包括与所述装置本体（3-1）相连接的缩孔环（3-2），所述缩孔环（3-2）的厚度为1mm以下，其上设有测试孔（3-3）和检测面（B），所述腔体（3-4）与测试孔（3-3）相互贯通，腔体（3-4）的尺寸大于测试孔（3-3）的尺寸；所述装置本体（3-1）的安装面（A）与所述缩孔环（3-2）的检测面（B）为同一平面。本发明专利技术具有适用范围较大且精度较高、结构简单的优点。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及火花直读光谱仪，具体涉及一种火花直读光谱仪的小试样辅助装置。
技术介绍
在直读光谱检测中，通常采用火花直读光谱仪对金属试样中化学元素的含量进行精确的定量分析。金属试样的端面被加工成光洁表面后，其面积大于时,可直接在直读光谱仪器上对试样的化学成分进行精确的定量分析。但对光洁面直径小于O20mm的试样，仪器就不能进行化学成分检测分析，必须要用仪器配置的小试样辅助装置，才能对小于O20mm的试样进行化学成份分析。现有的小试样辅助装置，例如瑞士生产的ARL 3460型火花直读光谱仪所配置的小试样辅助装置，参见图1，该小试样辅助装置由密封盖1-1、装置本体1-2、旋转手柄1-3和三爪1-4组成；装置本体1-2具有台阶腔体1-5，该台阶腔体1-5横向形状为圆形、纵向截面为台阶柱体，由上部1-51和下部1-52组成，上部1-51的直径大于下部1-52的直径；装置本体1-2还具有工作平面1-6 ;密封盖1-1的形状尺寸与上部1-51的形状尺寸相适配；旋转手柄1-3套装于装置本体1-2外沿上；三爪1-4连接于装置本体1-2的台阶腔体1-5中。该小试样辅助装置工作原理如下把达到加工要求的棒状小试样放入装置本体1-2的台阶腔体1-5中，旋转旋转手柄1-3，使三爪1-4夹紧棒状小试样，并使小试样的端面与装置本体1-2的工作平面1-6成一个平面，之后再把密封盖1-1放入腔体1-5的上部1-51，使台阶腔体1-5成为一个密闭的空间。检测时，工作平面1-6上的圆孔对准仪器工作台面上的激发孔洞，由于仪器发射腔中有加压的惰性气体，所以台阶腔体1-5内也充满了加压的惰性气体，并从不密闭的地方溢出，这就保证了外界的空气不会进入仪器的发射腔内，也就保证了不会对仪器产生干扰。但是，该小试样辅助装置由于台阶腔体1-5横向形状为圆形、纵向截面为台阶柱体，当它与仪器的发射腔成为一个共同的腔体时，无形中增大了仪器发射腔的容积。这样就对仪器的工作曲线有所改变，所以在作发射光谱分析时，准确度就不高，只能检测03，06, 09的柱状小试样，不能检测块状小试样，适用范围较小，并且只能进行半定量的检测，不能对试样的化学成份进行精确的定量分析，且该小试样辅助装置结构复杂、组成的零件较多，不易加工制造。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种精度较高、结构简单的火花直读光谱仪的小试样辅助装置。为解决上述技术问题，本专利技术的火花直读光谱仪的小试样辅助装置包括装置本体、其上设有腔体，并具有工作平面；其特征在于；该小试样的辅助装置还包括与所述装置本体)相连接的缩孔环，所述缩孔环的厚度为Imm以下，其上设有测试孔和检测面，所述腔体与测试孔相互贯通，腔体的尺寸大于测试孔的尺寸；所述装置本体的安装面与所述缩孔环的检测面为同一平面。所述腔体的横向形状为两端为圆弧的条形，纵向截面为直柱体； 所述测试孔的直径约为8mm ； 所述缩孔环的外径与仪器工作面上的测试孔洞的直径相适配；最好是所述缩孔环的外径小于仪器工作面上的测试孔洞的直径； 所述装置本体为圆柱体； 所述缩孔环为圆柱体； 所述装置本体的外径大于所述缩孔环的外径； 当进行小试样检测分析时，把缩孔环镶嵌在仪器工作面的测试孔洞内，装置本体的安装面与仪器的工作面无间隙地紧密贴合，这样就保证了缩孔环的检测面也与仪器的工作面为同一平面。由于测试孔的直径约为8_，这时仪器工作面上的测试孔洞就也相应缩小到约8_。用被加工成光洁面的小试样放入装置本体的腔体内并盖住缩孔环上的测试孔；由于所述缩孔环的外径小于仪器工作面上的测试孔洞的直径，因而，缩孔环与仪器的测试孔洞之间形成间隙。同时小试样与缩孔环上的测试孔也形成间隙；由于仪器的发射腔内有加压的(0. 3Mpa)惰性气体，它会从缩孔环与仪器的测试孔洞之间形成的间隙和小试样与缩孔环上的测试孔之间的间隙中溢出，保证了外界的空气不能进入仪器测试腔内，检测数据的精密度和准确度就得到了保证。同时，与现有技术相比，本专利技术的小试样辅助装置不需要现有小试样辅助装置中的旋转手柄，三爪等。因而减少了零件、简化了结构。附图说明图1为现有火花直读光谱仪的小试样辅助装置的剖面示意图 图2为本专利技术火花直读光谱仪的小试样辅助装置的立体图 图3是本专利技术火花直读光谱仪的小试样辅助装置的剖视图 图中，密封盖1-1、装置本体1-2、旋转手柄1-3、三爪1-4、台阶腔体1-5，上部1-51、下部1-52、工作平面1-6 ;装置本体3-1、缩孔环3-2、测试孔3-3、腔体3_4安装面A、检测面B具体实施例方式下面，结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细说明 参见图2和图3所示，本专利技术的火花直读光谱仪的小试样辅助装置包括装置本体3-1，其上设有腔体3-4，并具有安装面A ;该小试样辅助装置还包括与所述装置本体3-1相连接的缩孔环3-2，所述缩孔环3-2的厚度必须为Imm以下。如果缩孔环3_2的厚度的厚度大于Imm,将遮挡发射腔中光电倍增管对光谱的采集，会影响分析结果的准确性。所述缩孔环3-2上设有测试孔3-3和检测面B ;所述装置本体3-1上的腔体3-4与缩孔环上的测试孔3-3之间相互贯通；腔体3-4的尺寸大于测试孔3-3的尺寸。这样，当放入腔体3-4的分析小试样的端面也比测试孔3-3的尺寸大时，该小试样才能完全盖住测试孔3-3，使外界物质不能进入仪器的发射腔里，以影响分析结果；所述装置本体3-1的安装面A与所述缩孔环3-2的检测面B为同一平面，以保证缩孔环3-2放入仪器的测试孔后，测试孔3-3与仪器的工作面也为同一个平面。所述腔体3-4的横向形状为两端为圆弧的条形，纵向截面为直柱体。该腔体3-4用于被测小试样放入的一个空间。小试样放入其中，才能盖住缩孔环3-2上的测试孔3-3。所述腔体3-4的横向形状为两端为圆弧的条形，加工比较容易，而其它形状的加工要稍难一些。所述测试孔3-3的直径约为8mm。如果测试孔3_3的直径太小于8mm，测试孔3-3的边沿就会被激发，会严重的影响分析的准确性。如果测试孔3-3的直径太大于8mm，就有一些小试样不能在小试样装置上进行理化检测分析。例如，测试孔3-3的直径为12mm，那么8mm至12mm的被测小试样就不能在小试样装置上进行理化分析。所述缩孔环3_2的外径与仪器工作面上的测试孔洞的直径相适配，最好是所述缩孔环3-2的外径小于仪器工作面上的测试孔洞的直径；缩孔环3-2的外径与仪器工作面上的测试孔洞的直径相适配，主要是便于缩孔环3-2的取放，如果缩孔环3-2的外径太小，当它放入测试孔洞后，会产生很大的间隙，不利于发射腔的密闭。如果缩孔环3-2的外径太大，就会产生紧配合，虽然间隙很小，但是取放缩孔环3-2就不方便了。所述装置本体3-1为圆柱体，矩形等，这样的形状便于加工制造和拿取使用；所述缩孔环3-2为圆柱体；所述装置本体3-1的外径大于所述缩孔环3-2的外径。缩孔环3-2与装置本体3-1是连接成一体的，当装置本体3-1沉入激发孔洞时，由于装置本体3-1的外径大于缩孔环3-2的外径，也就是大于仪器的工作台面上的激发孔洞，所以装置本体3-1是搁置在仪器的工作台面上的，这样就保证了缩孔环3-2不会掉入激发腔内，并保证了缩孔环3-2的B面与工作台面成为同一个平面。本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种火花直读光谱仪的小试样辅助装置，包括装置本体（3?1），其上设有腔体（3?4），并具有安装面（A），其特征在于；其还包括与所述装置本体（3?1）相连接的缩孔环（3?2），所述缩孔环(3?2)的厚度为1mm以下，其上设有测试孔（3?3）和检测面（B），所述腔体（3?4）与测试孔（3?3）相互贯通，腔体（3?4）的尺寸大于测试孔（3?3）的尺寸；所述装置本体（3?1）的安装面（A）与所述缩孔环（3?2）的检测面（B）为同一平面。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：谭世榆，蒋启翠，李世碧，邓琼，
申请(专利权)人：重庆望江工业有限公司，
类型：发明
国别省市：
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