本实用新型专利技术公开了一种电子材料电性能温度特性测试用试样夹装装置，包括内壳体、外壳体、顶盖和试样压紧机构，内壳体内设有中间隔板，内壳体底部连接有底板，位于中间隔板上部的内壳体内腔为绝缘腔体，中间隔板的中间位置处设有试样台；位于中间隔板下部的内壳体内腔为冷却液腔体，冷却液腔体内装有冷却液，内壳体上设有冷却液入口和排气口，内壳体外部缠绕有电热丝；试样压紧机构包括上电极、上绝缘材料环、均压环、绝缘材料管和下绝缘材料环，顶盖与上绝缘材料之间设有弹簧；顶盖上开有上电极导线孔，外壳体上开有下电极导线孔。本实用新型专利技术试样取放方便，夹持可靠，增加了测试稳定性，有助于提高测试精度，实用性强。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本技术公开了一种电子材料电性能温度特性测试用试样夹装装置，包括内壳体、外壳体、顶盖和试样压紧机构，内壳体内设有中间隔板，内壳体底部连接有底板，位于中间隔板上部的内壳体内腔为绝缘腔体，中间隔板的中间位置处设有试样台；位于中间隔板下部的内壳体内腔为冷却液腔体，冷却液腔体内装有冷却液，内壳体上设有冷却液入口和排气口，内壳体外部缠绕有电热丝；试样压紧机构包括上电极、上绝缘材料环、均压环、绝缘材料管和下绝缘材料环，顶盖与上绝缘材料之间设有弹簧；顶盖上开有上电极导线孔，外壳体上开有下电极导线孔。本技术试样取放方便，夹持可靠，增加了测试稳定性，有助于提高测试精度，实用性强。【专利说明】电子材料电性能温度特性测试用试样夹装装置
本技术属于电子材料的性能测试
，尤其是涉及一种电子材料电性能温度特性测试用试样夹装装置。
技术介绍
电子材料在当今飞速发展的高新
发挥着越来越重要的作用，对电子材料性能的测试手段和测试设备也提出了更高的要求。为保证电子产品的温度稳定性，由电子材料制作的元器件需要在相当宽的温度范围内保持电学性能稳定。为了研制应用温度范围更广的电子材料，在室温上下一定范围内的电学性能温度特性测试是不可回避的内容。现有技术中，用于对电子材料电性能温度特性测试的测试仪表不附带温度特性测试附件，已有报道的一些测试夹具均为用户自行搭建。现有的测试装置中的测试夹具均使用触片夹持、螺杆夹持或弹簧夹持方式，上述三种夹持方式的主要不足在于金属材料在低温下的收缩和弹性性能降低，导致虚夹持状态，严重影响测试精度，甚至在低温下样品脱落；而且，现有技术中不能对低温到高温范围内电子材料的电性能温度特性进行连续测试，另外，现有技术中直接将试验样品放置在下电极与上电极之间，下电极的顶部为一水平面，绝缘油浸泡的试验样品经过上电极施压后，试验样品的下表面与下电极难以分离，容易造成试验样品的损坏。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题在于针对上述现有技术中的不足，提供一种电子材料电性能温度特性测试用试样夹装装置，其结构简单，试样取放方便，夹持可靠，增加了测试的稳定性，有助于提高测试精度，能够实现宽温度范围内电子材料电性能温度特性的连续测试，实用性强，便于推广使用。为解决上述技术问题，本技术采用的技术方案是:一种电子材料电性能温度特性测试用试样夹装装置，其特征在于:包括内壳体、套装在内壳体外部的外壳体、连接在外壳体顶部的顶盖和连接在顶盖底部的试样压紧机构，所述内壳体内部一体设置有中间隔板，所述内壳体底部固定连接有底板，位于中间隔板上部的内壳体内腔为绝缘腔体，所述中间隔板的中间位置处一体设置有用于放置电子材料试样的试样台；位于中间隔板下部的内壳体内腔为冷却液腔体，所述冷却液腔体内装有冷却液，位于中间隔板下部的内壳体上设置有冷却液入口和用于排放气化后的冷却液的排气口，所述冷却液入口和排气口分别位于内壳体中轴线的两侧，所述冷却液入口位于排气口的斜下方，位于中间隔板下部的内壳体外部缠绕有电热丝；所述试样压紧机构包括上电极以及套装在上电极下部的上绝缘材料环和均压环，所述上电极的上部套装有底部卡合在上绝缘材料环底部的绝缘材料管，所述绝缘材料管的顶部与顶盖底部固定连接，所述顶盖底端端面与上绝缘材料环顶端端面之间设置有弹簧，所述均压环与上电极下部之间设置有套装在上电极上的下绝缘材料环，所述均压环的底端端面与上电极的底端端面相平齐；所述顶盖的中间位置处开有供连接上电极与外部电源的第一导线穿过的上电极导线孔，所述外壳体上开有供连接内壳体与外部电源的第二导线穿过的下电极导线孔。上述的电子材料电性能温度特性测试用试样夹装装置，其特征在于:所述内壳体底部通过螺栓固定连接有底板，所述内壳体底面与底板顶面之间设置有密封圈。上述的电子材料电性能温度特性测试用试样夹装装置，其特征在于:所述绝缘腔体内装有绝缘油。上述的电子材料电性能温度特性测试用试样夹装装置，其特征在于:所述电热丝上套装有黄蜡管。上述的电子材料电性能温度特性测试用试样夹装装置，其特征在于:所述内壳体和上电极均由铜制成。上述的电子材料电性能温度特性测试用试样夹装装置，其特征在于:所述上绝缘材料环、绝缘材料管和下绝缘材料环均由聚四氟乙烯制成。上述的电子材料电性能温度特性测试用试样夹装装置，其特征在于:所述绝缘材料管的顶部与顶盖底部通过绝缘螺钉固定连接。本技术与现有技术相比具有以下优点:1、本技术结构简单，设计新颖合理，实现方便。2、本技术通过设置试样台，使得待测试电子材料试样的放入和取出相当方便，测试完成后取出待测试电子材料试样时，待测试电子材料试样的下表面与试样台容易分离，避免了取出过程中对待测试电子材料试样的损坏。3、本技术的试样压紧机构能够将待测试电子材料试样可靠地压在试样台上，即将待测试电子材料试样夹装在了上电极与试样台之间，不会有虚夹持状态和低温下样品脱落的情况出现，夹持的可靠性高，有助于提高测试精度。4、本技术顶盖底端端面与上绝缘材料环顶端端面之间设置有弹簧，因此上电极可以上下移动，适用于不同厚度的待测试电子材料试样电性能温度特性测试，而且提高了夹持的可靠性。5、本技术通过设置均压环，能够使得电压均匀分布在待测试电子材料试样表面，并防止了尖端放电对测试的影响，增加了测试的稳定性，有助于提高测试精度。6、本技术通过向冷却液腔体内通入冷却液，通过冷却液的气化降低绝缘腔体内的温度，进而冷却待测试电子材料试样，可以测试较低温度下的电子材料电性能温度特性；通过在位于中间隔板下部的内壳体外部缠绕电热丝,通过电阻丝加热,升高绝缘腔体内的温度，进而加热待测试电子材料试样，可以测试较高温度下的电子材料电性能温度特性；能够实现_190°C?280°C温度范围内电子材料电性能温度特性的连续测试。7、本技术的实用性强，使用效果好，便于推广使用。综上所述，本技术结构简单，试样取放方便，夹持可靠，增加了测试的稳定性，有助于提高测试精度，能够实现宽温度范围内电子材料电性能温度特性的连续测试，实用性强，便于推广使用。下面通过附图和实施例，对本技术的技术方案做进一步的详细描述。【专利附图】【附图说明】图1为本技术的结构示意图。附图标记说明:I 一顶盖；2—内壳体；3—绝缘腔体；4 一绝缘材料管；5—弹簧；6—上电极；7一上绝缘材料环；8—下绝缘材料环；9一均压环；10—电热丝；11 一上电极导线孔；12—下电极导线孔；13—底板；14一外壳体；15—冷却液腔体；16—中间隔板；17—试样台；18—冷却液入口 ；19 一排气口；20—第一导线；21—第二导线；22—螺栓；23—待测试电子材料试样；24—绝缘螺钉。【具体实施方式】如图1所示，本 技术包括内壳体2、套装在内壳体2外部的外壳体14、连接在外壳体14顶部的顶盖I和连接在顶盖I底部的试样压紧机构，所述内壳体2内部一体设置有中间隔板16，所述内壳体2底部固定连接有底板13，位于中间隔板16上部的内壳体2内腔为绝缘腔体3，所述中间隔板16的中间位置处一体设置有用于放置电子材料试样的试样台17 ;位于中间隔板16下部的内壳体2内腔为冷却液腔体15，所述冷却液腔体15内装有冷本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种电子材料电性能温度特性测试用试样夹装装置，其特征在于：包括内壳体（2）、套装在内壳体（2）外部的外壳体（14）、连接在外壳体（14）顶部的顶盖（1）和连接在顶盖（1）底部的试样压紧机构，所述内壳体（2）内部一体设置有中间隔板（16），所述内壳体（2）底部固定连接有底板（13），位于中间隔板（16）上部的内壳体（2）内腔为绝缘腔体（3），所述中间隔板（16）的中间位置处一体设置有用于放置电子材料试样的试样台（17）；位于中间隔板（16）下部的内壳体（2）内腔为冷却液腔体（15），所述冷却液腔体（15）内装有冷却液，位于中间隔板（16）下部的内壳体（2）上设置有冷却液入口（18）和用于排放气化后的冷却液的排气口（19），所述冷却液入口（18）和排气口（19）分别位于内壳体（2）中轴线的两侧，所述冷却液入口（18）位于排气口（19）的斜下方，位于中间隔板（16）下部的内壳体（2）外部缠绕有电热丝（10）；所述试样压紧机构包括上电极（6）以及套装在上电极（6）下部的上绝缘材料环（7）和均压环（9），所述上电极（6）的上部套装有底部卡合在上绝缘材料环（7）底部的绝缘材料管（4），所述绝缘材料管（4）的顶部与顶盖（1）底部固定连接，所述顶盖（1）底端端面与上绝缘材料环（7）顶端端面之间设置有弹簧（5），所述均压环（9）与上电极（6）下部之间设置有套装在上电极（6）上的下绝缘材料环（8），所述均压环（9）的底端端面与上电极（6）的底端端面相平齐；所述顶盖（1）的中间位置处开有供连接上电极（6）与外部电源的第一导线（20）穿过的上电极导线孔（11），所述外壳体（14）上开有供连接内壳体（2）与外部电源的第二导线（21）穿过的下电极导线孔（12）。...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：史翔，杜慧玲，王发栋，陈剑，张冰洁，杨威，
申请(专利权)人：西安科技大学，
类型：新型
国别省市：陕西;61
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