【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及永磁材料特性测量
，尤其涉及一种在开路中测量永磁体和永磁材料温度特性的装置。
技术介绍
温度特性是永磁材料的重要特性参数，包括可逆温度系数和不可损失，在永磁材料的应用中尤为关注，因此温度特性的测量变得更为重要。目前，永磁材料的温度特性测量方法有三类(1)第一类，如国家标准GB/T24270-2009 “永磁材料磁性能温度系数测量方法”所要求的方法在闭合磁路下测量不同温度下永磁材料的磁滞回线或退磁曲线，由此得到不同温度下的永磁材料的特性参数顽磁足、磁通密度矫顽力化〃以及磁极化强度矫顽力和i份能积的最大值依//人 ，然后计算对应参数的温度系数。实现该方法的现有·装置的不足之处是只能测量室温以上的情况，而且实现负温或250°C以上温度较为困难；控温精度和测量精度较低。⑵第二类，在开磁路下用振动样品磁强计测量不同温度下测试样品的磁矩；或用磁强计测量不同温度下测试样品的磁通密度；或利用电磁感应原理采用探测线圈测量样品的磁通，然后计算温度特性。第一种振动或提拉样品磁强计测量磁矩法是现有技术常用的测量方法，该方法的缺点是要求测试样品的尺寸小，样品定位困难，...
【技术保护点】
一种在开路中测量永磁体和永磁材料温度特性的装置，其特征在于:包括样品盒(2)、温度检测与处理单元(3)、感应电压产生单元(4)、感应电压检测和处理单元(5)、样品提拉控制单元(6)、温度实现单元(7)、计算机控制和处理单元(8)；所述的样品盒(2)用于放置待测样品(1)，并对待测样品(1)保温；所述样品盒（2）为底部是平面的柱体；所述的样品盒(2)？包括：样品盒体(21)，由非导磁材料而成；样品盒上盖(22)，由非导磁材料而成，中部有通孔；样品盒保温层(23)；以及样品盒内腔(24)，用于放置待测样品(1)；所述的温度检测与处理单元(3)用于检测待测样品(1)的温度，并对温...
【技术特征摘要】
1.一种在开路中测量永磁体和永磁材料温度特性的装置，其特征在于包括样品盒(2)、温度检测与处理单元(3)、感应电压产生单元(4)、感应电压检测和处理单元(5)、样品提拉控制单元(6)、温度实现单元(7)、计算机控制和处理单元⑶；所述的样品盒(2)用于放置待测样品(1)，并对待测样品(I)保温；所述样品盒(2)为底部是平面的柱体；所述的样品盒(2)包括样品盒体(21)，由非导磁材料而成；样品盒上盖(22)，由非导磁材料而成，中部有通孔；样品盒保温层(23);以及样品盒内腔(24)，用于放置待测样品⑴；所述的温度检测与处理单元(3)用于检测待测样品(I)的温度，并对温度进行显示、处理，所述温度检测与处理单元(3)包括温度传感器(31)和温度测量仪(32);所述温度传感器(31)用于测量温度信号，并安装在所述的样品盒上盖(22)的通孔中，与待测样品(I)接触；所述温度测量仪(32)用于接受温度传感器(31)的信号，实时显示温度值，并将温度信号传送到所述的计算机控制和处理单元(8);所述的样品提拉控制单元(6)，用于控制和提拉样品盒，将样品盒提拉到规定的位置，所述的样品提拉控制单元(6)包括样品夹具(61)，用于放置样品盒(2)，并被样品提拉控制单元(6)提拉；样品夹具滑轨(62)，通过样品夹具(61)的三个通孔(611)与样品夹具(61)相连接，用于保证样品夹具(61)沿与亥姆霍兹线圈(41)轴线平行的轴线移动；电机(63)，用于驱动样品夹具(61)沿与亥姆霍兹线圈(41)轴线平行的轴线移动；以及样品夹具限位装置(64)，用于限定样品夹具(61)的位置；样品夹具(61)和样品夹具滑轨(62)为非导磁材料而成；所述的温度实现单元(7)，使待测样品(I)的温度控制到预定的温度，并保持温度稳定；其包括工作室(71)，用于放置含有待测样品⑴和安装温度传感器(31)的样品盒(2);加热装置(72)，用于将所述工作室(71)加热升温，该加热装置(72)受控于所述的计算机控制和处理单元(8);冷却装置(73)，用于将所述工作室(...
【专利技术属性】
技术研发人员：张明，谭福明，李忭，王敬东，程玲莉，高旭山，
申请(专利权)人：西南应用磁学研究所，
类型：实用新型
国别省市：
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