【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及ー种使用衰减全内反射(ATR)的光谱仪。
技术介绍
ATR是ー种用于FT-IR光谱仪之类的光谱仪中的技木，以便从那些难以通过透射或反射等其他方式来分析的样品中获得光谱测量。典型地，用于执行ATR测量的装置包括提供波长辨别的光谱仪、用于将光直射到样品上的照明系统、提供样品平面的ATR镜片、和接收已经与样品交互作用的光的收集/探測系统。ATR镜片以一定的方式布置，以便通过全 内反射现象的方式反射来自指定样品平面的所有入射光。与样品相关的光谱信息从样品与紧接着反射表面外部而存在的消失电场的交互作用中获取。从该场的能量的吸收减弱了反射，并在光束上印上了光谱信息。可以基于这些原理，通过布置将样品区域照明并通过布置收集系统以获取成像属性，来构建成像ATR系统。从样品的空间差别区域返回的光被收集到探測器上或诸如ー维或ニ维探测器阵列的探测器阵列上，由此收集到光谱信息，其能够编译进样品的光谱图像中。成像ATR系统能够以诸如Perkin Elmer Spotlight显微镜的反射显微镜形式构建。在这种配置中，通过成像光学镜片就将光引导至反射样品上并从该反射样品来收集。...
【技术保护点】
一种执行自动ATR光谱分析的方法，包括获得样品的空间图像并处理所述图像，其特征在于处理步骤和进一步的步骤,所述处理步骤包括在谱域中对所获得的图像进行微分，限制所述图像的光谱范围，从被限制的图像数据中减去平均吸收，并应用主要成分分析以提取最明显的光谱形貌，所述进一步的步骤为向用户显示显示了所述样品的最明显的光谱形貌的空间图像。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：R·A·霍尔特，R·L·卡特，A·卡尼亚斯威尔金森，P·斯泰尔斯，
申请(专利权)人：珀金埃尔默新加坡有限公司，
类型：发明
国别省市：
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