【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种使用衰减全内反射(ATR)的光谱仪。
技术介绍
ATR是一种用于FT-IR光谱仪之类的光谱仪中的技术，以便从那些难以通过透射或反射等其他方式来分析的样品中获得光谦测量。典型地，用于执行ATR测量的装置包括提供波长辨别的光语仪、用于将光直射到样品上的照明系统、提供样品平面的ATR镜片、和接收已经与样品交互作用的光的收集/探测系统。ATR镜片以一定的方式布置，以便通过全内反射现象的方式反射来自指定样品平面的所有入射光。与样品相关的光语信息从样品与紧接着反射表面外部而存在的消失电场的交互作用中获取。从该场的能量的吸收减弱了反射，并在光束上印上了光语信息。可以基于这些原理，通过布置将样品区域照明并通过布置收集系统以获取成像属性，来构建成像ATR系统。从样品的空间差别区域返回的光被收集到探测器上或诸如一维或二维探测器阵列的探测器阵列上，由此收集到光语信息，其能够编译进样品的光谱图像中。成像ATR系统能够以诸如Perkin Elmer Spotlight显孩吏镜的反射显微镜形式构建。在这种配置中，通过成像光学镜片就将光引导至反射样品上并从该反射样品来收集。...
【技术保护点】
一种被布置来执行ＡＴＲ测量的显微镜的附件，所述附件包括能够固定到所述显微镜的可移动载物台上的支撑件，被所述支撑件承载的用于安装ＡＴＲ晶体的安装构件，以及布置在所述ＡＴＲ晶体的位置下方的样品支撑构件，所述样品支撑构件限定样品接收表面，所述样品支撑构件，以致使该样品支撑构件可相对于ＡＴＲ晶体移动并限定一能够相对于显微镜的主载物台移动的副载物台。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...
【专利技术属性】
技术研发人员：A卡尼亚斯威尔金森，P斯泰尔斯，RA霍尔特，RL卡特，
申请(专利权)人：珀金埃尔默新加坡有限公司，
类型：发明
国别省市：SG[新加坡]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。