【技术实现步骤摘要】
本技术涉及能够避免硅块在少子寿命测试中产生表面损伤的装置，涉及应用到光伏领域。
技术介绍
目前少子寿命测试仪硅块摆放台为金属耐磨材料，这样可以保证在长时间的硅块测试过程中，测试台的水平度可以保持良好。但是从另外一个方面来看，金属摆放台在与硅块的相互接触过程中，很容易造成硅块崩边等损伤。崩边部分由于无法达到生产的质量要求而被切掉，无法进入下一道工序，从而导致硅料有效利用率的降低，造成了很大的浪费。为减少硅块表面损伤，要求操作人员在搬运、摆放及取走硅块的过程中必须小心谨慎，轻拿轻放，以保证硅块的质量，避免硅料损失。现采用的改进措施为在硅块摆放台上·粘接较厚的胶带，从而减缓硅块与金属测试台的硬接触，避免表面损伤，但是该种方法存在较多的缺陷。现有技术主要是在少子寿命测试仪摆放台上粘贴较厚的胶带，该种方式尽管可以减缓硅块与金属测试台的硬接触，一定程度上减少硅块的表面损伤，但是也存在一定的缺陷由于胶带粘接方式的无序性，导致胶带在金属测试台上每个地方的厚度不一致，进而无法保证硅块在测量过程中的水平度，探头位置距离硅块的高度也就无法保证一致，最终影响结果的准确性，造成硅料浪费或...
【技术保护点】
能够避免硅块在少子寿命测试中产生表面损伤的装置，其特征在于：包括一端开口且内部中空的保护套，所述保护套呈长方体形状，保护套上开口的尺寸小于该对应的端面的尺寸，保护套上与开口端相对的一端的外壁上贴合有耐磨层，且耐磨层的尺寸小于与其贴合的端面的尺寸。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：潘虹，匡生玲，刘强，兰洵，林洪峰，张凤鸣，
申请(专利权)人：天威新能源控股有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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