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一种基于双哈特曼探测器的分光镜像差测量系统，它的第一哈特曼探测器和第二哈特曼探测器呈对称状布置于待测分光镜的两侧，高能激光器发出的高功率激光入射至待测分光镜前表面后，一部分光能量被待测分光镜反射至离轴聚焦反射镜，然后被功率计接收；同步控制器...
该专利属于中国人民解放军国防科学技术大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军国防科学技术大学授权不得商用。

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