【技术实现步骤摘要】
本专利技术主要涉及到分光镜像差的实时测量领域，特指一种基于双哈特曼探测器的分光镜像差测量系统。
技术介绍
“分光镜”是一种能够简化光学系统结构、增强系统抗干扰能力和便于系统波前像差探测的重要光学器件。分光镜像差，包括自身静态像差和在入射光作用下产生的动态像差，会在分光后的反射和透射波前中附加不同的相位畸变，使各子光束波前相位独立发生变化而不再具有可比性。在高能激光系统中，分光镜像差的影响尤为严重。因为高能激光系统是依据分光镜透射出来的弱光波前来评价强光光路中高功率激光光束质量的，而分光镜像差的存在会导致系统波前像差检测结果失真。由于分光镜薄膜及镜体材料对激光的吸 收问题仍然难以解决，热致畸变导致的动态像差始终存在，因此分光镜像差、特别是热致动态像差的实时测量技术就尤为重要，准确获取像差信息才能设法消除其影响。目前，分光镜像差的测量技术主要有光热偏转技术、表面热透镜技术和哈特曼波前探测技术。光热偏转技术是上世纪八十年代提出的一种热波探测技术，可用于测量分光镜的反射或者透射像差，具有灵敏度高、实验装置简单和非接触测量等优势。但是,这种技术是通过探测光束的偏转量来分析...
【技术保护点】
一种基于双哈特曼探测器的分光镜像差测量系统，其特征在于：它包括第一哈特曼探测器（1）、第二哈特曼探测器（2）、高能激光器（3）、离轴聚焦反射镜（5）、功率计（6）、同步控制器（7）和计算机（8），所述第一哈特曼探测器（1）和第二哈特曼探测器（2）呈对称状布置于待测分光镜（4）的两侧，所述高能激光器（3）发出的高功率激光入射至待测分光镜（4）前表面后，一部分光能量被待测分光镜（4）反射至离轴聚焦反射镜（5），然后被功率计（6）接收；所述同步控制器（7）发出同步触发信号控制高能激光器（3）开启、第一哈特曼探测器（1）和第二哈特曼探测器（2）进行采集；所述第一哈特曼探测器（1）和...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：宁禹，许晓军，张烜喆，杨轶，习锋杰，齐恩宇，陆启生，刘泽金，
申请(专利权)人：中国人民解放军国防科学技术大学，
类型：发明
国别省市：
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