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光学测量设备和芯片寿命判断方法技术

技术编号:8386320 阅读:221 留言:0更新日期:2013-03-07 06:06
本发明专利技术提供了一种光学测量设备和芯片寿命判断方法。该光学测量设备包括光照射部,其被配置为将光照射到流过可拆卸芯片中的流路的样品上;光检测部,其被配置为检测当被光照射部用光照射时从样品发出的光信息;以及判断部,其被配置为基于通过光检测部检测到的光信息,判断出芯片更换时期。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及一种,更具体地,涉及一种光学测量设备,其包括通过光学检测流过可拆卸芯片中的流路的样品来判断芯片寿命的判断部分;以及一种芯片寿命判断方法,其用于通过光学检测流过可拆卸芯片中的流路的样品来判断芯片寿命。
技术介绍
近年来,随着分析技术的发展,正在开发使诸如细胞和微生物的生物微粒、诸如微球的微粒等流过流路以在流动过程中单独测量微粒并分析和分选被测微粒的技术,以及使用这一技术的光学测量设备。 作为使用流路分析或分选微粒的这一技术的典型实例,技术上正在改善被称为流式细胞术的分析技术。此外,在流式细胞术中,正开始使用可拆卸微芯片。例如,已知包括鞘液可流过其的流路和用于将样品液导入流过该流路的鞘液层流中的微管的微芯片(例如,见日本专利申请公开第2010-54492号)。如流式细胞术的在流路中分析和分选微粒的技术被广泛用于各种领域,诸如医学领域、药物开发领域、临床检查领域、食品领域、农业领域、工程领域、法医学领域以及犯罪鉴别领域。尤其在医学领域,该技术在病理学、肿瘤免疫学、移植学、遗传学、再生医学、化学疗法等中发挥着重要作用。如上所述在光学测量设备中,为通过减少设备清洗等来提高测量精度或本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光学测量设备,包括:光照射部,其被配置为将光照射到流过可拆卸芯片中的流路的样品上;光检测部,其被配置为检测当被所述光照射部用光照射时从所述样品发出的光信息;以及判断部,其被配置为基于通过所述光检测部检测到的所述光信息,判断出所述芯片的更换时期。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员:村木洋介
申请(专利权)人:索尼公司
类型:发明
国别省市:

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