一种光测量分析装置、储藏库、电磁波发生装置以及光测量分析方法。提供一种能效率良好地对分析对象物的大致整个面照射光并使分析的精度得以提高的光测量分析装置。本实施方式的光测量分析装置包括容器、光源、光照射部、光接收部、分光部、以及对由分光部得到的光的频谱进行分析的分析部。容器的内壁构成为对从分析对象物反射的光和透射后的光进行反射。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光测量分析装置、光测量分析方法、将光测量分析装置作为构成部件的具有冷却功能的储藏库以及电磁波发生装置。
技术介绍
现有技术中，作为通过非破坏来对检查对象物进行分析的分析方法，有如下方法分析对检查对象物照射光而得到的透射光或者反射光的光谱，使用多变量解析等解析手法来取得特性的信息。该分析方法利用了如下原理物质对特定的波长的光给出吸收、散射、以及反射这样的变化。具体而言，利用了根据物质而变化的光的波长、以及此时的光的吸光度、反射率这样的光的性质与该物质的构成成分、该物质的粒子的大小、构成成分的浓度、以及含有杂质的种类等这样的物质的特性相关。该吸光度以及反射率能对透射光或反射光的频谱实施简单的计算式而求取。因此，若分析对检查对象物照射光而得到的光的吸光度 或反射率等，则能取得检查对象物的特性的信息。为了进行上述的光测量分析，提出了各种装置。例如，图9示出了特开2001-133401号公报所公开的光学测量装置。光学测量装置包括对果蔬等被测量物H投光的投光器904、以及接受已透射了被测量物H的光的光接收器905。光学测量装置基于由光接收器905接收的光的强度，来测量被测量物H的状态。投光器904以及光接收器905被设置成投光器904的光轴Jl、以及光接收器905的光轴J2在输送带910的宽度方向的大致中央相交。光学测量装置通过使投光器904的光轴与光接收器905的光轴不一致，从而在两光轴上不存在被测量物时，减小从投光器904入射至光接收器905的光的强度，可减少设置于光接收器侧的减光滤光片的片数。另外，在与侧壁909的投光器904以及光接收器905对置的部分，为了使光束通过而设有开口。在光接收器905侧的侧壁的、照射来自投光器904的光而得到的部分即除了前述开口的部分，安装有低光反射板908。低光反射板908妨碍由侧壁909反射的光入射至光接收器。即，特开2001-133401号公报所公开的光学测量装置通过将没有被测量物H时的值作为参考值，且让光接收器905仅接收透射过被测量物H的光，来测量被测量物H的状态。作为另一例，图10示出了特开2005-292128号公报所公开的卡路里测量装置。卡路里测量装置包括具有放载被检对象的物体M的台的物体保持部1001、对放载于台上的被检对象的物体M照射近红外区域的光的光源部1020、对来自物体M的反射光或者透射光进行接收的光接收部1030、以及基于由光接收部1030接收的光的吸光度来计算物体的卡路里的控制部1040。卡路里测量装置预先对卡路里已知的样品物体照射近红外线，对通过从该样品物体反射或者透射的光的吸光度中的二次微分频谱的多元递归分析而算出的递归公式进行计算。卡路里测量装置根据所计算出的递归公式、以及由光接收部1030接收到的光的吸光度，来在控制部1040中对物体M的卡路里进行运算。在特开2005-292128号公报中，还公开了卡路里测量装置通过X轴电动机1007与旋转电动机1003的驱动的组合来使放置了物体M的旋转台1002旋转，能进行多点测量。为了精度良好地进行光测量分析，优选对检查对象物的整个面照射光来取得光谱。这是由于，检查对象物的构成成分、其浓度、以及含有杂质等的分布等不均匀的情况多，有时分析结果根据照射光的部位而不同。例如，在检查对象物是农作物的情况下，所含的成分以及其浓度的分布一般不均匀。另外，在对象物由包装袋或胶片等包装材料包裹的情况下，包装材料的厚度也不一定均匀。另外，在检查对象物为食品且想要确认有无霉或者微生物等发生的情况下，发生场所不均的情况较多，因此仅分析特定场所，将不能进行精度良好的检查。特开2001-133401号公报所公开的光学测量装置通过透射光进行分析，因此存在被测量物限于能以透射光进行测量的问题。另外，由于光仅透射被测量物的一部分，因此所得到的信息仅反映被测量物的一部分。为了得到透射了被测量物整个面的光的频谱，在使照射的光的强度非常大的情况下，有时被测量物会因此时的发热而变质。特开2005-292128号公报所公开的卡路里测量装置使放置了对象物的台进行旋转从而增加了测量点。其结果是，测量时间变长，另外，需要用于构成旋转机构的空间或部件。另外，由于从设置于装置上面的光源向被测量物照射光，因此仅对被测量物的上面照射光，从而不能进行对象物整体的测量。另外，在反射光中一般含有镜面反射成分和漫反射成分。在特开2005-292128号公报所公开的卡路里测量装置中，虽然来自物体M的镜面反射成分被效率良好地接收，但经漫反射的光到达不了光接收部，或在反射时显著衰减，其结果是难以被检测出来。因此，存在经漫反射的光中所含的信息易于损坏、不能得到高的分析精度的问题。
技术实现思路
本专利技术鉴于上述的问题而提出，其目的在于，提供一种通过效率良好地对分析对象物的尽可能整个面照射光，效率良好地对反射或者透射过分析对象物的光进行接收，来使分析的精度得以提高的光测量分析方法、光测量分析装置。若依照某实施方式，则光测量分析装置包括能收纳分析对象物的容器；光源；光照射部，其构成为将光源的光导入容器内；光接收部，其构成为对透射分析对象物的透射光或者反射后的反射光进行接收；分光部，其构成为对由光接收部接收的光进行分光；和分析部，其构成为对通过分光部得到的光的频谱进行分析。容器的内壁构成为对透射光或者反射光进行反射。优选地，光测量分析装置包括用于放载所述分析对象物的测量台。测量台构成为面积比分析对象物小。优选地，测量台包括用于检测分析对象物的重量的传感器。优选地，光源以及光接收部设置于容器的相同的侧面。优选地，光源以及光接收部设置于容器的非对置的不同的侧面。优选地，光测量分析装置还包括输入部，其构成为受理信息的输入。优选地，光测量分析装置还包括输出部，其构成为对由分析部分析得到的结果进行输出。优选地，分析部构成为存储校正数据，该校正数据用于对与测量光的频谱的环境变化相应的光的频谱的变化进行校正。优选地，光测量分析装置作为冷冻冷藏库的自动制冰器的供水箱发挥功能。优选地，供水箱包含去除杂质的功能。若依照另一实施方式，则提供一种具有冷却功能的储藏库。储藏库包括上述的任一种光测量分析装置。优选地，储藏库是具有自动制冰器的冷冻冷藏库。光测量分析装置设置于自动制冰器。若依照又一实施方式，则提供一种供应电磁波的电磁波发生装置。电磁波发生装置包括上述任一种光测量分析装置。若依照又一实施方式，则提供一种使用光测量分析装置的光测量分析方法。光测 量分析方法包括收纳分析对象物的步骤；将光源的光导入到收纳有分析对象物的容器内的导入步骤；对透射分析对象物的透射光或者反射后的反射光进行接收的接收步骤；对在接收步骤中接收到的光进行分光的分光步骤；对在分光步骤中得到的光的频谱进行分析的步骤；通过容器的内壁来对透射光或者反射光进行反射的步骤；将在导入步骤中所导入的光照射到分析对象物来测量样品的步骤；和根据在接收步骤中接收到的光取得光谱的步骤。优选地，光测量分析方法还包括检测分析对象物的重量的步骤。优选地，光测量分析方法还包括受理信息的输入的步骤。优选地，光测量分析方法还包括对通过分析步骤分析得到的结果进行输出的步骤。优选地，分析步骤还包括存储校正数据的步骤，该校正数据用于对与测量光的频谱的环境本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种光测量分析装置，具备：能收纳分析对象物的容器；光源；光照射部，其构成为将所述光源的光导入所述容器内；光接收部，其构成为对透射过所述分析对象物的透射光或者反射后的反射光进行接收；分光部，其构成为对由所述光接收部接收的光进行分光；和分析部，其构成为对通过所述分光部得到的光的频谱进行分析，所述容器的内壁构成为对所述透射光或者所述反射光进行反射。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：松田京子，奥村敏之，
申请(专利权)人：夏普株式会社，
类型：发明
国别省市：
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