一种口腔修复体支架制作精度的检测方法技术

本发明专利技术提供一种口腔修复体支架制作精度的检测方法，通过测量修复体支架表面设定点的三维线性变形程度来检测精度。本发明专利技术不需破坏口腔修复体支架，保证了支架检测前后的完整性；将检测过程数字化；检测精度高，简单方便；无需应用显微计算机断层扫描仪器，数据处理简单，降低了检测费用及技术难度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及机械加工精度检测领域，具体涉及。
技术介绍
随着口腔修复体的设计越来越复杂，其加工精度的要求越来越高，计算机扫描技术的应用也越来越广泛。修复体的加工精度直接影响患者的口腔健康及修复体的使用寿命O目前，国内外检测口腔修复体精度的方法主要有六点测量法、硅橡胶轻体替代法以及显微计算机断层扫描技术。其中六点测量法由于切割产生的热量对代型和支架组织面有影响而产生较大误差，影响测量精度，而且会破坏修复体支架；硅橡胶轻体替代法存在硅橡胶轻体变形及测量点有限等问题，并且此两种方法局限于检测口腔单冠修复体的精度；显微计算机断层扫描技术则需要进行大量的数据处理并需要专门的仪器，检测过程复杂。因此，专利技术一种方便简洁、不破坏待测支架、不局限于口腔修复体种类并具有数字化特点的方法来检测口腔修复体的精度具有重要意义。
技术实现思路
本专利技术的目的是针对现有检测口腔修复体支架制作精度的方法中存在的问题，提供。本专利技术采用的技术方案如下: ，通过测量修复体支架表面设定点的三维线性变形程度来检测精度，步骤如下:1)用扫描仪扫描代型，转化成数据输入计算机，在计算机上形成扫描复制的三维图像，在计算机上根据扫描的代型设计出虚拟修复体支架； 2)按照预先设定用光斑在虚拟修复体支架的X、Y、Z三个轴向分别设计测量点，测量出任意两个测量点之间的距离，定义为标准数据； 3)取按照上步设计加工完成的待检测支架，用扫描仪扫描加工完成的支架，将数据输入计算机，在计算机上形成扫描复制的三维图像，按照步骤2的操作测量出任意两个测量点之间的距离，定义为实际测量数据； 4)对步骤2获得的标准数据与步骤3获得的实际测量数据进行比较，获得实际测量数据与标准数据的差异； 5)对步骤4获得的差异数据进行分析，获得待测修复体支架的加工精度结果。所述光斑的直径为0.2mm。所述步骤5中对差异数据进行分析的方法是通过统计软件统计后生成图形文件或报表的方法。与现有的技术相比，本专利技术的有益效果是:不需破坏口腔修复体支架，保证了支架检测前后的完整性；将检测过程数字化；检测精度高，简单方便；无需应用显微计算机断层扫描仪器，数据处理简单，降低了检测费用及技术难度。【附图说明】图1实施例1中使用相同参数设计冠桥支架(B模型)； 图2实施例1中用直径0.2mm的光斑在冠桥支架的颊面定4个点(B模型)； 图3实施例1中用直径0.2mm的光斑在冠桥支架的舌面定2个点(B模型)； 图4实施例1中2单位联冠Xl (颊面龈龈)标准值=7.14mm ； 图5实施例1中2单位联冠X2 (舌面龈龈)标准值=8.0Omm ； 图6实施例1中2单位联冠Yl (颊面合龈对角)标准值=11.89mm ； 图7实施例1中2单位联冠Y2 (颊面合龈对角)标准值=7.80mm ； 图8实施例1中2单位联冠Zl (颊舌龈龈对角)标准值=9.37mm ； 图9实施例1中2单位联冠Z2 (颊舌龈龈对角)标准值=9.25mm ； 图10实施例1中切削成型法的4单位固定桥Xl=25.86mm (样本2); 图11实施例1中选择性激光熔覆法的2单位联冠Yl=Il.83mm (样本2); 图12实施例1中传统失蜡铸造方法的3单位固定桥Z2=16.69mm (样本3)； 图13实施例1中加工出的冠桥支架上6个距离汇总后实际测量值与标准值的差异(均值土标准差，mm)； 图14实施例2中用直径0.2mm的光斑在冠桥支架定测量点后的标准值； 图15实施例2中切削成型法加工后的测量值； 图16实施例2中切削成型法加工后的测量值； 图17实施例2中选择性激光熔覆法加工后的测量值。【具体实施方式】 ，更为具体的步骤如下: ，通过测量修复体支架表面设定点的三维线性变形程度来检测精度，它的具体步骤如下: 1)用牙科扫描仪扫描代型，将扫描结果转化成数据输入计算机，在计算机上根据扫描的代型应用口腔修复体设计软件设计出虚拟修复体支架； 2)按照预先设定用直径0.20mm的光斑在虚拟修复体支架的X、Y、Z三个轴向分别设计测量点，测量点的数目至少为3个，测量出任意两个测量点之间的距离，定义为标准数据；(例如:颊面和舌面分别设计测量点，共6个点，具体位置为支架颊侧的合端2点在边缘下2mm，颊侧銀端的2点在边缘下2mm，但合端2点与銀端的2点不在一条垂直线上(偏离1mm左右)，舌侧龈端的2点在边缘下2mm ;)选择用0.20mm的光斑标记是根据设计软件的识别度，如果直径过小，则加工不出来；如果直径过大，则加大测量误差。3)取按照上步设计加工完成的待检测支架，此时，加工完成的修复体支架上的光斑突起会一同制作出来，用扫描仪扫描加工完成的支架，将扫描结果转化成数据输入计算机，转化为STL格式，按照步骤2的操作测量出任意两个测量点之间的距离，定义为实际测量数据； 4)对步骤2获得的标准数据与步骤3获得的实际测量数据进行比较，获得实际测量数据与标准数据的差异； 5)对步骤4获得的差异数据进行分析，获得待测修复体支架的加工精度结果。 下面结合附图对本专利技术的【具体实施方式】作进一步的说明: 实施例1:通过测量支架表面设定点的三维线性变形程度来测量精度，具体步骤如下: I)试件制作:准备标准当前第1页1 2 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种口腔修复体支架制作精度的检测方法，其特征在于：通过测量修复体支架表面设定点的三维线性变形程度来检测精度，步骤如下：1）用扫描仪扫描代型，转化成数据输入计算机，在计算机上形成扫描复制的三维图像，在计算机上根据扫描的代型设计出虚拟修复体支架；2）按照预先设定用光斑在虚拟修复体支架的X、Y、Z三个轴向分别设计测量点，测量出任意两个测量点之间的距离，定义为标准数据；    3）取按照上步设计加工完成的待检测支架，用扫描仪扫描加工完成的支架，将数据输入计算机，在计算机上形成扫描复制的三维图像，按照步骤2的操作测量出任意两个测量点之间的距离，定义为实际测量数据；    4）对步骤2获得的标准数据与步骤3获得的实际测量数据进行比较，获得实际测量数据与标准数据的差异；    5）对步骤4获得的差异数据进行分析，获得待测修复体支架的加工精度结果。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王家伟，李勇，周颖，
申请(专利权)人：武汉大学，
类型：发明
国别省市：湖北;42