【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种用于确定优选大面积半透明的对象的透射和/或反射特性的光学测量方法。该光学测量方法尤其是能够应用于在制造被表面涂层的衬底时的工艺和质量控制。此外，本专利技术的主题是适用于执行本专利技术方法的光学测量设备。
技术介绍
在制造用于光电池的被涂层的半透明材料、例如配备有导电层的衬底时，对衬底的透明和反射特性的控制首先在将太阳辐射转化成电时获得最佳效率方面是有意义的。在此，也以名称HAZE或大角度散射已知的浑浊度是重要的特征值。浑浊度按照国际标准ASTM D 1003被规范为穿透半透明对象的光的以下百分比分量，所述百分比分量在对象中在其传播方向上被偏转超过2. 5°并且因此在贯穿对象时例如由于表面粗糙度而从对准的射线束中散射出。根据ASTM D 1003,半透明对象的浑池度能够通过以下方式确定，即对象被定位在乌布利希球的光入射口之前并且从与乌布利希球相对的对象侧被照射，使得照射光透射所述对象并且进入乌布利希球中。在乌布利希球中集成光电探测器，所述光电探测器接收穿透的光并且转换成测量信号。在此，该光电传感器的探测方向与对象表面的法线围成预先给定的角度，所述...
【技术保护点】
一种用于测量尤其是大面积半透明对象（1）的透射和反射特性的光学测量方法，优选地能应用于在制造被表面涂层的衬底时的工艺和质量控制，其中？利用两个辐射漫射光的照明装置（7，9）和两个光电探测器（4，14）进行所述测量，其方式是或者：？利用照明装置中的第一照明装置（9）照射对象（1）的第一大面（3），并且在此同时利用第一光电探测器（14）测量总透射和利用第二光电探测器（4）测量在该大面（3）处的反射，和然后？利用第二照明装置（7）照射对象（1）的与第一大面相对的第二大面（2），并且在此同时利用第二光电探测器（4）测量漫透射和利用第一光电探测器（14）测量在该大面（2）处的反射，或...
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：J马格拉夫，P兰帕特，
申请(专利权)人：卡尔蔡司微成像有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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