光学测量设备和芯片寿命判断方法技术

本发明专利技术提供了一种光学测量设备和芯片寿命判断方法。该光学测量设备包括光照射部，其被配置为将光照射到流过可拆卸芯片中的流路的样品上；光检测部，其被配置为检测当被光照射部用光照射时从样品发出的光信息；以及判断部，其被配置为基于通过光检测部检测到的光信息，判断出芯片更换时期。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及一种，更具体地，涉及一种光学测量设备，其包括通过光学检测流过可拆卸芯片中的流路的样品来判断芯片寿命的判断部分；以及一种芯片寿命判断方法，其用于通过光学检测流过可拆卸芯片中的流路的样品来判断芯片寿命。
技术介绍
近年来，随着分析技术的发展，正在开发使诸如细胞和微生物的生物微粒、诸如微球的微粒等流过流路以在流动过程中单独测量微粒并分析和分选被测微粒的技术，以及使用这一技术的光学测量设备。 作为使用流路分析或分选微粒的这一技术的典型实例，技术上正在改善被称为流式细胞术的分析技术。此外，在流式细胞术中，正开始使用可拆卸微芯片。例如，已知包括鞘液可流过其的流路和用于将样品液导入流过该流路的鞘液层流中的微管的微芯片(例如，见日本专利申请公开第2010-54492号)。如流式细胞术的在流路中分析和分选微粒的技术被广泛用于各种领域，诸如医学领域、药物开发领域、临床检查领域、食品领域、农业领域、工程领域、法医学领域以及犯罪鉴别领域。尤其在医学领域，该技术在病理学、肿瘤免疫学、移植学、遗传学、再生医学、化学疗法等中发挥着重要作用。如上所述在光学测量设备中，为通过减少设备清洗等来提高测量精度或提高工作效率，在许多情况下使用可拆卸微芯片，尤其在预定期间之后可随意处置的芯片。然而，实际上，用户会长时间使用该芯片，或者在清洗它之后再使用它。此外，由于用户基于经验或通过直觉来判断可拆卸芯片的寿命，所以有光学测量设备的测量精度可能降低或易于发生缺陷的问题。
技术实现思路
需要一种能在芯片更换时期(下文中，也被称为“芯片寿命”)提醒用户更换芯片而无需依赖个人经验或直觉的方法和设备。考虑到如上所述情况，存在对用于提醒用户更换芯片的的需求。根据本公开的实施方式，提供了一种光学测量设备，包括光照射部，其被配置为将光照射到流过可拆卸芯片中的流路的样品上；光检测部，其被配置为检测当被光照射部用光照射时从样品发出的光信息；以及判断部，其被配置为基于通过光检测部检测到的光信息，判断出芯片更换时期。采用该结构，无需依赖个人用户的经验或直觉即能判断芯片寿命(更换时期)，并能对具有较少差异的每个芯片稳定地做出这一判断。此外，根据用户对测量目的、目标等的需求来如下自由改变条件设置也变得可能。该光学测量设备还可包括芯片信息识别部，其被配置为从标识符识别芯片信息。在该情况下，判断部可基于光学信息和芯片信息中的至少一个来判断芯片的更换时期。采用该结构，能更精确地把握芯片的使用状态。可基于阈值来选择光信息。采用该结构，使得在判断芯片寿命(更换时期)时消除易于引起判断错误的噪声变得可能。因此，可很容易且无差异地对每个芯片进行寿命判断。当基于光学信息所计算的样品数量达到最大计数的恒定值时，判断部可判断出当前是芯片的更换时期。当自基于光学信息判断出同时测量了大量样品后，已经过一定时间时，判断部可判断出当前是芯片的更换时期。当基于光学信息所计算的样品尺寸达到关于样品尺寸的最大累计值的恒定值时，判断部可判断出当前是芯片的更换时期。根据本公开的实施方式，提供了一种芯片寿命判断方法，包括将光照射到流过可 拆卸芯片中的流路的样品上；检测当用光照射时从样品发出的光信息；以及基于检测到的光信息，判断出芯片的更换时期。这里，本公开使用的“样品”是能够流过流路的物质，且例如是生物相关微粒，诸如细胞、微生物、脂质体、DNA以及蛋白质；或者是合成微粒，诸如胶乳颗粒、凝胶颗粒以及工业颗粒。根据本公开的实施方式，使得无需依赖个人用户的经验或直觉即能提醒用户更换芯片变得可能。根据以下对如附图所示的最佳形式的实施方式的详细描述，本公开的这些和其他目标、特征和优势将变得更加明显。附图说明图I是示出根据本公开第一实施方式的光学测量设备I的示意性概念图；图2是示出根据本公开第一实施方式的光学测量设备I的示意性概念图；图3是示出根据本公开实施方式的流程I的芯片寿命判断方法的流程图；图4是示出根据本公开实施方式的流程2的芯片寿命判断方法的流程图；图5是示出根据本公开实施方式的流程3的芯片寿命判断方法的流程图；图6是示出根据本公开实施方式的流程4的芯片寿命判断方法的流程图；图7是示出根据本公开实施方式的流程5的芯片寿命判断方法的流程图；图8是示出在2个样品S同时大量流过来的情况下(颗粒数量为2和3的情况下)光学信息(脉冲信号等)的状态的一个实例的替代数字的曲线图；图9是示出判断部的结构的框图；以及图10是示出在每秒10000个事件X 60秒X 5次是每个芯片的寿命的情况下的累计事件(脉冲信号等)的数量的曲线图。具体实施例方式下文中，将参照附图来描述本公开的实施方式。应当注意，以下实施方式是本公开典型实施方式的实例，且本公开的范围不应被狭窄地解释。应当注意，将按照以下顺序来给出描述。I.光学测量设备(I)芯片(2)光照射部(3)光检测部(4)电信号转换部/AD转换部(5)芯片信息识别部(6)判断部2.芯片寿命判断方法 3.流式细胞术〈I.光学测量设备〉图I和图2是各自示出根据本公开第一实施方式的光学测量设备I的示意性概念图；按照大致分类，本公开的光学测量设备I至少包括光照射部11、光检测部12以及判断部13。包括流路2的可拆卸芯片(基底T)可安装在光学测量设备I上。当芯片(基底T)具有标识符I时，光学测量设备I可包括根据标识符I来识别芯片信息的芯片信息识别部。光学测量设备I还可包括将光信息转换为电信号(光脉冲)的电信号转换部(未不出)以及执行模拟-数字转换的AD转换部(未示出)。应当注意，本公开的光学测量设备I还可包括调节芯片中流路2的层流的部分、温度控制器、分选部以及控制各部分功能的控制器。此外，控制器可执行由判断部、芯片信息识别部、电信号转换部、AD转换部等实施的处理。根据本公开，使得无需依赖个人用户的经验或直觉即能判断芯片更换时期(芯片寿命)并由此提醒用户更换芯片变得可能。换句话说，根据本公开，使得自动计算和预测包括芯片使用频率和使用时期的芯片使用状态并提醒用户更换已经或即将使用一定量/时期以上的芯片变得可能。此外，由于可减小每个芯片的寿命判断上的差异，所以能稳定且有效地执行芯片更换。此外，也使得根据用户对测量目的、目标等的需求来自由改变对芯片寿命的条件设置变得可能。此外，能实时判断芯片寿命。因此，能够更精确地把握芯片使用状态，并可由此减少光学测量中的运行成本。( I)芯片本公开的光学测量设备I可配备有包括流路2的可拆卸芯片(基底T)。例如，芯片的安装位置是光照射部11与光检测部12之间的位置。例如，可安装立式芯片或横式芯片。此外，期望该芯片具有利用其可获得芯片信息的标识符1(作为一个实例，见图2)。标识符I的位置不具体限定。例如，标识符I可被分配至芯片外壳、可粘附至芯片、可结合到芯片体中或者可拆卸。采用该结构，由于能很容易把握各芯片的包括使用频率和使用时期的芯片使用状态，所以能精确判断各芯片的更换时期。这里，标识符I的实例包括条形码、数据矩阵条形码、高频波(RFID)、标记、字符以及形状(凹凸形、突起、切口、沟槽等)。经由芯片信息识别部可从标识符I获得芯片信息。芯片信息包括有关芯片寿命(更换时期)的信息。芯片信息的实例包括关于各芯片的区分、芯片使用频率、芯片的使用时期、使用芯片时设备本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学测量设备，包括：光照射部，其被配置为将光照射到流过可拆卸芯片中的流路的样品上；光检测部，其被配置为检测当被所述光照射部用光照射时从所述样品发出的光信息；以及判断部，其被配置为基于通过所述光检测部检测到的所述光信息，判断出所述芯片的更换时期。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：村木洋介，
申请(专利权)人：索尼公司，
类型：发明
国别省市：