【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及材料分析及电子测试设备领域的一种电阻温度特性测试装置。
技术介绍
现有技术中对金属电阻温度特性测试装置通常采用的是四探针或四线测试装置，如图1所示，即将被测试样一 I置于真空腔一 2内，真空腔一 2外为加热体3，加热体3及真空腔一 2置于一个保温结构中，试样一 I与信号恒流源一 4的两接线端相串联，电压表5的两探针分别与试样一 I相连，感温线6 —端与试样一 I相接触，另一端与加热控制器7相连，加热控制器7通过感温线6温度信号的反馈，控制加热体3的加热，这种装置利用外部加热的方式将各部件组合成一个隔热的保温结构8，再在不同温度下通过加热温控器7的温度测量值、电压表5测得的电压值、信号恒流源一 4的电流值，运用欧姆定律得出材料的电阻-温度特性。不足之处在于:这种方式对测试装置结构要求很高，很难完全满足实验要求；由于带有加热体3，因此整个测试装置的空间较大，使得真空腔一 2内的真空度也难以保证，热损失较大且影响热传导效率；需要人工计算电阻值，效率低，误差较大。
技术实现思路
本专利技术主要解决的技术问题是提供一种电阻温度特性测试装置，使其结构空...
【技术保护点】
一种电阻温度特性测试装置，包括有保温装置（9）和信号恒流源（10）；所述保温装置（9）内设有真空腔（11）；所述真空腔（11）内设有试样（12）；所述试样（12）与信号恒流源（10）相串联；其特征在于，所述电阻温度特性测试装置还包含有功率恒流源（13）、控制器（14）和测试传感器（15）；所述功率恒流源（13）上串联有接触器（K）；所述接触器（K）与控制器（14）相连且接触器（K）出线端与信号恒流源（10）相并联；所述测试传感器（15）与控制器（14）及试样（12）相连；所述控制器（14）控制接触器（K）接通功率恒流源（13），使其大电流通过试样（12）发热，所述测试传感器...
【技术特征摘要】
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