基于石墨烯和衰减全反射的气体分子检测系统及其应用该系统的检测方法技术方案

本发明专利技术涉及一种基于石墨烯和衰减全反射的气体分子检测系统及其应用该系统的检测方法，其步骤是：（a）构建一个衰减全反射系统；（b）获得该系统的工作曲线；（c）设置该系统的工作点；（d）将该系统置于待测环境；（e）观测该系统的反射率是否发生改变，若改变则存在待测气体分子，反之亦然。该方法工艺简单，检测气体分子的可靠性强和灵敏度高。?

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及气体分子检测方法，尤其是基于石墨烯和衰减全反射来确定待测环境是否存在待测气体分子的方法。
技术介绍
石墨烯(graphene)是由碳原子构成的二维晶体，是其它碳材料同素异形体的基本构成单元。2004年,曼彻斯特大学Andre Geim教授领导的研究小组最先发现了石墨烯并立即引起了科学和工业界的广泛关注，石墨烯的发现者更于2010年获得了诺贝尔物理学奖。由于石墨烯具有极高的比表面积(2630m2/g)，因此对(气体分子)具有非常好的吸附作用。衰减全反射(ATR Attenuated Total Reflection)是一种物理光学现象。如图I 所示，当入射光在棱镜与金属的界面上发生全反射时，会形成迅逝波进入金属内部。当金属和介质的界面满足表面等离子波存在的条件时，由全反射耦合进金属内部的迅逝波可以在金属和介质的界面上激励表面等离子波的传输，入射光大部分能量将耦合到表面等离子波中。这时，反射光强将急剧下降，形成一个吸收峰，非常灵敏而且易于观测。目前，基于石墨烯的气体分子检测方法已经见诸报道。具有代表性的方法是利用石墨烯在吸附气体分子前后电导率/电阻的变化来判定是否有气体分本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于石墨烯和衰减全反射的气体分子检测系统，其特征在于采用棱镜（3）、金属薄膜（2）、石墨烯薄膜（1）构建衰减全反射系统，在棱镜（3）反射面上镀金属薄膜（2），然后在金属薄膜（2）上覆盖石墨烯薄膜（1）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：梁铮，丁荣，义理林，倪振华，
申请(专利权)人：泰州巨纳新能源有限公司，
类型：发明
国别省市：