本实用新型专利技术提供一种IC卡模块显微镜测量用压板。所述IC卡模块显微镜测量用压板包括底座、控制箱、样品存放槽和上压板，所述底座、所述控制箱和所述上压板依次连接，所述样品存放槽贯穿所述控制箱，并与所述上压板抵接。本实用新型专利技术提供的所述IC卡模块显微镜测量用压板解决了现有技术的IC卡测量装置工作效率低，测试数据不准的技术问题。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及IC卡生产领域，具体涉及一种IC卡模块显微镜测量用压板。
技术介绍
IC卡是一种集成电路卡片。在IC卡模块的检验过程中，需要电子测量显微镜对载带上的芯片、金线等进行高度等项目的测量，测量时需保证载带处于水平无翘曲状态放置。通常操作员通过两块压板压紧载带两侧来实现，当需调整测量角度时需对待测样品和压板多次重复手动调节，增加了检验员的工作量，工作效率不高，而且在调整压板时容易碰到金线使之变形，导致需多次重复样品提供。当压板位置偏移时可能存在载带翘曲，致测试数据不准。
技术实现思路
为解决现有技术的IC卡测量装置工作效率低，测试数据不准的技术问题，本技术提供一种工作效率高，测试数据准确的IC卡模块显微镜测量用压板。—种IC卡模块显微镜测量用压板，包括底座、控制箱、样品存放槽和上压板，所述底座、所述控制箱和所述上压板依次连接，所述样品存放槽贯穿所述控制箱，并与所述上压板抵接。在本技术提供的IC卡模块显微镜测量用压板的一种较佳实施例中，所述底座包括底座本体和卡扣，所述卡扣设于所述底座本体一侧。在本技术提供的IC卡模块显微镜测量用压板的一种较佳实施例中，所述控制箱包括控制箱本体和控制旋钮，所述控制旋钮设于所述控制箱本体一侧。在本技术提供的IC卡模块显微镜测量用压板的一种较佳实施例中，所述样品存放槽为“U”型样品存放槽。在本技术提供的IC卡模块显微镜测量用压板的一种较佳实施例中，所述上压板包括上压板本体和视窗，所述视窗设于所述上压板本体中部。在本技术提供的IC卡模块显微镜测量用压板的一种较佳实施例中，所述上压板还包括调整销，所述控制箱本体通过所述调整销与所述上压板本体连接。相较于现有技术，本技术提供的所述IC卡模块显微镜测量用压板具有以下有益效果:—、利用所述IC卡模块显微镜测量用压板测量载带时，直接将待测量的载带插入所述样品存放槽，测量载带的操作更简便，减少了检验员的工作量，提高了工作效率。二、所述IC卡模块显微镜测量用压板利用所述控制旋钮调整所述上压板，无需直接接触载带，避免了多次重复提供样品。三、所述IC卡模块显微镜测量用压板利用所述上压板压紧载带，压紧时更为稳固，测量数据更准确。【附图说明】为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中:图1是本技术提供的IC卡模块显微镜测量用压板的结构示意图。【具体实施方式】下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。请参阅图1，是本技术提供的IC卡模块显微镜测量用压板的结构示意图。所述IC卡模块显微镜测量用压板I包括底座11、控制箱12、样品存放槽13和上压板14。所述底座11包括底座本体111和卡扣112。所述卡扣112设于所述底座本体111一侧。所述控制箱12包括控制箱本体121和控制旋钮122。所述控制旋钮122设于所述控制箱本体121 —侧。所述上压板14包括上压板本体141、视窗142和调整销143。所述底座本体111、所述控制箱本体121、所述调整销143和所述上压板本体141依次连接。所述视窗142设于所述上压板本体141中部。所述样品存放槽13设于所述控制箱本体121顶部，且贯穿所述控制箱本体121，并与所述上压板本体141抵接。具体实施时，移动所述卡扣112，使所述卡扣112卡紧于桌面，使所述IC卡模块显微镜测量用压板I也卡紧于桌面。随后旋转所述控制旋钮122，调整所述调整销143的高度，使所述上压板本体141与所述样品存放槽13之间的距离增加。将待测量的载带插入所述样品存放槽13，再次旋转所述控制旋钮122，使所述上压板本体141压紧待测量的载带，确保载带处于水平、无翘曲变形的状态。载带固定完毕后，使用电子测量显微镜透过所述视窗142对载带上的芯片、金线等进行高度等项目的测量。优选的，所述样品存放槽13为“U”型样品存放槽。“U”型的所述样品存放槽13更便于待测量载带的插入，压紧时也更为稳固。相较于现有技术，本技术提供的所述IC卡模块显微镜测量用压板I具有以下有益效果:—、利用所述IC卡模块显微镜测量用压板I测量载带时，直接将待测量的载带插入所述样品存放槽13，测量载带的操作更简便，减少了检验员的工作量，提高了工作效率。二、所述IC卡模块显微镜测量用压板I利用所述控制旋钮122调整所述上压板14，无需直接接触载带，避免了多次重复提供样品。三、所述IC卡模块显微镜测量用压板I利用所述上压板14压紧载带，压紧时更为稳固，测量数据更准确。以上所述仅为本技术的实施例，并非因此限制本技术的专利范围，凡是利用本技术说明书内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的
，均同理包括在本技术的专利保护范围之内。【主权项】1.一种IC卡模块显微镜测量用压板，其特征在于:包括底座、控制箱、样品存放槽和上压板，所述底座、所述控制箱和所述上压板依次连接，所述样品存放槽贯穿所述控制箱，并与所述上压板抵接。2.根据权利要求1所述的IC卡模块显微镜测量用压板，其特征在于:所述底座包括底座本体和卡扣，所述卡扣设于所述底座本体一侧。3.根据权利要求1所述的IC卡模块显微镜测量用压板，其特征在于:所述控制箱包括控制箱本体和控制旋钮，所述控制旋钮设于所述控制箱本体一侧。4.根据权利要求1所述的IC卡模块显微镜测量用压板，其特征在于:所述样品存放槽为“U”型样品存放槽。5.根据权利要求3所述的IC卡模块显微镜测量用压板，其特征在于:所述上压板包括上压板本体和视窗，所述视窗设于所述上压板本体中部。6.根据权利要求5所述的IC卡模块显微镜测量用压板，其特征在于:所述上压板还包括调整销，所述控制箱本体通过所述调整销与所述上压板本体连接。【专利摘要】本技术提供一种IC卡模块显微镜测量用压板。所述IC卡模块显微镜测量用压板包括底座、控制箱、样品存放槽和上压板，所述底座、所述控制箱和所述上压板依次连接，所述样品存放槽贯穿所述控制箱，并与所述上压板抵接。本技术提供的所述IC卡模块显微镜测量用压板解决了现有技术的IC卡测量装置工作效率低，测试数据不准的技术问题。【IPC分类】G01B11/02, G01B11/00【公开号】CN204902770【申请号】CN201520607013【专利技术人】国鹏 【申请人】山东齐芯微系统科技有限公司【公开日】2015年12月23日【申请日】2015年8月13日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种IC卡模块显微镜测量用压板，其特征在于：包括底座、控制箱、样品存放槽和上压板，所述底座、所述控制箱和所述上压板依次连接，所述样品存放槽贯穿所述控制箱，并与所述上压板抵接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：国鹏，
申请(专利权)人：山东齐芯微系统科技有限公司，
类型：新型
国别省市：山东;37
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