一种钯含量检测方法技术

本发明专利技术公开了一种分光光度法测定钯的方法。包括待检测液和标准溶液的制备，上述待检测液和标准溶液于波长635nm处测量试液吸光度A；根据不同浓度的钯标准溶液与对应的吸光度制作标准曲线，计算标准曲线回归方程的斜率k和截距b；根据方程计算钯量m=kA+b。本发明专利技术实现了在检测物中有铂、铑等不影响波长635nm处吸光度的物质时，可以不分离铂、铑等物质而直接测定，过程简单、快捷；抗铂、铑等干扰能力强，适量铂、铑等的存在，对测定结果影响小，特别适用于催化转化器生产过程中测定；测定钯的含量高，可达500μg；与己有的氯化亚锡-丙酮-碘化钾分光光度法比较，氯化亚锡用量也仅有1/10，减少了污染，节省了检验成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光谱分析
，特别涉及利用分光光度法检测钯含量的方法。
技术介绍
目前对钯含量的检测方法有多种，电感耦合等离子体光谱分析法(ICP法)，原子吸收光谱法(AAS)，丁二酮肟析出-EDTA络合滴定法，氯化亚锡-丙酮-碘化钾单波长分光光 度法等。电感耦合等离子体光谱分析法和原子吸收光谱法使用的仪器价格高达数 十万，一次性投入大，消耗备品和气体，分析成本高，测定时要先分离其它干扰元素，过程复杂，不分离时其它元素干扰测定，影响结果的准确。丁二酮肟析出-EDTA络合滴定法只适用于钯浓度较高的溶液，而且测定中要用三氯甲烷，其有污染，且是国家管控物资。氯化亚锡-丙酮-碘化钾这是一个比较成熟的方法。但是，要先分离其它干扰元素，如钼、铑，然后才能测定。这种方法，分离步骤多，过程复杂，产生的误差大，同样影响测定结果的准确。
技术实现思路
本专利技术根据现有技术的不足公开了一种分光光度法测定钯的方法。本专利技术要解决的问题是提供一种快速、方便、准确对钯含量利用分光光度进行检测的方法。本专利技术通过以下技术方案实现分光光度法测定钯，包括待检测液制备，准确称取待测物溶解，分别移取上述溶解液和相同本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种钯含量检测方法，其特征是包括：待检测液制备，准确称取待测物溶解，分别移取上述溶解液和相同体积的空白对比液于两个25ml容量瓶中，并分别同时加5ml浓度为(1+6)的盐酸，摇匀后，缓慢加入1.0ml浓度为0.5mol/L氯化亚锡溶液并同时轻轻摇匀，用浓度为(1+6)的盐酸稀释至刻度，摇匀待用；吸光度测定，上述待检测液放置15分钟，用1cm比色皿，于波长635nm处测量试液吸光度A；标准制定，与制备待检测液相同的方法制备不同浓度的钯标准溶液，并制作标准曲线，计算标准曲线回归方程的斜率k和截距b；计算，根据下列方程计算钯量：m=kA+b，其中m是钯量。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王科，李晓婧，谢兰，何晓会，曹洪达，
申请(专利权)人：四川中自尾气净化有限公司，
类型：发明
国别省市：