一种玻璃基板粘合线的测量方法技术

本发明专利技术公开了一种玻璃基板粘合线测量方法，包括如下步骤：1）将具有断面的玻璃基板样品，断面朝上固定于带有尺寸测量刻度的显微镜的载物台上；2）用光源照射玻璃基板样品表面；3）调整显微镜，使所述玻璃基板样品断面出现在显微镜的视野内，调整显微镜的目镜到玻璃基板断面的距离和焦距，使玻璃基板样品断面清晰可见；4）调整光源发出的光线与玻璃基板样品之间的夹角，以便在显微镜里观察到玻璃基板样品的粘合线；5）调节刻度线在视野中的位置，使显微镜目镜上的刻度线与玻璃基板样品的粘合线对齐，测量粘合线两侧玻璃基板厚度。本发明专利技术提供的玻璃基板粘合线测量方法，测量简单、精确度高，能够很精确地测量出玻璃基板粘合线两侧玻璃板厚度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于玻璃基板制造
，尤其涉及。
技术介绍
玻璃基板成型时，采用在热态下将两片玻璃液自粘在一起，形成一片玻璃，在粘合面上对同一条光线的折射角度会略有不同，用强光照射玻璃基板表面时，在粘合面上就会出现一条隐约可见的线条，把这条线就叫粘合线。粘合线两侧的玻璃板厚度数据，代表了成型炉内设备的温度、水平状态等特性，所以粘合线是玻璃基板制造过程中的重要数据，需要进行精确测量。现有的粘合线测量技术是，取一小片玻璃基板，对着一固定光源，改变玻璃基板的角度，能够看见粘合线时，目测粘合线两侧玻璃板厚度。现有的粘合线测量技术存在如下问题(I)由于玻璃基板很薄，看见的粘合线隐隐约约，不稳定，测量难度很大；(2)目视测量，精确度极差。
技术实现思路
本专利技术解决的问题在于提供，测量简单、精确度高，能够很精确地测量出玻璃基板粘合线两侧玻璃板厚度。本专利技术是通过以下技术方案来实现一种玻璃基板粘合线测量方法，包括如下步骤I)将具有断面的玻璃基板样品，断面朝上固定于带有尺寸测量刻度的显微镜的载物台上；2)用光源照射所述玻璃基板样品表面；3)调整显微镜，使所述玻璃基板样品断面出现在显微镜的视野内，然后本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种玻璃基板粘合线测量方法，其特征在于，包括如下步骤：1）将具有断面的玻璃基板样品，断面朝上固定于带有尺寸测量刻度的显微镜的载物台上；2）用光源照射所述玻璃基板样品表面；3）调整显微镜，使所述玻璃基板样品断面出现在显微镜的视野内，然后进一步调节焦距，使所述玻璃基板样品断面清晰可见；4）调整光源发出的光线与所述玻璃基板样品之间的夹角，以便在显微镜里观察到所述玻璃基板样品的粘合线；5）调节刻度线在视野中的位置，使显微镜目镜上的刻度线与所述玻璃基板样品的粘合线对齐，测量粘合线两侧玻璃基板厚度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：吕军顺，李华，马云静，
申请(专利权)人：彩虹张家港平板显示有限公司，
类型：发明
国别省市：