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本发明提供了一种光学测量设备和芯片寿命判断方法。该光学测量设备包括光照射部，其被配置为将光照射到流过可拆卸芯片中的流路的样品上；光检测部，其被配置为检测当被光照射部用光照射时从样品发出的光信息；以及判断部，其被配置为基于通过光检测部检测到的...
该专利属于索尼公司所有，仅供学习研究参考，未经过索尼公司授权不得商用。

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