一种显微镜测量检验支架制造技术

本实用新型专利技术提供了一种测量精度高、工作效率高的显微镜测量检验支架，包括检验支架底板、位于检验支架底板中心的中空的观察窗、以及位于检验支架底板上的用于固定测试物的定位销，用于压紧测试物的测试压板，所述检验支架底板的下方设有磁铁。本实用新型专利技术的显微镜测量检验支架，由于将检验支架底板固定在测量显微镜的螺丝固定孔上并锁紧，保证了测试底板X轴、Z轴向水平，确保了测量精度，简化了操作过程，提高了工作效率。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

一种显微镜测量检验支架
本技术涉及一种检验支架，尤其是一种显微镜测量检验支架。
技术介绍
在IC卡模块检验过程中，需要在电子测量显微镜下对模块的包封区域进行测量， 测量时需保证测试物X轴向水平，一般此过程的调整需要对测试物进行复杂的手动调节， 增加了检验员的工作量，且工作效率不高。同时在测量其他项目时也会因为产品没有可靠的固定而使产品滑落，导致测试数据不准。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种测量精度高、工作效率高的显微镜测量检验支架。实现本技术目的的显微镜测量检验支架，包括检验支架底板、位于检验支架底板中心的中空的观察窗、位于检验支架底板上的用于固定测试物的定位销、以及用于压紧测试物的测试压板，所述检验支架底板的下方设有磁铁。本技术的显微镜测量检验支架的有益效果如下本技术的显微镜测量检验支架，能将物体可靠地固定在显微镜的检验台上，同时保证了测试物的X轴及Z轴向的水平放置，确保了测量精度，简化了操作过程，提高了工作效率。附图说明图I为本技术的显微镜测量检验支架的结构示意图。具体实施方式本技术的实施例如下如图I所示，本技术的显微镜测量检验支架，包括检验支架底板1，位于检验支架底板I中本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显微镜测量检验支架，其特征在于：包括检验支架底板、位于检验支架底板中心的中空的观察窗、位于检验支架底板上的用于固定测试物的定位销、以及用于压紧测试物的测试压板，所述检验支架底板的下方设有磁铁。

【技术特征摘要】
1.一种显微镜测量检验支架，其特征在于包括检验支架底板、位于检验支架底板中心的中空的观察窗、位于检...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐娜，
申请(专利权)人：山东齐芯微系统科技有限公司，
类型：实用新型
国别省市：